Kombinierte Testverfahren: JTAG/Boundary Scan für Flying Prober von TAKAYA verfügbar

GÖPEL electronic und SYSTECH Europe haben eine JTAG/Boundary Scan Integration für die TAKAYA Flying Probe Tester (FPT) APT-1400F entwickelt. Die Lösung basiert auf einer vollständigen Integration der Boundary Scan Hardware SCANFLEX sowie der Software SYSTEM CASCON. In Kombination mit dem Flying Probe Tester von TAKAYA wird somit eine kosten- und zeiteffiziente Plattform zum Test elektrischer Baugruppen in der Produktion geboten.

Bei dieser Kooperation geht es nicht nur darum, beide Prüfverfahren innerhalb einer einzelnen Teststation auszuführen. Vielmehr sollen beide Systeme durch eine tiefgreifende Interaktion voneinander profitieren und dem Anwender einen erheblichen, qualitativen Mehrwert für die gesamte Prüftstrategie bieten. So können beispielsweise die verfahrbaren Probes im Boundary Scan Test genutzt werden, um zusätzliche Testpunkte einzubeziehen. Daraus resultiert eine höhere Prüftiefe und eine detailliertere Diagnose. Die Verzahnung der Software beider Systeme sorgt dafür, dass beide Prüfverfahren in einem gemeinsamen Testplan verwaltet werden können und einen gemeinsamen Testreport generieren.

„Schon seit langer Zeit kooperiert GÖPEL electronic mit TAKAYA als Hersteller des weltweit ersten Flying Probe Testsystems“, sagt Boris Opfer, Produktmanager, ICT Sales und Technical Services, SYSTECH Europe. „Wir greifen auf eine mehr als 30-jährige Expertise mit mehr als 2.000 installierten Systemen zurück. Mit GÖPEL electronic als Boundary-Scan-Pionier an unserer Seite bieten wir dem Kunden gemeinsam eine nachhaltige Prüfstrategie mit geringen Kosten.“

Das notwendige Hardware-Paket für die Integration besteht aus einem PCIe Boundary Scan Controller, einem TAP-Transceiver, sowie einem I/O-Modul, welches mithilfe eines vorkonfigurierten Steckers mit den verfahrbaren Probes verbunden wird. Dieser Aufbau kann problemlos in bestehende Systeme integriert werden.