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JTAG/Boundary Scan Integration in Takaya 1600FD mit Multiprobe-Option

Kombination von Prüfverfahren und Einsparen von Handlingschritten

Die Systemintegration von JTAG/Boundary Scan für die Takaya Flying Probe Systeme ist um eine zusätzliche Variante erweitert worden. Ein speziell konzipiertes Integrationspaket von GÖPEL electronic dient der Kombination der Embedded JTAG Solutions in die Takaya APT1600FD mit Multiprobe-Option, die es dem Anwender ermöglicht, eigene Pad-Geometrien mit einem Miniadapter flexibel zu kontaktieren.

Die Multiprobe ist standardmäßig auf der Unterseite als Alternativwerkzeug zu Probe 5 oder 6 implementiert. Damit erfolgt eine kompakte Kontaktierung der JTAG-relevanten Signale inkl. Prüflingsversorgung. Somit lassen sich alle JTAG/Boundary Scan-Tests sowie Programmierung in ein vollautomatisiertes Inline-System mit Be- und Entlader einbinden. Durch die reibungslose Interaktion der Takaya APT und GÖPEL electronic  Software können elektronische Baugruppen erst MDA und Boundary Scan getestet, dann programmiert und zuletzt funktionsgetestet werden. Das Integrationspaket der Firma GÖPEL electronic besteht auf Basis der SFX II CUBE Architektur und enthält speziell abgestimmte Komponenten für die Multiprobe-Option.

Durch die Integration in den APT1600FD entfällt die manuelle Kontaktierung zwischen JTAG/Boundary Scan-Komponenten und dem Prüfling, somit können  Handlingschritte eingespart werden. Komponententest, JTAG/Boundary Scan, Programmierung und Funktionstest erfolgen nun auf einem System. Durch die zunehmende Geschwindigkeit und Flexibilität von Flying Probern rücken sie immer mehr in den Fokus von Produktionen im mittleren Volumenbereich. Das wiederum spart Adapterkosten und minimiert die Time-to-Market. Die Lücke der reduzierten Zugriffsmöglichkeiten wird hervorragend durch die JTAG/Boundary Scan Integration geschlossen.

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