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Aktuelles zu unseren Embedded JTAG Solutions
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Effiziente Testabdeckungsanalyse mit KI-Unterstützung
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Im Fokus: Smarte JTAG-Lösungen und neue Inspektionsplattform
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TIC-Erweiterungsmodule für SCANFLEX II Controller-Familie
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Erhöhung von Testabdeckung und -tiefe durch interaktive Tests
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Boundary Scan und Automotive Test Solutions auf der embedded world 2024
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Innovative JTAG Integration für Seica Flying Prober
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FlashFOX auf dem Siegerpodest des productronica innovation awards
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Innovationskraft trifft Vielfalt auf der productronica
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Erstklassige Teststrategien setzen Akzente in der MOTORWORLD
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Technik zum Anfassen und individuelles Vortragsprogramm auf ETFN
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Neues SCANFLEX TIC Modul für die Programmierung von Mikrocontrollern
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Neueste Test- und Inspektionslösungen auf der SMTconnect
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SYSTEM CASCON 4.9.0 erhöht Geschwindigkeit, Flexibilität und Benutzerfreundlichkeit
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Technologietag EMIL macht Electronic Manufacturing & Inspektions-Lösungen erlebbar
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Highlights der Testtechnologien von Boundary Scan bis Automotive Test auf der embedded world
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GÖPEL electronic eröffnet Niederlassung in Malaysia
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OiTec wird neuer GATE-Partner für GÖPEL electronic
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SCANFLEX II Controller setzt neue Maßstäbe
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Neueste Test- und Inspektionslösungen auf der electronica
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Neue Generation Flash Programmer für die Produktion
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Emulation serieller Bus-Interfaces für flexiblen Test und Programmierung
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TRI-Testsysteme können um Embedded JTAG Solutions erweitert werden
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Ultra-kompakter JTAG/Boundary-Scan-Controller für Labor und Produktion
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Sicherheitslücke log4j - GÖPEL electronic Produkte geprüft
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Neue SYSTEM CASCON Software-Version mit zahlreichen Features
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SCANFLEX II Controller jetzt auch als PXIe-Variante
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Neue JEDOS-Generation für SoC-Funktionstest
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Integrierter Test von digitalen und analogen I/O-Signalen
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MultiPanel und VIVA 64 Bit Support für Seica-Integration
| Unternehmen
productronica 2021: smarte Test- und Inspektionslösungen
| Integration
Embedded JTAG Solutions für SPEA4020
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Emulationstechnologie VarioTAP für zwei weitere Prozessoren von STMicroelectronics verfügbar
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Neue Test- und Programmierlösung für die Elektronikfertigung
| Veranstaltungen
GÖPEL electronic stages test technology event in digital guise
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Neuer JTAG/Boundary Scan Controller für Test und Programmierung in hohem Takt
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JTAG/Boundary Scan Integration in Takaya 1600FD mit Multiprobe-Option
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Neues kosteneffizientes JTAG-Technologie-Bündel für den Einstieg
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Funktionale Prüfung von USB3-Schnittstellen
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Testoption für Marvell Automotive Ethernet Switches
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RAPIDO mit neuen Features
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Neue Module zum Test von CAN-FD und Ethernet-Schnittstellen
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Automatischer Verbindungstest von Nicht-Boundary-Scan-fähigen Mikrocontrollern
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Neuer JTAG/Boundary Scan Controller für Einsteiger
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Neue Test- und Programmieroptionen für Prozessoren von Texas Instruments, Renesas und Microchip
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Multi-Panel-Programmierung im Takaya Flying-Prober durch Integrationslösung
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Neues TIC-Erweiterungsmodul für SCANFLEX II Controller-Familie
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Embedded JTAG Solutions kombiniert mit Seica Compact ICT
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Neuer Test Coverage Analyzer erhöht Testabdeckung
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Neue VarioTAP-Modelle für Texas Instruments und NXP-Prozessoren
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Neue SCANFLEX II TAP Interface Card (TIC) für volle 5V-Kompatibilität
