Neue Module zum Test von CAN-FD und Ethernet-Schnittstellen

Aufsteckmodule für SCANFLEX II Interface Tester Master im Fertigungstest

Für den Test von Schnittstellen im Fertigungsprozess sind zwei neue Aufsteckmodule verfügbar. Dadurch lässt sich der SCANFLEX II Interface Tester Master (SFX II ITM) auch zum Testen von CAN-FD und Ethernet-Schnittstellen im Fertigungsprozess nutzen. 

Das ITMC LAN 1G unterstützt Standard 10/100/1000 Mbit/s Ethernet (IEEE802.3) Schnittstellen. Dabei werden sowohl die automatische Verbindungsaufnahme (Autonegotiation) als auch die definierte Geschwindigkeitsvorgabe (z.B. um 100Mbit/s an einer 1000Mbit/s Schnittstelle zu erzwingen) unterstützt, ebenso wie die Protokolle ARP, TCP/IP, ICMP und DHCP (als Client). Mit Hilfe des ITMC LAN 1G können funktionale Tests wie Verbindungsaufnahme, Ping-Test und Aufbau einer Port-Verbindung durchgeführt werden. Darüber hinaus kann das ITMC LAN 1G auch in einen externen Loopback Modus geschaltet werden. Damit können auch Tests gezielt vom Prüfling aus erfolgen, um beispielsweise Durchsatz- oder Fehlerratentests auszuführen. Durch diese verschiedenen Konfigurationsmöglichkeiten ergibt sich eine signifikante Verbesserung der Testgeschwindigkeit und der Testtiefe im Bereich der funktionalen Prüfung von Ethernet-Schnittstellen.

Insbesondere für den Automotive-Bereich geeignet ist das neue ITMC CAN FD/LIN. Es unterstützt dabei sowohl die klassischen CAN 2.0 Schnittstellen als auch die neueren CAN-FD Schnittstellen (ISO 11898-1 und BOSCH Standard) mit umschaltbarer Baudrate bis zu 5 Mbit/s. Dabei können bis zu 128 Standard Identifier und 64 Extended Identifier mit entsprechenden Maskenfiltern konfiguriert werden, um einen gezielten Nachrichtenempfang zu ermöglichen. Zusätzlich  gibt es auf dem ITMC CAN FD/LIN eine LIN Schnittstelle, die beide LIN-Versionen (1.3 und 2.0) unterstützt. Das ITMC CAN FD/LIN kann sowohl als Master als auch als Slave betrieben werden. Über die eingebauten Schedulerspeicher können komplexe Abläufe zum Senden und Empfangen gezielt nachgestellt werden. Beide Schnittstellen (LIN und CAN) können auch gleichzeitig betrieben werden, um einen angeschlossenen Prüfling in kürzerer  Zeit zu prüfen, als das bisher mit einzelnen Tests und einzelner Schnittstellenhardware möglich war. Dadurch ergibt sich eine signifikante Verbesserung der Testgeschwindigkeit und der Testtiefe im Bereich moderner Automotive Bus-Interfaces.

Gerade für den Fertigungstest im Automotive-Bereich sind einfache, aber funktionale Schnittstellentest zur Prüfung der Baugruppe während der Fertigung unabdingbar. Die Kombination von Boundary-Scan-Test, Emulationstest und funktionalem Schnittstellentest ermöglicht es, bei der Fertigungsprüfung der Baugruppe alle notwendigen Testverfahren in einem Ablauf und mit einem Testsystem auszuführen und auszuwerten. Zusätzliche Testplätze und -systeme sind dafür nicht notwendig. Durch die Unterstützung von bis zu 8 ITMCs können auch mehrere Prüflinge oder Schnittstellen parallel geprüft werden. Die einfache Testprogrammerstellung mit vorgefertigten Makros erlaubt es dem Anwender, auch ohne große Kenntnisse der Ethernet, CAN und LIN Busse, diese Tests durchzuführen. Das ist  gerade für Baugruppenfertiger ein nicht zu unterschätzender  Vorteil. Aber auch für die Verwendung in der Entwicklung lassen sich durch die offene Softwareplattform sehr einfach gezielte Testprogramme schreiben und  sofort ausführen.

Aufsteckkarten für Schnittstellentest CAN-FD und LAN

Aufsteckkarten für Schnittstellentest CAN-FD und LAN

Created by Matthias Müller | | Embedded JTAG Solutions

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