Embedded JTAG Solutions integriert in Teradyne In-Circuit-Plattform

Mit einer Integration der Embedded JTAG Solutions von GÖPEL electronic wird der Prüfumfang der In-Circuit-Tester TSi-052 von Teradyne erhöht. Durch parallele Prozessabläufe reduzieren sich Testzeiten enorm. Die Kombination der Testtechnologien eignet sich insbesondere für hochvolumige Produktion komplexer elektrischer Baugruppen, bspw. im Automotive-Bereich.

Die Systemintegration ermöglicht es dem Anwender nach dem In-Circuit-Test (ICT) die Baugruppe über verschiedene Interfaces zu Testen und zu Programmieren. Im Fokus stehen dabei Programmierung und Inbetriebnahme von Infineon AURIX und Renesas Mikroprozessoren. Mittels spezieller Embedded-Technologien und Parallelisierung lassen sich die Taktzeiten enorm verkürzen.

Die Hardware für die Integration besteht aus einem SCANFLEX-Controller. Mit einer separaten Pylon-Schnittstelle werden acht differentielle TAPs (Test Access Port) in den Adapterbereich geführt. Die Teradyne-Software „Navigate“ ruft über den Testplan die Embedded JTAG Solutions Software SYSTEM CASCON auf und bindet die Testergebnisse in das Produktionsfenster ein.

Das für einen geringen Standplatz optimierte Inline-Testsystem TSi-052 basiert auf der Technologie der Teradyne Teststation LH/LX, welche ebenso mit Embedded JTAG Solutions Systemintegrationen von GÖPEL electronic ausgestattet sind.