Aktuelles | Embedded JTAG Solutions - GÖPEL electronic

Support-Hotline: 03641-6896-699

Rückruf-Service

FlashFOX mit externen PODs

04/23/2025 | Embedded JTAG Solutions

Flexibles und schnelles Programmieren von Flash-Bausteinen via Streaming

embedded world mit standnummer von göpel electronic

02/26/2025 | Embedded JTAG Solutions

Zukunftsweisende Testlösungen auf der Embedded World

ElectroTEC Pioneer Award 2024

12/18/2024 | Embedded JTAG Solutions

FlashFOX für ElectroTEC Pioneer Award 2024 nominiert

FlashFOX

11/18/2024 | Embedded JTAG Solutions

FlashFOX bringt frischen Wind: neue Features und 4-Kanal-Version

SPEA 3030Core

11/08/2024 | Integration

In Circuit Test und Embedded JTAG Solutions effizient kombiniert

smartTCA

10/22/2024 | Embedded JTAG Solutions

Effiziente Testabdeckungsanalyse mit KI-Unterstützung

electronica 2024

09/30/2024 | Embedded JTAG Solutions

Im Fokus: Smarte JTAG-Lösungen und neue Inspektionsplattform

TIC-Erweiterungsmodule für SCANFLEX II Controller-Familie

09/27/2024 | Embedded JTAG Solutions

TIC-Erweiterungsmodule für SCANFLEX II Controller-Familie

zusätzliches EJS-Feature für Acculogic FLS 980Dxi

06/28/2024 | Embedded JTAG Solutions

Erhöhung von Testabdeckung und -tiefe durch interaktive Tests

GÖPEL electronic auf der SMTconnect

04/22/2024 | Veranstaltungen

Neueste Test- und Inspektionslösungen von GÖPEL electronic auf der SMTconnect 2024

Test Convention 2024

03/19/2024 | Veranstaltungen

Test Convention 2024 – Technology meets Quality beim Networking-Event in der Imaginata Jena

Boundary Scan und Automotive Test Solutions

03/06/2024 | Embedded JTAG Solutions

Boundary Scan und Automotive Test Solutions auf der embedded world 2024

JTAG/Boundary Scan meets Automotive Test

03/05/2024 | Roadshow

JTAG/Boundary Scan meets Automotive Test in der MOTORWORLD Köln und München

National Sales Development Manager USA

11/27/2023 | Unternehmen

GOEPEL Electronics LLC stärkt sein Team mit erfahrenem Vertriebsexperten

PicoTAP ATE

11/20/2023 | Embedded JTAG Solutions

Innovative JTAG Integration für Seica Flying Prober

award der Messe productronica 2023

11/15/2023 | Embedded JTAG Solutions

FlashFOX auf dem Siegerpodest des productronica innovation awards

14. bis 17. November, Stand A2.239

10/04/2023 | Embedded JTAG Solutions

Innovationskraft trifft Vielfalt auf der productronica

Veranstaltungsreihe rund um elektrische Teststrategien

08/23/2023 | Embedded JTAG Solutions

Erstklassige Teststrategien setzen Akzente in der MOTORWORLD

8. ETFN Elektronik-Technologie-Forum Nord in Hamburg

04/27/2023 | Embedded JTAG Solutions

Technik zum Anfassen und individuelles Vortragsprogramm auf ETFN

SCANFLEX® TIC-Modul

04/13/2023 | Embedded JTAG Solutions

Neues SCANFLEX TIC Modul für die Programmierung von Mikrocontrollern

SMTconnect 2023

03/27/2023 | Embedded JTAG Solutions

Neueste Test- und Inspektionslösungen auf der SMTconnect

aktuelle Version 4.9.0. der Systemsoftware SYSTEM CASCON zur automatischen Testprogrammgenerierung

03/20/2023 | Embedded JTAG Solutions

SYSTEM CASCON 4.9.0 erhöht Geschwindigkeit, Flexibilität und Benutzerfreundlichkeit

Technologietag EMIL

02/13/2023 | Embedded JTAG Solutions

Technologietag EMIL macht Electronic Manufacturing & Inspektions-Lösungen erlebbar

embedded world 2023

02/10/2023 | Embedded JTAG Solutions

Highlights der Testtechnologien von Boundary Scan bis Automotive Test auf der embedded world

