SCANFLEX^® Controller für USB2.0/LAN

  Allgemeine Produktinformationen

• kompatibel zu USB2.0 und Fast Ethernet (100Mb/s) mit automatischer Anschlusserkennung
• Hot Insertion, Plug and Play und DHCP
• kompatibel zu IEEE1149.1, IEEE1149.4, IEEE1149.6, IEEE1532, JESD71 (STAPL), SVF (Serial Vector Format)
• kombinierbar mit sämtlichen verfügbaren SCANFLEX^® – Komponenten (SCANFLEX^® TAP-Transceiver, SCANFLEX^® I/O-Module)
• vollständige Softwareunterstützung durch das JTAG/Boundary Scan Betriebssystem SYSTEM CASCON™
• zukunftssichere Lösung durch die hochflexibel In-Field reprogrammierbare Systemhardware
• Embedded Betriebssystem auf Basis eines integrierten 32 bit RISC Prozessor sichert perspektivische Funktionserweiterungen
• modernste Systemarchitektur, basierend auf speziell entwickelten Technologien (SPACE™, ADYCS™, HYSCAN™, FASTSCALE™)
• Cross-Kompatibilität von Testprogrammen und ISP Scripts zu allen anderen Boundary Scan Controllern von GÖPEL eletronic
• Einsatzfähig für Standard Boundary Scan Test, In-System-Programmierung (ISP) und In-System-Configurierung (ISC)
• Unterstützt Extended Boundary Scan Operationen in Kombination mit anderen Test und Programmierverfahren
• Schnelle und einfache Integration in Third Party ATE (Flying Prober, ICT, MDA, Funktionstester…) als Boundary Scan Option
• Portable, universell einsetzbare Lösung für Labor, Produktion und Service
• Kompaktgerät im Metallgehäuse mit dazugehörigem externen Netzteil, sowie LAN und USB Kabeln

 SFX/USL1149-A JTAG/Boundary Scan Controller mit mittlerer Performance

Produktfeatures

• ADYCS™ (Active Delay Compensation)
• HYSCAN™ (Hybrid Scan)
• FASTSCALE™ (Fast Performance Scaling)
• Scan Data Buffer (TDI/TDO Cache)
• Unterstützt 8 parallele, unabhängige TAP
• TCK Frequenzbereich DC - 20 MHz
• TCK Schrittweite 250Hz

Target Applikationen auf Board- und Systemlevel

• In-System-Configuration grosser PLD/FPGA
• In-System-Programmierung von Flash < 1Mbit
• On Chip Flash Programmierung < 1Mbit
• Test von Einheiten bis mittlere Komplexität
• Steuerung komplexer Selbsttest (BIST)
• statische Mixed Signal Test / Verifikationen
• Gang Programmierung / Gang Test

 SFX/TSL1149-B – JTAG/Boundary Scan Controller mit hoher performance

Produktfeatures

• ADYCS™ II (Active Delay Compensation)
• HYSCAN™ (Hybrid Scan)
• FASTSCALE™ (Fast Performance Scaling)
• SPACE™ II Scanarchitektur
• Unterstütz 8 parallele, unabhängige TAP
• TCK Frequenzbereich DC - 50 MHz
• TCK Schrittweite 250Hz / 1MHz

Target Applikationen auf Board- und Systemlevel

• In-System-Configuration grosser PLD/FPGA
• High Speed ISP von Flash > 1Mbit
• On Chip Flash Programmierung > 1Mbit
• Test von Einheiten mit höchster Komplexität
• Steuerung komplexer Selbsttests (BIST)
• statische Mixed Signal Tests / Verifikationen
• Gang Programmierung / Gang Test

 SFX/USL1149-C JTAG/Boundary Scan Controller mit ultra hoher performance

Produktfeatures

• ADYCS™II (Active Delay Compensation)
• HYSCAN™ (Hybrid Scan)
• FASTSCALE™ (Fast Performance Scaling)
• SPACE™ II-S Scanarchitektur
• Unterstützt 8 parallele, unabhängige TAP
• TCK Frequenzbereich DC - 80 MHz
• TCK Schrittweite 250Hz / 1MHz

 Target Applikationen auf Board- und Systemlevel

• On Chip Flash Programmierung > 1Mbit
• System-In-Package (SIP) Test
• Steuerung komplexester Selbsttests (BIST)
• statische Mixed Signal Tests
• dynamische Funktionsverifikationen
• Testung von Dies
• Gang Programmierung / Gang Test