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 SCANFLEX® I/O Module
| Allgemeine Produktinformationen - kombinierbar mit sämtlichen verfügbaren SCANFLEX® – Komponenten (SCANFLEX® Controller, SCANFLEX® TAP-Transceiver)
- Clusterbildung von SCANFLEX® I/O-Modulen durch entsprechende Multi-Modul Carrier (SFX-Carrier)
- Innovative Link-Techniken ermöglichen Distanzen zu I/O Modulen von über 5m ohne Performanceverlust an bis zu 3 Trunks
- vollständige Softwareunterstützung durch das JTAG/Boundary Scan Betriebssystem SYSTEM CASCON
- freie Programmierung (Manuell/ATPG) der Modulfunktionen durch die Mixed Signal Boundary Scan Programmiersprache CASLAN
- zukunftssichere Lösung durch typischerweise hochflexibel In-Field reprogrammierbare Hardwarestrukturen
- modernste Systemarchitektur, basierend auf speziell entwickelten Technologien (HYSCAN™, VarioCore®, AutoDetect)
- automatische Erkennung der SCANFLEX® I/O Module durch AutoDetect-Mechanismus
- Einsatzfähig für Standard Boundary Scan Test, In-System-Programmierung (ISP) und In-System-Configurierung (ISC)
- Unterstützt Extended Boundary Scan Operationen in Kombination mit anderen Test und Programmierverfahren
- Vollkommen unabhängige Ansteuerung der Modulfunktionen von TAP-Sequenzen, Operationen sind jedoch voll synchronisierbar
- Handliche, leicht austauschbare Kompakteinheiten mit fest definierten Standardmassen, incl. Anschlusskabeln
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 SFX-1000 – Prototype Module
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  | Produktfeatures
- 1149.1 TAP synchronisierbar (HYSCAN™)
- On board Interface CPLD
- Programmierbare Funktionen
- Lochrasterfeld zur Aufnahme für kundenspezifische Schaltungen
- Pfostenstecker für einfache Signalantastung
| Target Applikationen auf Board- und Systemlevel - Trägermodul für Prototyp Schaltungen
- Analog, digital und Mixed Signal Applikationen
- Basis für kundenspezifisches SCANFLEX® Engineering durch GÖPEL electronic
- Aufbau von kundenspezifischen Schaltungen als Funktionsmodul oder zur Signalkonditionierung
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SFX-5296 – Digital I/O Module
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| Produktefatures - 1149.1 TAP synchronisierbar (HYSCAN™)
- 96 unabhängige Single Ended Kanäle
- Kanäle I/O/Bidir/Tristate konfigurierbar
- 32 x 3 Kanäle Spannungsprogrammierbar
- I/O Spannung 1.8 – 4.5 V (5V tolerant)
- Hotswap Feature
- Erhöhte Stromergiebigkeit (24mA) / CH
- CION™ basierende Schutzfunktionen
| Target Applikationen auf Board- und Systemlevel - Test von non scan Clustern ohne netlist merging
- Test von Steckverbindern ohne netlist merging
- Test von Backplanes ohne netlist merging
- Test von Verdrahtungen ohne netlist merging
- Statische digitale Verifikationen
- Externe Ansteuerung von Funktionspins
- Statische digitale Funktionstests
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SFX-5350– Differential I/O Module
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| Produktfeatures - 1149.1 TAP synchronisierbar (HYSCAN™)
- 50 unabhängige differentielle Kanäle
- Kanäle I/O/Bidir konfigurierbar
- Skalierbare Terminierung
- Externes Signalkonditionierung-Slot
- Integrierte VarioCore® Technik
- Unterstützt VarioCore®-IP mittlerer Größe
- Ermöglicht I/O Frequenzen bis 125 MHz
| Target Applikationen auf Board- und Systemlevel - Test von Steckverbindern ohne netlist merging
- Test von Backplanes ohne netlist merging