Penang, Malaysia

01/19/2023 | Embedded JTAG Solutions

GÖPEL electronic eröffnet Niederlassung in Malaysia

OiTec unterstützt das GÖPEL-Anwendungsteam

12/20/2022 | Embedded JTAG Solutions

OiTec wird neuer GATE-Partner für GÖPEL electronic

neue SFX II Produktreihe von JTAG/Boundary Scan Controllern

11/22/2022 | Embedded JTAG Solutions

SCANFLEX II Controller setzt neue Maßstäbe

electronica 2022

11/11/2022 | Embedded JTAG Solutions

Neueste Test- und Inspektionslösungen auf der electronica

FlashFOX®

11/10/2022 | Embedded JTAG Solutions

Neue Generation Flash Programmer für die Produktion

X-BUS Emulation

06/20/2022 | Embedded JTAG Solutions

Emulation serieller Bus-Interfaces für flexiblen Test und Programmierung

GÖPEL electronic auf der embedded world

06/08/2022 | Unternehmen

Neue Technologien auf der embedded world 2022 in Nürnberg

JTAG/Boundary Scan und Embedded JTAG Solutions für TRI TR5001 SII Series

05/24/2022 | Embedded JTAG Solutions

TRI-Testsysteme können um Embedded JTAG Solutions erweitert werden

PicoTAP ATE

05/06/2022 | Embedded JTAG Solutions

Ultra-kompakter JTAG/Boundary-Scan-Controller für Labor und Produktion

Intelligente Test- und Inspektionslösungen

03/18/2022 | Unternehmen

Intelligente Inspektions- und Testlösungen auf der SMT Connect

GÖPEL Produkte geprüft auf log4j

12/21/2021 | Embedded JTAG Solutions

Sicherheitslücke log4j - GÖPEL electronic Produkte geprüft

SYSTEM CASCON

11/19/2021 | Embedded JTAG Solutions

Neue SYSTEM CASCON Software-Version mit zahlreichen Features

SFX II PXIe C4/FXT

11/18/2021 | Embedded JTAG Solutions

SCANFLEX II Controller jetzt auch als PXIe-Variante

JEDOS II

11/17/2021 | Embedded JTAG Solutions

Neue JEDOS-Generation für SoC-Funktionstest

CION-LX Module/FXT32

11/16/2021 | Embedded JTAG Solutions

Integrierter Test von digitalen und analogen I/O-Signalen

Seica Integration

11/01/2021 | Embedded JTAG Solutions

MultiPanel und VIVA 64 Bit Support für Seica-Integration

GÖPEL electronic auf der productronica 2021

10/11/2021 | Unternehmen

productronica 2021: smarte Test- und Inspektionslösungen

SYSTEM CASCON Integration in SPEA4020

03/09/2021 | Integration

Embedded JTAG Solutions für SPEA4020

VarioTAP

02/24/2021 | Embedded JTAG Solutions

Emulationstechnologie VarioTAP für zwei weitere Prozessoren von STMicroelectronics verfügbar

BARCUDA VP230

01/22/2021 | Embedded JTAG Solutions

Neue Test- und Programmierlösung für die Elektronikfertigung

Test Convention connect

01/05/2021 | Veranstaltungen

GÖPEL electronic stages test technology event in digital guise

SFX II BLADE 8 RMx1/2

12/10/2020 | Embedded JTAG Solutions

Neuer JTAG/Boundary Scan Controller für Test und Programmierung in hohem Takt

JTAG/Boundary Scan Integration in Takaya1600FD

10/20/2020 | Embedded JTAG Solutions

JTAG/Boundary Scan Integration in Takaya 1600FD mit Multiprobe-Option

SCANBOOSTER II Designer Studio

07/17/2020 | Embedded JTAG Solutions

Neues kosteneffizientes JTAG-Technologie-Bündel für den Einstieg

ITMC USB3 Gen1 Host Modul

06/11/2020 | Embedded JTAG Solutions

Funktionale Prüfung von USB3-Schnittstellen

VarioTAP für Marvell 88Q5050

05/27/2020 | Embedded JTAG Solutions

Testoption für Marvell Automotive Ethernet Switches

RAPIDO

04/30/2020 | Embedded JTAG Solutions

RAPIDO mit neuen Features

Aufsteckkarten für Schnittstellentest CAN-FD und LAN

03/12/2020 | Embedded JTAG Solutions

Neue Module zum Test von CAN-FD und Ethernet-Schnittstellen

Emulation Based Interconnection Test EmuBIT

02/24/2020 | Embedded JTAG Solutions

Automatischer Verbindungstest von Nicht-Boundary-Scan-fähigen Mikrocontrollern

JTAG/Boundary Scan Controller für den Einstieg

02/24/2020 | Embedded JTAG Solutions

Neuer JTAG/Boundary Scan Controller für Einsteiger

Neue VarioTAP-Modelle

11/18/2019 | Embedded JTAG Solutions

Neue Test- und Programmieroptionen für Prozessoren von Texas Instruments, Renesas und Microchip

