| |
|
23. Sep - 24. Sep 2008 in
Jena Zweitägiges Seminar für Anwender und Interessenten zum Thema Automatische Optische Inspektion bestückter Leiterplatten. Für weitere Informationen wenden Sie sich bitte an [Maria Kirchner] |
|
| |
|
23. Sep - 23. Sep 2008 in
Oxfordshire/UK Wir stellen Automotive Test Solutions, Systeme für die Digitale Bildverarbeitung (TOM) und Boundary Scan Produkte aus. |
|
| |
|
30. Sep - 02. Okt 2008 in
Paris/Frankreich Wir stellen AOI-Systeme und Automotive Test Solutions aus. |
|
| |
|
01. Okt - 02. Okt 2008 in
Birmingham/UK Wir stellen Boundary Scan Produkte, Automotive Test Solutions und Systeme für die Digitale Bildverarbeitung (TOM) aus. |
|
| |
|
07. Okt - 10. Okt 2008 in
Wien/Österreich Wir stellen Boundary Scan Produkte, Automotive Test Solutions und AOI Systeme aus. Besuchen Sie uns in Halle A. |
|
| |
|
28. Okt - 30. Okt 2008 in
Santa Clara, CA/USA International Test Conference Wir stellen Boundary Scan solutions aus. |
|
| |
|
11. Nov - 14. Nov 2008 in
München Wir stellen Boundary Scan Produkte, AOI Systeme und Automotive Test Solutions aus. |
|
| |
|
25. Nov - 26. Nov 2008 in
Jena Zweitägige Boundary Scan Schulung mit Grund- und Aufbaukurs, Teilnahmegebühr 400,00€ zzgl. MwSt. Für weitere Informationen wenden Sie sich bitte an Ulrike Schmidt oder klicken Sie [hier] für das Anmeldeformular.
|
|