Neue Test- und Programmieroptionen für Prozessoren von Texas Instruments, Renesas und Microchip
Software-Option erhöht die Testabdeckung, reduziert zeitgleich die Testdauer und überprüft die Funktion des Microcontrollers
Schnelle Onboard-Programmierung und erweiterte funktionale Testmöglichkeiten: GÖPEL electronic veröffentlicht drei neue Software-Optionen, sogenannte VarioTAP-Modelle. Sie dienen Entwicklern und Produzenten von Baugruppen, welche die jeweiligen Prozessoren verwenden. Die Software-Option erhöht die Testabdeckung, reduziert zeitgleich die Testdauer und überprüft die Funktion des Microcontrollers und dessen Instrumente.
Die neuen Modelle sind ab sofort verfügbar für die RM46L852-Prozessoren von Texas Instruments, für die RH850/F1-Familie von Renesas und für die SAM V 71-Prozessoren von Microchip. Mithilfe von VarioTAP erhält der Anwender in Entwicklung und Produktion Zugriff auf Microcontroller-Bereiche wie z.B. interne Flash-Speicher, dynamische RAMS oder ADCs. Die Funktion dieser Bereiche kann auf diese Weise beeinflusst werden, um eingebettete Testzentren zu schaffen. Der Zugang erfolgt entweder über das JTAG-Interface oder Debug-Schnittstellen, wie zum Beispiel SWD oder DAP. VarioTAP stellt daher auch eine gute Alternative dar, wenn der Microcontroller kein Boundary Scan unterstützt.
Zentrum der VarioTAP-Technologie ist ein sogenanntes Basis-Modell, welches den Debug-Zugriff gewährt. Damit können bereits sämtliche Bereiche des Microcontrollers verwendet werden. Zu jedem Basismodell existieren jedoch auch schon fertige Testprozeduren, sogenannte IPs, die frei zum Testsystem hinzugefügt werden können. Der Anwender kann aus einem reichhaltigen Pool verschiedener Testlizenzen zum Testen von RAM-Bausteinen oder zum Programmieren von internen und externen Flash-Bausteinen wählen. So entsteht ein gezielt für das Produkt angefertigtes Testsystem. Ein weiterer Vorteil liegt darin, dass die Daten nicht mehr über eine serielle Schiebekette ausgegeben werden, sondern direkt vom Microcontroller verarbeitet werden können. Dadurch wird die Test- und Programmierdauer erheblich reduziert. In Kombination mit der SCANFLEX II-Hardware, welche ebenfalls dynamisch per Software an das jeweilige Debug-Interface angepasst wird, werden prinzipiell sämtliche moderne Prozessoren und Mikrocontroller unterstützt.