- Statische digitale Funktionstests
- Flexible Funktionalität durch VarioCore®-IP:
- Strukturelle At-Speed Tests
- Dynamischer Clustertest
- High Speed Flash Programmierung
- Vielzahl weiterer Anwendungen
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SFX-5704 – Mixed Signal I/O Module
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| Produktfeatures - 1149.1 TAP synchronisierbar (HYSCAN™)
- 4 unabhängige Mixed Signal Kanäle
- Kanäle sind I/O/Bidir/TS konfigurierbar
- Programmierbare Output Spannung ±10V
- Programmierbare Input Spannung±10V
- Programmierbarer Pull Up / Pull Down
- Programmierbarer Treiberstrom (bis 0.3A)
- Clipp-Schaltung (Limiter) pro Kanal
- 12 bit ADC pro Kanal
- Trennrelais für jeden Kanal
| Target Applikationen auf Board- und Systemlevel - Test von Mixed Signal Clustern
- Test von Steckverbindern
- Test von non scan Strukturen
- Statische analoge und digitale Verifikationen
- Externe Ansteuerung von Funktionspins
- Messung von Analogspannungen
- Backdriving von analogen und digitalen Signalen über längere Kabel (Flying Prober)
- Statische Mixed Signal Funktionstests
- Fehlerfeindiagnose in Mixed Signal Strukturen
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SFX-6216– Analog Input Module
|  | Produktfeatures - 1149.1 TAP synchronisierbar (HYSCAN™)
- 16 Kanäle basierend auf 4x4 Multiplexing
- 4 fach ADC mit 12 bit Auflösung
- Abtastrate 250 kSPS
- Programmierbarer Messbereich bis 50V
- Bipolare Eingänge
- Eingangsimpedanz > 1Mohm
- Externe Triggerkanäle
- VarioCore® Support
| Target Applikationen auf Board- und Systemlevel - Test von IEEE1149.4 Interconnections
- Test von analogen Interconnections
- Test von Analog-Steckverbindern
- Test von Analog-Komponenten
- Test von Analogclustern
- Messung von Versorgungsspannungen
- Statische analoge Verifikationen
- Statische analoge Funktionstests
- Dynamische Messfunktionen per VarioCore®
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SFX-6308– Analog I/O Module
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| Produktfeatures - 1149.1 TAP synchronisierbar (HYSCAN™)
- 8 unabhängige I/O Kanäle
- 4 Output Kanäle mit erweiterter Stromergiebigkeit bis 200 mA bei ± 10 V
- 4 bipolare Input ± 10 V
- 4 fach ADC mit 12 bit Auflösung
- Abtastrate 250 kSPS
- Programmierbarer Messbereich bis 50V
- Bipolare Eingänge
- Eingangsimpedanz > 1Mohm
- Externe Triggerkanäle
- VarioCore® Support
| Target Applikationen auf Board- und Systemlevel - Test von IEEE1149.4 Interconnections
- Test von analogen Interconnections
- Test von Analog-Steckverbindern
- Test von Analog-Komponenten
- Test von Analogclustern
- Messung von Versorgungsspannungen
- Statische analoge Verifikationen
- Statische analoge Funktionstests
- Dynamische Messfunktionen per VarioCore®
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SFX-1149.4 – Analog Test Bus I/O
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| Produktfeatures - IEEE 1149.4 kompatibel
- 1149.1 TAP synchronisierbar (HYSCAN™)
- 1 x ATAP (AT1, AT2)
- RLC- Messfunktionen
- AC Spannungsmessungen
- DC Spannungsmessungen
- Ramp Funktion Digitizer Funktion
| Target Applikationen auf Board- und Systemlevel - Test von IEEE1149.4 Strukturen
- Test von analogen Interconnections
- Test von Analog-Steckverbindern
- Test von Analog-Komponenten
- Test von Analogclustern
- Messung von Analogspannungen
- Statische analoge Verifikationen
- Statische analoge Funktionstest
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I/O Module