Fehler gezielt finden statt lange suchen – Embedded JTAG Solutions für Analyse und Reparatur

Wenn Fehler auf komplexen elektronischen Baugruppen auftreten, sind schnelle Ursachenanalysen und präzise Diagnosen entscheidend. Embedded JTAG Solutions ermöglichen die pin-genaue Lokalisierung von Verbindungs-, Löt- und Funktionsfehlern – selbst bei eingeschränktem physischem Zugriff auf die Schaltung. Dadurch lassen sich Defekte gezielt analysieren, Reparaturprozesse beschleunigen und Ausfallzeiten reduzieren.

Erfahren Sie, wie integrierte Testressourcen von Boundary Scan, Prozessoren und FPGAs für eine effiziente Fehlerdiagnose genutzt werden können und wie moderne Embedded-Testverfahren die Analyse komplexer Baugruppen über den gesamten Produktlebenszyklus hinweg unterstützen.

Sprecher: Alexander Labrada Diaz

Das Webinar ist kostenfrei. Plätze sind limitiert.

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