Takaya Panel Programmierung

11/18/2019 | Embedded JTAG Solutions

Multi-Panel-Programmierung im Takaya Flying-Prober durch Integrationslösung

SFX II TIC120/LX Erweiterungsmodul

11/18/2019 | Embedded JTAG Solutions

Neues TIC-Erweiterungsmodul für SCANFLEX II Controller-Familie

JTAG/Boundary Scan Integration in SEICA compact

11/18/2019 | Embedded JTAG Solutions

Embedded JTAG Solutions kombiniert mit Seica Compact ICT

Test Coverage Analyzer

10/14/2019 | Embedded JTAG Solutions

Neuer Test Coverage Analyzer erhöht Testabdeckung

VarioTAP

09/30/2019 | Embedded JTAG Solutions

Neue VarioTAP-Modelle für Texas Instruments und NXP-Prozessoren

SCANFLEX II TIC01 - TAP Interface Card 01

08/20/2019 | Embedded JTAG Solutions

Neue SCANFLEX II TAP Interface Card (TIC) für volle 5V-Kompatibilität

VarioTAP

06/25/2019 | Embedded JTAG Solutions

ADAS-SoC als Test- und Programmierinstrument nutzen

VarioTAP

05/03/2019 | Embedded JTAG Solutions

Emulationstechnologie VarioTAP für zwei weitere Prozessoren von Texas Instruments verfügbar

Embedded JTAG Solutions Integration für SPEA4080

05/03/2019 | Embedded JTAG Solutions

Embedded JTAG Solutions für SPEA4080

SYSTEM CASCON

05/02/2019 | Embedded JTAG Solutions

Nachträgliche Fehlerdiagnose für SYSTEM CASCON

SMTConnect 2019

04/17/2019 | Embedded JTAG Solutions

GÖPEL electronic zeigt Lösungen zur Qualitätssicherung für kleine und mittelgroße Fertiger auf der SMTconnect

Schnittstellentester SFX II ITM/8

04/01/2019 | Embedded JTAG Solutions

Schnittstellentester für modernste Bus-Interfaces

JTAG/Boundary Scan für Teradyne ICT

03/27/2019 | Integration

JTAG/Boundary Scan für Spectrum ICT von Teradyne

VarioTAP

03/12/2019 | Embedded JTAG Solutions

Renesas und NXP-Prozessoren als Instrumente zum Testen und Programmieren nutzen

GÖPEL electronic gewinnt embedded award 2019

03/01/2019 | Embedded JTAG Solutions

Ausgezeichnete Testinstrumente aus der Cloud: Embedded Award für ChipVORX Synthetic Instruments

SYSTEM CASCON 4.6.9

02/25/2019 | Embedded JTAG Solutions

Neue SYSTEM CASCON Version mit Testinstrumenten aus der Cloud

DDR2-SO-DIMM-Tester

02/19/2019 | Embedded JTAG Solutions

Neue Testmodule zum Funktionstest von DDR2-SO-DIMM-Speichern

SCANFLEX II BLADE 4

11/08/2018 | Embedded JTAG Solutions

JTAG/Boundary Scan Controller für den industriellen Produktionseinsatz

Testen & Programmieren in der Elektronikfertigung

11/05/2018 | Embedded JTAG Solutions

JULIET Testsystem geht in die dritte Generation

VarioTAP für Renesas RH850/F1K

10/24/2018 | Embedded JTAG Solutions

VarioTAP für Renesas RH850/F1K

GÖPEL electronic auf der electronica 2018

10/04/2018 | Embedded JTAG Solutions

Neueste Entwicklungen auf der electronica 2018

Analogmessungen mit SCANFLEX II

09/28/2018 | Embedded JTAG Solutions

Erweiterungsmodul für SCANFLEX II ermöglicht Analogmessungen

Intel Arria 10 Emulation

08/30/2018 | Embedded JTAG Solutions

Prozessor-Emulation für Intel Arria 10 SoC

Renesas RZ/N1 S/L, NXP LPC54XXX und i.MX8

08/06/2018 | Embedded JTAG Solutions

GÖPEL electronic erweitert VarioTAP®-Emulationstest

Embedded JTAG Solutions Controller SCANFLEX II Cube mit WLAN-Interface

07/16/2018 | Embedded JTAG Solutions

WLAN-Interface für Boundary Scan Controller “SCANFLEX II Cube”

