EFX

Röntgeninspektion neu gedacht

Weltpremiere! Multi Line AXI: Röntgentechnologie mit einer neuen Geräteplattform.

Hohe Prüftiefe, optimierte Fertigung: 

Leistungsstarke Lösungen für AOI, SPI und CCI für High Mix/Low-Volume, Prototypen und Klein(st)serien. Schnelle Prüfprogrammerstellung, präzise Fehlerkennung und geringe Pseudofehlerrate zeichnen die Geräte der Multi Line-AOI-Plattform aus.

Preisgekrönt und rekordverdächtig

Werkerassistenzsystem Multi Line Assist. Kürzlich als Finalist des ElectroTEC Pioneer Awards ausgezeichnet. Das System kann an manuellen THT-Montagestationen oder in automatisierten Fertigungslinien eingesetzt werden. Wir zeigen Ihnen wie es geht.

Skalierbar und mit Streaming Mode - für schnelles Flashen

Der Flash-Programmer FlashFOX unterstützt Sie jetzt mit dynamischer Übertragung der Programmierdaten: Der Programmer holt sich zu programmierende Inhalte immer aktuell vom zentralen Server. Mittels vier integrierter unabhängiger Spannungsversorgungen kann der FlashFOX 2 auch komplexe Spannungsversorgungen für die zu programmierenden Mikrocontroller oder Flash-Bausteine realisieren.

Produktionstauglich und variabel

JULIET unlimited JTAG-Tester – ein professioneller, flexibler JTAG/Boundary Scan Tester, der die gesamte Systemelektronik und Prüflingsadaption in einem Komplettgerät kombiniert. Insgesamt sechs verschiedene Modelle decken sämtliche Produktionsanwendungen von der einfachen Testausführung bis zum kompletten Reparaturplatz mit grafischer Fehlervisualisierung ab und machen das System ideal für schnelles Prototyping und Losgrößen im unteren Volumenbereich. 

Weitere Programmpunkte

Workshop 
Dienstag, 06. Oktober von 11:00 - 11:45 Uhr

Prüflinge ohne Daten (CAD) Testen und Debuggen

Wenn es schnell gehen muss und keine CAD‑Daten verfügbar sind: In diesem Workshop zeigen wir live am Prüfling, wie Entwickler im Labor schnell auf ihre Hardware zugreifen können, ohne zuvor CAD‑Daten zu importieren oder Modelle zu erstellen. Wir demonstrieren typische Reparaturszenarien, bei denen Signale direkt gemessen oder gesetzt werden müssen, sowie Fälle, in denen schlicht keine oder keine passenden Designinformationen vorliegen. Die Teilnehmenden erleben, wie unsere Software solche Situationen effizient unterstützt und Tests auch unter Zeitdruck zuverlässig möglich macht. 

Referent: Alexander Labrada Diaz

Podiumsdiskussion 
Dienstag, 06. Oktober von 16:00 - 16:30 Uhr

Wer findet den Fehler wirklich? – Qualität zwischen Wahrheit und Illusion 

In der Elektronikfertigung sichern vielfältige Prüfverfahren die Qualität – von AOI und AXI bis hin zu In-Circuit-Test, Boundary Scan und Funktionstest. Doch welche Methode liefert tatsächlich die höchste Fehlerabdeckung, und wo entstehen unnötige Kosten oder redundante Prüfungen? In dieser Podiumsdiskussion treffen Experten unterschiedlicher Prüftechnologien aufeinander und diskutieren offen ihre Stärken, Schwächen und Grenzen. Die aktive Mitarbeit der Zuhörer ist ausdrücklich erwünscht! 

Moderatoren: Enrico Zimmermann und Susann Fischer 

BarTalk
Donnerstag, 08. Oktober von 10:00 - 10:30 Uhr 

Ein Blick hinter die Kulissen – vom komplexen AOI-Projekt zum gemeinsamen Erfolg 

Wie wird aus einem komplexen AOI-Projekt eine echte Erfolgsgeschichte? Erleben Sie kompakt, wie Projekte initiiert, Lieferanten ausgewählt und Herausforderungen gemeinsam gemeistert werden – inklusive Tipps für einen möglichst reibungslosen Ablauf und der Rolle eines guten Lastenhefts. 

Im Mittelpunkt steht der gemeinsame Austausch: Freuen Sie sich auf eine offene Diskussion, in der Sie aktiv Ihre eigenen Erfahrungen einbringen, Fragen stellen und voneinander lernen können. Praxisnah, interaktiv und voller Impulse für Ihre Projekte. 

Referent: Jens Kokott