Mehr Qualität, weniger Testaufwand – Embedded JTAG Solutions für die moderne Elektronikfertigung

Steigende Baugruppenkomplexität, kürzere Taktzeiten und sinkende Testzugänglichkeit stellen die Elektronikproduktion vor neue Herausforderungen. Embedded JTAG Solutions ermöglichen eine schnelle und zuverlässige Fehlererkennung, pin-genaue Diagnose sowie High-Speed-Programmierung – und tragen so zu höherer Produktqualität, kürzeren Testzeiten und einer effizienteren Fertigung bei.

Erfahren Sie, wie moderne Inline-, Stand-alone- und Desktop-Lösungen den Produktionsprozess optimieren, Testabdeckung erhöhen und eine wirtschaftliche Alternative bzw. Ergänzung zu klassischen Testverfahren bieten.

Sprecher: Alexander Labrada Diaz

Das Webinar ist kostenfrei. Plätze sind limitiert.

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