Neues SCANFLEX TIC Modul für die Programmierung von Mikrocontrollern

Für die universelle High-Voltage In-Circuit Programmierung

Die Produktfamilie der SCANFLEX® TIC-Module von GÖPEL electronic hat Zuwachs bekommen. Als Highlight auf der diesjährigen SMTconnect in Nürnberg wird das neue SFX TIC022-HVPRG/SR vorgestellt. Es ist eine spezielle TAP Interface Card als externe Testschnittstellenlösung für sämtliche SCANFLEX II Controller SFX II CUBE und SFX II BLADE.

Beliebige serielle Debug-Protokolle flexibel ansteuern

Das SFX TIC022-HVPRG/SR ergänzt das bestehende Spektrum der sogenannten TAP Interface Cards (TIC) um eine Variante zur flexiblen Ansteuerung beliebiger serieller Testbus- und Debug-Protokolle. Dazu gehören neben JTAG auch SWD, BDM, SBW, PIC1X und HS/CSI. Durch die rekonfigurierbare Architektur kann der Protokollumfang auch bei bereits installierten Modulen jederzeit erweitert werden.

Leistungsfähige Boundary Scan Tests und universelle Programmierung

Softwareseitig wird es von der integrierten JTAG/Boundary Scan Plattform SYSTEM CASCON™ unterstützt. Mit Hilfe der intelligenten VarioTAP® Technologie können somit Prozessoren und µController ohne jegliche Firmware zu sehr leistungsfähigen Design-Embedded Test- und Programmierinstrumenten transformiert werden. Darüber hinaus lassen sich mit der neuen Karte auch Boundary Scan Tests gemäß IEEE1149.x realisieren, was Kombinationstests mit höchster statischer und dynamischer Fehlerabdeckung erlaubt. Das SFX TIC022-HVPRG/SR stellt dabei eine zusätzliche Programmierspannung zur Verfügung, die beispielsweise zur HV(High-Voltage)-Programmierung von Microchip® PIC Bausteinen notwendig ist. Damit können auch bereits programmierte und für den Standardzugriff gesperrte Bausteine wieder gelöscht und erneut programmiert werden.

Erhöhung der Universalität von Testlösungen

Das SFX TIC022-HVPRG/SR stellt das externe Frontend-Modul in Richtung der zu testenden Unit Under Test (UUT) dar und ist daher von besonderer Bedeutung für die zuverlässige und korrekte Ansteuerung der angeschlossenen Testbus- und Debugschnittstellen. Durch die Rekonfigurierbarkeit des Moduls und die Programmierbarkeit der Interface-Parameter wird einerseits die Universalität der Lösung maximiert und andererseits werden Investitionen auch für zukünftige Anwendungen planbarer.

SCANFLEX® TIC-Modul
Created by Christina Schellbach | | Embedded JTAG Solutions

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