TRI-Testsysteme können um Embedded JTAG Solutions erweitert werden

GÖPEL electronic hat die Integrationslösung für die ICT-FCT-Kombisysteme von TRI erweitert. Von nun an werden auch die Geräte der TR5001 SII Series unterstützt, wodurch Anwender eine noch höhere Testabdeckung erzielen können. 

Das bereits bestehende Integrationspaket zur Anbindung der SYSTEM CASCON Softwareplattform und den Embedded JTAG Solutions von GÖPEL electronic an den In-Circuit Tester TR5001 der Firma TRI wurde erweitert zur Unterstützung der neuesten Generation TR5001 SII Series. Die Hardware- und Software-Schnittstellen wurden an die neue Umgebung angepasst und fügen sich somit optimal in ein kombiniertes Testerkonzept ein. Die Grundkonfiguration mit dem JTAG/Boundary Scan Controller SCANFLEX II CUBE und einem zusätzlichen Relais-Modul als Einsteckkarte mit Virginia Panel Connector (VPC) für eine galvanische Trennung der Signale wurde beibehalten, so dass auch ein Upgrade eines bestehenden Systems auf die neue Version ohne zusätzlichen Aufwand realisiert werden kann. Die Ausführung von Testsequenzen, die über die Plattform SYSTEM CASCON von GÖPEL electronic erstellt wurden, erfolgt weiterhin über einfach zu bedienende Testschritte im TRI-Testplan.
Die Unterstützung der neuen Testergeneration TR5001 SII Series eröffnet Anwendern sämtliche damit verbundenen Verbesserungen und Erweiterungen auch im Zusammenhang mit den Embedded JTAG Solutions. Dies betrifft insbesondere die Möglichkeit des parallelen Tests mehrerer Baugruppen über das flexible Multi-Core Konzept, eine zusätzliche Funktion in SYSTEM CASCON zur analogen Messung von Signalen sowie die Nutzung der vollständig überarbeiteten Bedienoberfläche des In-Circuit Testers. Außerdem wurden die interaktiven Tests weiterentwickelt, bei denen SYSTEM CASCON die digitalen ICT-Kanäle des Testers aktiv in die Testgenerierung und -ausführung einbezieht und somit die gesamte Testabdeckung deutlich erhöht.