Aktuelles | Embedded JTAG Solutions - GÖPEL electronic

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i.MX6-Familie von NXP

07.12.2016 | Embedded JTAG Solutions

Test- und Diagnose-Betriebssystem JEDOS verfügbar für i.MX6-Prozessoren

ChipVORX Modul mit USB 3.0 Adapter von INGUN

10.11.2016 | Bit Error Rate Test (BERT)

INGUN und GÖPEL electronic kooperieren für vollständigen Test von High-Speed Schnittstellen "Made in Germany"

GCaT Gigabit-Kabeltester

09.11.2016 | Embedded JTAG Solutions

Die Übertragungsqualität von Highspeed-Link-Kabeln testen

Boris Opfer (links, SYSTECH Europe) und Alexander Beck (rechts, GÖPEL electronic) realisieren die Integration von Boundary Scan im Flying Probe Testsystem APT-1400F

07.11.2016 | Integration

Kombinierte Testverfahren: JTAG/Boundary Scan für Flying Prober von TAKAYA verfügbar

electronica 2016

06.10.2016 | Unternehmen

Test- und Inspektionslösungen zur electronica 2016

SPEA 4060 Flying Probe Tester

03.10.2016 | Integration

Verbesserter Produktionsdurchsatz in SPEA Flying-Probe-System durch Erweiterung der Boundary-Scan-Integration

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Ulrike Ahlf

Frau Ulrike Ahlf

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