Skip to main content

Webinar: Embedded JTAG Solutions - Das Prüfspektrum erweitern

Neue Technologien verlangen auch Teststrategien, die Probleme unterschiedlichster Natur aufdecken. Erfahren Sie wie Sie Embedded JTAG Solutions dabei unterstützt.

Testabdeckung ist nicht allein die absolute Anzahl der mit einem Test geprüften Netze oder Bauteile. Auch die Testmethode ist hier entscheidend. Vor allem, wenn die klassischen Ansätze via Nadelbett und Boundary Scan an ihre Grenzen stoßen.

  1. Verbindungstest ohne JTAG - Embedded JTAG Solutions ist nicht allein an die Verfügbarkeit von JTAG gebunden. Auch andere Kommunikations- und Debugschnittstellen können für den Verbindungstest genutzt werden. Das System spricht so auch zB. über die SWD-Schnittstelle die GPIO-Ports oder Interfaces an.
  2. Der Pegelmesser: ADCs als Lupe - Ein Verbindungstest auf dem Board mittels Boundary Scan ist gut und wichtig. Wenn sich die Möglichkeit bietet, kann es aber auch sinnvoll sein, einmal genauer hin zu schauen. Die Pegelprüfung mittels ADC bietet sich hier geradezu an. So lassen sich durchaus auch kapazitive Einflüsse detektieren.
  3. Die Mischung machts - Erst die geschickte Kombination der verschiedenen Technologien aus statischem, strukturellem und dynamischem Funktionstest  gibt das beste Ergebnis in optimaler Testzeit. Hier gilt es abzuwägen, ob ein aufwändiger Funktionstest bei einfachen Schaltungen nötig ist und/oder ob nicht ein dynamischer RAM-Test bei komplexen Designs doch einem einfachen Boundary-Scan-Test vorzuziehen wäre.

 

 

» Jetzt kostenlos anmelden

Facts Webinar: Embedded JTAG Solutions - Das Prüfspektrum erweitern
18 Oct 2017 10:00 11:00