Integrierter Test von digitalen und analogen I/O-Signalen

Erhöhte Testabdeckung beim Einsatz von Prüfadaptern

Mit dem neuen CION-LX Module/FXT32 wird die Testabdeckung beim Einsatz von Prüfadaptern in Verbindung mit JTAG/Boundary Scan erhöht. Dabei wird das Modul als paralleles I/O-Modul mit in die Boundary-Scan-Kette eingebunden. Über die analogen Features des integrierten CION-LX Bausteins lassen sich analoge Spannungsmessungen durchführen, was bei reinen Boundary Scan Tests oft nicht ohne Zusatzhardware möglich ist.

Die Testerweiterungshardware CION-LX Module/FXT32 kann aufgrund ihrer geringen Baugröße optimal in Prüfadapter integriert werden. Durch die ultrakompakte Bauweise, gepaart mit der hohen Funktionalität durch den eingesetzten Mixed-Signal Baustein CION-LX, lassen sich sowohl digitale als auch analoge Tests direkt in der Nähe des Prüflings im Prüfadapter ausführen. Das Modul ist beliebig kaskadierbar, so dass auch weitere I/O-Signale zur Verfügung gestellt werden können. Sämtliche I/O-Signale und die Stromversorgungszuführung sind auf Standard 2,54mm Stiftleisten geführt, die sich auch optimal für Wire-Wrap-Verbindungen in Testadaptern eignen.  Es werden insgesamt 32 multifunktionale Boundary Scan Single-Ended Testkanäle zur Verfügung gestellt. Jeder dieser Testkanäle kann in seiner Datenrichtung frei programmiert werden (Eingang, Ausgang, Bi-direktional und Tristate). Darüber hinaus stehen 8 differentielle Signalpaare zur Verfügung, die durch Ihre IEEE1149.6 Unterstützung optimal geeignet sind, um auch über Koppelkondensatoren hinaus, Boundary Scan Tests durchzuführen.  Durch den integrierten, programmierbaren Power-Manager ist eine sehr einfache Anpassung der I/O Pegelgruppen an den jeweiligen Prüfling möglich.

Created by Matthias Müller | | Embedded JTAG Solutions
CION-LX Module/FXT32

CION-LX Module/FXT32