Neue JEDOS-Generation für SoC-Funktionstest

SoC-Komponenten ohne Einsatz von Firmware testen

JEDOS II ist die Erweiterung der JEDOS-Technologie (JTAG Embedded Diagnostics Operating System) von GÖPEL electronic. Hauptaufgabe sind Embedded Test & Embedded Programmierung von komplexen Elektronik-Designs. JEDOS II wurde nun insbesondere zum diagnostischen Funktionstest Test von System-on-Chip (SoC) Komponenten entwickelt.

JEDOS II repräsentiert von der Architektur her ein komplettes Real Time Betriebssystem (RTOS), welches die nativ integrierten Prozessoren ausnutzt um eingebettet diagnostische Funktionstests und Programmierungen in Echtzeit auszuführen. Es wird per JTAG oder alternativen Debug-Interfaces in den Prozessor geladen und gesteuert. Dadurch benötigen die Anwender keinerlei native Firmware. JEDOS II bietet eine Fülle von verschiedenen Funktionen zum Test und Validierung von Bus-Systemen und High-Speed Schnittstellen, sowie zur Programmierung von Flash-Bausteinen. Durch seine Funktionsweise verschiebt JEDOS II die Testbalance noch weiter in den Prüfling hinein und ist damit ein wichtiger Schritt auf dem Weg zur Embedded ATE.

Die Vorteile von JEDOS II liegen vor allem in der Möglichkeit, SoC-Komponenten umfassend und tief ohne Einsatz von Firmware testen zu können. Für die Softwareentwickler steht dadurch vorverifizierte Prototyp-Hardware zur Verfügung und die Fehlerisolation wird wesentlich effizienter. JEDOS II unterstützt zudem die Ausführung im Mehrfachnutzen (Panel Test) und erlaubt Multi-Tasking (z.B. Flash-Programmierung via Ethernet und zeitgleiches testen von anderen Bus-Systemen). Die erste unterstützte Familie ist Xilinx Zynq7000. Xilinx Zynq UltraScalePlus, Infineon Tricore, ausgewählte Renesas- und NXP-Familien werden folgen.

Created by Matthias Müller | | Embedded JTAG Solutions
JEDOS II

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