•

IEEE Std 1149.1

Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
Mehr Informationen finden Sie auf den Seiten des [IEEE].

•

IEEE Std 1149.4

Mixed Signal Test Bus
Mehr Informationen finden Sie auf den Seiten des [IEEE].

•

IEEE Std 1149.5

Module Test and Maintenance Bus (MTM-Bus) Protocol
Mehr Informationen finden Sie auf den Seiten des [IEEE].

•

IEEE Std 1149.6

Standard for Boundary Scan testing of Advanced Digital Networks, 2003
Mehr Informationen finden Sie auf den Seiten des [IEEE].

•

IEEE Std 1450

Standard Test Interface Language (STIL)
Mehr Informationen finden Sie auf den Seiten des [IEEE].

•

IEEE P1500

Standard for Embedded Core Test (SECT)
Mehr Informationen finden Sie auf den Seiten des [IEEE].

•

IEEE Std 1532

Boundary-Scan-based In System Configuration of Programmable Devices,
Mehr Informationen finden Sie auf den Seiten des [IEEE].

•

IEEE ISTO 5001

Früher unter dem Namen Nexus und jetzt unter dem Namen Global Embedded Processor Debug Interface Standard (GEPDIS) bekannt
Mehr Informationen finden Sie auf den Seiten der [IEEE ISTO].

•

JESD71

Standard Test and Programing Language (STAPL)
Mehr Informationen finden Sie auf den Seiten des [JEDEC].

•

Actel

[http://www.actel.com/]

•

Altera

[http://www.altera.com/support/devices/bsdl/bsdl.html]

•

AMD

[http://www.amd.com/]

•

Analog Devices

[http://www.Analog.com/]

•

Cypress

[http://www.cypress.com]

•

Developer

[http://developer.intel.com/]

•

IDT

[http://www.idt.com/]

•

Infineon

[http://www.infineon.com/products/index.htm]

•

Intel

[http://www.intel.com/design/flash/datashts/index.htm]

•

ISSI

[http://www.issi.com/]

•

Lattice

[http://www.latticesemi.com/]

•

Micron

[http://www.micron.com/mti/]

•

Mosel Vitelic

[http://www.moselvitelic.com/]

•

Motorola

[http://www.motorola.com]

•

National Semiconductor

[http://www.national.com/]

•

NEC Electronics

[http://www.necel.com]

•

Oki

[http://www.oki.com]

•

Phytec

[http://www.phytec.de/germany/]

•

Samsung

[http://www.intl.samsungsemi.com/]

•

Texas Instruments

[http://www.ti.com]

•

Toshiba

[http://www.toshiba.com/taec/nonflash/indexmemory.html]

•

Vantice

[http://www.vantis.com]

•

Xilinx

[http://www.support.xilinx.com/support/sw_bsdl.htm]

•

ITOCHU-Systech

[http://www.itochu-systech.com]

•

SPEA GmbH

[http://www.spea-ate.de]

•

Digitaltest

[http://www.digitaltest.de]

•

esw GmbH & Co. KG

[http://www.esw-stolberg.com]

•

A.T.E.
(Advanced Test
Engineering)
Solutions Inc.

[http://www.besttest.com]

[http://www.ateworld.com]

•

Ewald Gailing et al."Strategien zur wirtschaftlichen Produktion von elektronischen Baugruppen"
Das Werk vermittelt Erfahrungen und Kenntnisse aus Industrie und Wissenschaft und macht den Versuch, die unterschiedlichen Anforderungen des Marktes darzustellen, Hinweise für ein fertigungs- und prüfgerechtes Design zu geben, Unterschiede von SMT-Stand-Alone- und Linienkonzepten für die Herstellung darzustellen, sowie Prüfverfahren und Prüfstrategien zu erläutern.
Das Buch kann online beim [Leuze-Verlag] bestellt werden.

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