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ADAS-SoC als Test- und Programmierinstrument nutzen
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Emulationstechnologie VarioTAP für zwei weitere Prozessoren von Texas Instruments verfügbar
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Embedded JTAG Solutions für SPEA4080
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Nachträgliche Fehlerdiagnose für SYSTEM CASCON
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Schnittstellentester für modernste Bus-Interfaces
| Integration
JTAG/Boundary Scan für Spectrum ICT von Teradyne
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Renesas und NXP-Prozessoren als Instrumente zum Testen und Programmieren nutzen
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Ausgezeichnete Testinstrumente aus der Cloud: Embedded Award für ChipVORX Synthetic Instruments
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Neue SYSTEM CASCON Version mit Testinstrumenten aus der Cloud
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Neue Testmodule zum Funktionstest von DDR2-SO-DIMM-Speichern
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JTAG/Boundary Scan Controller für den industriellen Produktionseinsatz
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JULIET Testsystem geht in die dritte Generation
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VarioTAP für Renesas RH850/F1K
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Neueste Entwicklungen auf der electronica 2018
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Erweiterungsmodul für SCANFLEX II ermöglicht Analogmessungen
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Prozessor-Emulation für Intel Arria 10 SoC
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GÖPEL electronic erweitert VarioTAP®-Emulationstest
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WLAN-Interface für Boundary Scan Controller “SCANFLEX II Cube”
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Neue Version der SYSTEM CASCON Software steigert Testdurchsatz
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Neue Funktionen für Baugruppen-Produktionstester JULIET
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Hohe Anzahl von analogen Spannungen schnell und einfach messen
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Altera Cyclone V FPGAs gegen potenzielle Angreifer schützen
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VarioTAP-Emulationstest erweitert auf Automotive-SoC R-Car M3 von Renesas
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Testlösungen für Elektronik- und Automotive-Anwendungen auf der embedded world 2018
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GÖPEL electronic erschließt In-System-Emulation für Blackfin-Mikrocontroller von Analog Devices
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Vereinfachtes Testen und Programmieren von Cypress PSoC 4 mit VarioTAP-Technologie
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Neues Modul zum Boundary Scan Test von DDR4 DIMM-Sockeln für hohe Prüfabdeckung von Mainboards
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Flash In-System-Programmierung (ISP) über den Automotive-Bus
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Test- und Emulation erweitert auf Infineon-Microcontroller für autonomes und elektrifiziertes Fahren
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Neues Test- und Programmierinterface
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Neue Test- und Programmieroptionen für Prozessoren von Texas Instruments und Renesas
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Effizientes und günstiges Programmieren von Cypress EZ-USB FX 3 Bausteinen
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ATI wird Testhausdienstleister für Produktionstester von GÖPEL electronic
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Schutz und Sicherheit für Xilinx Ultrascale FPGAs
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SCANFLEX II CUBE: Neue Generation von JTAG/Boundary-Scan-Controllern
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ChipVORX-Technologie für Chip Embedded Instruments auf Intel® MAX® 10 FPGAs erweitert
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Prüftechnologie-Forum zur Qualitätssicherung in allen Bereichen der Elektronikfertigung
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Debuggen und Testen der Zynq UltraScale+ Multi-Prozessor-SoCs von Xilinx
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VarioTAP-Emulationstest erweitert auf Automotive-SoC R-Car H3 von Renesas
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Kombinierte Test- und Programmiertechnologien für Intel Arria 10 SoCs
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Test- und Programmierlösungen für Embedded-Elektronik der Zukunft
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Enics Group kooperiert mit GÖPEL electronic
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Test- und Diagnose-Betriebssystem JEDOS verfügbar für i.MX6-Prozessoren
| Bit Error Rate Test (BERT)
INGUN und GÖPEL electronic kooperieren für vollständigen Test von High-Speed Schnittstellen "Made in Germany"
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Die Übertragungsqualität von Highspeed-Link-Kabeln testen
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Test- und Inspektionslösungen zur electronica 2016
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Erweiterung der ChipVORX-Technologie für Chip Embedded Instruments auf Arria-V-SoC-Serie von Altera
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Test und Emulation auf Bluetooth-SoC-Controller von Nordic Semiconductor erweitert
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