Embedded JTAG Solutions Systemsoftware

06/19/2018 | Embedded JTAG Solutions

Neue Version der SYSTEM CASCON Software steigert Testdurchsatz

Embedded JTAG Solutions Desktop-Tester

06/01/2018 | Embedded JTAG Solutions

Neue Funktionen für Baugruppen-Produktionstester JULIET

SFX/VPC-AMC128 (Analog Measurement Card)

05/28/2018 | Embedded JTAG Solutions

Hohe Anzahl von analogen Spannungen schnell und einfach messen

Halle 4A, Stand 222

04/13/2018 | Unternehmen

Frischer Wind für Test- und Inspektionslösungen auf der SMT/Hybrid/Packaging 2018

Altera Cyclone V FPGA

04/03/2018 | Embedded JTAG Solutions

Altera Cyclone V FPGAs gegen potenzielle Angreifer schützen

R-Car M3 SoCs (System-on-Chip) von Renesas

02/26/2018 | Embedded JTAG Solutions

VarioTAP-Emulationstest erweitert auf Automotive-SoC R-Car M3 von Renesas

Digitaltest Condor MTS505 Flying Probe Tester

02/19/2018 | Integration

Kombinierter Flying-Probe-Test und JTAG/Boundary Scan für Mehrfachnutzen

GÖPEL electronic auf der embedded world 2018

02/14/2018 | Embedded JTAG Solutions

Testlösungen für Elektronik- und Automotive-Anwendungen auf der embedded world 2018

ADSP-BF

01/30/2018 | Embedded JTAG Solutions

GÖPEL electronic erschließt In-System-Emulation für Blackfin-Mikrocontroller von Analog Devices

Test und Validierung von Cypress PSoC 4

01/04/2018 | Embedded JTAG Solutions

Vereinfachtes Testen und Programmieren von Cypress PSoC 4 mit VarioTAP-Technologie

Sparrow MTS30 ICT

11/30/2017 | Integration

Embedded JTAG Solutions Integration für Sparrow MTS30 ICT von Digitaltest

CION-LX Module DIMM288-4

11/09/2017 | Embedded JTAG Solutions

Neues Modul zum Boundary Scan Test von DDR4 DIMM-Sockeln für hohe Prüfabdeckung von Mainboards

Serie 61

11/09/2017 | Embedded JTAG Solutions

Flash In-System-Programmierung (ISP) über den Automotive-Bus

Flying Probe Tester 4050 von SPEA

11/08/2017 | Integration

Erhöhte Prüfabdeckung für SPEA 4050 Flying Probe Testsystem

AURIX TC399 im LFBGA-Gehäuse

11/03/2017 | Embedded JTAG Solutions

Test- und Emulation erweitert auf Infineon-Microcontroller für autonomes und elektrifiziertes Fahren

GÖPEL electronic productronica 2017

10/09/2017 | Messe

productronica 2017: Flexibilität und Zeitersparnis bei Test und Inspektion von Baugruppen

TIC022-MUX/SR

09/28/2017 | Embedded JTAG Solutions

Neues Test- und Programmierinterface

Prozessoremulation VarioTAP

08/17/2017 | Embedded JTAG Solutions

Neue Test- und Programmieroptionen für Prozessoren von Texas Instruments und Renesas

Electronics Design Show in Coventry (UK)

08/16/2017 | Messe

Embedded JTAG Solutions zur Electronics Design Show

Cypress EZ-USB FX 3 USB 3.0-Controller (Quelle: Cypress)

07/18/2017 | Embedded JTAG Solutions

Effizientes und günstiges Programmieren von Cypress EZ-USB FX 3 Bausteinen

Thomas Wenzel (Links, Geschäftsführer der Abteilung Embedded JTAG Solutions bei GÖPEL electronic) mit Herbert Reitmeier (Geschäftsführer der A.T.i. Software GmbH) auf der Messe SMT/Hybrid/Packaging 2017 in Nürnberg

