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Kombinierter Flying-Probe-Test und JTAG/Boundary Scan für Mehrfachnutzen

Erweitertes Testen für Digitaltest MTS505 Flying Prober

Die Integration der GÖPEL electronic Embedded JTAG Solutions in den Condor MTS505 Flying-Probe-Tester von Digitaltest wurde um die Prüfung von Mehrfachnutzen erweitert. Die Kombination beider Prüfverfahren bietet damit eine kosten- und zeiteffiziente Plattform zum Test komplexer elektrischer Baugruppen in der Produktion und bedeutende Ausweitung der Testabdeckung gegenüber den Einzelverfahren.

Die Standard-Integration für den Flying-Probe-Tester Condor MTS505 wurde um die Fähigkeit des Panel-, bzw. Nutzentest erweitert. Dadurch werden Prüflinge mit mehreren Boards im System getestet und nutzen die volle Leistungsfähigkeit beider Prüftechnologien. Daraus resultiert die Verfügbarkeit des kompletten JTAG/Boundary-Scan-Potentials innerhalb des Flying-Probe-Systems für komplette Mehrfachnutzen, was den Produktionsdurchsatz erheblich verbessert. Jedes Board wird mit einem kombinierten Test geprüft, die Ergebnisse werden in ein gemeinsames Protokoll eingetragen. Dies ermöglicht eine optimale Nutzung der Flying-Probe-Ressourcen innerhalb des JTAG/Boundary-Scan-Test und bietet somit erhöhte Testtiefe und Testabdeckung sowie die komplette Bandbreite der Embedded JTAG Solutions der Firma GÖPEL Electronic. Die Koordinierung der Boards im Panel sowie die Ausführung der Tests erfolgt über die CITE-Software von Digitaltest, sodass sich an der gewohnten Bedienumgebung nichts ändert. In diesen Testplan werden die in der Embedded JTAG Solutions Software  SYSTEM CASCON erstellten Tests eingebunden.

Erstellt von Matthias Müller | |   Embedded JTAG Solutions
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Digitaltest Condor MTS505 Flying Probe Tester
Digitaltest Condor MTS505 mit Embedded JTAG Solutions Integration