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Gang-Tester bietet deutliche Steigerung des Produktionsdurchsatzes auch in Massenproduktion

SFX-TAP16/G-RM mit neuer Architektur unterstützt Embedded System Access (ESA) Technologien
TAP-Transceiver SFX-TAP16/G-RM

TAP-Transceiver SFX-TAP16/G-RM

GÖPEL electronic stellt mit dem SFX-TAP16/G-RM eine neue Variante seines TAP-Transceivers zum parallelen Testen und Programmieren von bis zu 16 Baugruppen an. Durch die platzsparende Lösung mit integrierter Systemstromversorgung lässt sich zudem der Durchsatz bei UUTs (Units Under Test) mit nur einem TAP (Test Access Port) um den Faktor 16 erhöhen, was in einer deutlichen Verbesserung der Produktionseffektivität und Senkung der Investitionskosten resultiert. Durch die Programmierbarkeit der TAP-Interfaces (Spannungen, Delays, Protokolle etc.) und die individuelle Konfigurierbarkeit der TAP-UUT-Routing kann das System flexibel an nahezu jede Umgebung und Anwendung angepasst werden.

„Unsere Kunden aus den Bereichen OEM, ODM und EMS zeigen immer größeres Interesse an durchsatzsteigernden Lösungen zur High-Speed-Programmierung von Flash über das Debug-Interface oder FPGA-embedded-Programmer. Mit dem neuen System aus unserer SCANFLEX-Hardware-Produktgruppe sichern wir außerdem den Einsatz von dynamischen Tests auf der Basis von Prozessor-Emulation in der Fertigungslinie oder bei Stresstests in Klimakammern ab“, freut sich Thomas Wenzel, Geschäftsführer der Boundary Scan Division bei GÖPEL electronic. „Das Aufspüren von latenten Fehlern gerade bei HASS/HALT-Verfahren gewinnt für viele Test- und Produktionsszenarien mehr und mehr an Bedeutung. Unser SFX-TAP16/G-RM ist daher auch eine logische Konsequenz zur Bereitstellung von neuen Technologien zur maximalen Fehlerfindung.“

Über SFX-TAP16/G-RM:

Das SFX-TAP16/G-RM bietet 16 parallele TAP und wurde als Rack-Mount-Version in 19‘‘-Technik mit 1 HE ausgeführt. Durch seine Architektur unterstützt es sämtliche modernen Technologien zum Embedded System Access (ESA), inkl. Boundary Scan, Processor Emulation oder Chip embedded Instruments, welche den grundlegenden Paradigmenwechsel zum Testen und Programmieren ohne mechanischen Nadel-Zugriff (non intrusive) ermöglichen. Es wurde speziell für Gang-Applikationen entwickelt, wobei unterschiedliche Test- und Programmierstrategien frei kombinierbar sind.

Der neue Transceiver lässt sich flexibel an die Eigenschaften der UUT anpassen. Die Bandbreite reicht hier von 16 Baugruppen mit nur einem TAP bis zu zwei UUT mit jeweils acht TAP. Als Ergänzung können die TAP-Ports auch in vielen Parametern individuell programmiert werden.


Alter: 2 Jahr(e)
Kategorie: Boundary Scan, Hardware
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