06/19/2017 | Embedded JTAG Solutions

ATI wird Testhausdienstleister für Produktionstester von GÖPEL electronic

Embedded JTAG Solutions Software Suite SYSTEM CASCON

06/13/2017 | Embedded JTAG Solutions

Schutz und Sicherheit für Xilinx Ultrascale FPGAs

SCANFLEX II Cube

05/31/2017 | Embedded JTAG Solutions

SCANFLEX II CUBE: Neue Generation von JTAG/Boundary-Scan-Controllern

Architektur der MAX 10 FPGAs (Quelle: Intel)

05/18/2017 | Embedded JTAG Solutions

ChipVORX-Technologie für Chip Embedded Instruments auf Intel® MAX® 10 FPGAs erweitert

Teradyne TestStation TSi-052 mit Embedded JTAG Solutions Integration

05/17/2017 | Integration

Embedded JTAG Solutions integriert in Teradyne In-Circuit-Plattform

Vario Line · 3D

04/24/2017 | Messe

3D-Lötstellenvermessung und zentrale Verifikation von Inspektionsergebnissen auf der SMT Hybrid Packaging 2017

Prüftechnologie-Forum 2017

03/23/2017 | Embedded JTAG Solutions

Prüftechnologie-Forum zur Qualitätssicherung in allen Bereichen der Elektronikfertigung

ZYNQ UltraScale+

03/22/2017 | Embedded JTAG Solutions

Debuggen und Testen der Zynq UltraScale+ Multi-Prozessor-SoCs von Xilinx

VarioTAP

03/20/2017 | Embedded JTAG Solutions

VarioTAP-Emulationstest erweitert auf Automotive-SoC R-Car H3 von Renesas

SPEA 4060 Flying Probe Tester

03/16/2017 | Integration

Unterstützung von Embedded JTAG Solutions für analoge Pinkarten im SPEA4060 Flying Probe Tester

Arria 10 SoCs (System-on-Chip) von Intel®

03/15/2017 | Embedded JTAG Solutions

Kombinierte Test- und Programmiertechnologien für Intel Arria 10 SoCs

Test- und Programmierlösungen für die Elektronik der Zukunft

03/14/2017 | Embedded JTAG Solutions

Test- und Programmierlösungen für Embedded-Elektronik der Zukunft

GCaT Kabeltester für High Speed Link-Kabel

02/21/2017 | Unternehmen

Neue Maßstäbe für leistungsfähiges Testen und Programmieren

Enics Group kooperiert mit GÖPEL electronic

01/16/2017 | Embedded JTAG Solutions

Enics Group kooperiert mit GÖPEL electronic

i.MX6-Familie von NXP

12/07/2016 | Embedded JTAG Solutions

Test- und Diagnose-Betriebssystem JEDOS verfügbar für i.MX6-Prozessoren

ChipVORX Modul mit USB 3.0 Adapter von INGUN

11/10/2016 | Bit Error Rate Test (BERT)

INGUN und GÖPEL electronic kooperieren für vollständigen Test von High-Speed Schnittstellen "Made in Germany"

GCaT Gigabit-Kabeltester

11/09/2016 | Embedded JTAG Solutions

Die Übertragungsqualität von Highspeed-Link-Kabeln testen

Boris Opfer (links, SYSTECH Europe) und Alexander Beck (rechts, GÖPEL electronic) realisieren die Integration von Boundary Scan im Flying Probe Testsystem APT-1400F

11/07/2016 | Integration

Kombinierte Testverfahren: JTAG/Boundary Scan für Flying Prober von TAKAYA verfügbar

electronica 2016

10/06/2016 | Unternehmen

Test- und Inspektionslösungen zur electronica 2016

SPEA 4060 Flying Probe Tester

10/03/2016 | Integration

Verbesserter Produktionsdurchsatz in SPEA Flying-Probe-System durch Erweiterung der Boundary-Scan-Integration

09/07/2016 | Embedded JTAG Solutions

Erweiterung der ChipVORX-Technologie für Chip Embedded Instruments auf Arria-V-SoC-Serie von Altera

Prozessoremulation VarioTAP

09/02/2016 | Embedded JTAG Solutions

Test und Emulation auf Bluetooth-SoC-Controller von Nordic Semiconductor erweitert

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