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    PXI Bus - Kompakt Version

    SCANFLEX® Controller für PXI Bus mit integriertem TAP Transceiver - Kompakt Version 2TAP(C2) or 4TAP(C4)

    Allgemeine Produktinformationen

    • kompatibel zu PXI Standardspezifikation Revision 2.2
    • verfügt über Local Bus Interface und unterstützt den kompletten PXI Trigger Bus
    • kompatibel zu IEEE1149.1, IEEE1149.4, IEEE1149.6, IEEE1532, JESD71 (STAPL), SVF (Serial Vector Format)
    • Kompakt Controller mit integriertem TAP Transceiver (2TAP/4TAP)
    • hochflexibles Frontend durch On-Board TAP Interface Card (TIC), austauschbare Paddle Cards und integrierte analoge / digitale Zusatzressourcen
    • kombinierbar mit sämtlichen verfügbaren SCANFLEX®  I/O-Modulen)
    • vollständige Softwareunterstützung durch das JTAG/Boundary Scan Betriebssystem SYSTEM CASCON™
    • zukunftssichere Lösung durch die hochflexibel In-Field reprogrammierbare Systemhardware und Hardwarefunktion
    • modernste System- und Hardwarearchitektur, basierend auf speziell entwickelten Technologien (SPACE™, ADYCS™, HYSCAN™, SPACE™, FASTSCALE™, AutoDetect)
    • Cross-Kompatibilität von Testprogrammen und ISP Scripts zu allen anderen Boundary Scan Controllern von GÖPEL eletronic
    • Einsatzfähig für Standard Boundary Scan Test, In-System-Programmierung (ISP) und In-System-Configurierung (ISC)
    • Unterstützt Extended Boundary Scan Operationen in Kombination mit anderen Test und Programmierverfahren
    • einfache Integration in PXI Systeme auf Basis vorkonfektionierter Plug-Ins u.a. für LabView, LabWindows und TestStand
    • automatische Erkennung des Transceiver Typ, der TAP-Anzahl und Konfiguration durch AutoDetect-Mechanismus
    • universell einsetzbare Lösung zur Konfiguration von Stand alone Benchtop Systemen für Labor und Produktion
    • Handliche Kompakteinheit mit TAP und PIO Kabeln

     

    Falls Sie Interesse an detaillierteren Informationen hierzu haben, [kontaktieren] Sie uns bitte.

     SFX/PXI1149/Cx-A – JTAG/Boundary Scan Controller mit mittlerer performance

    Produktfeature

    • ADYCS™ II (Active Delay Compensation)
    • HYSCAN™ (Hybrid Scan)
    • FASTSCALE™ (Fast Performance Scaling)
    • Scan Data Buffer (TDI/TDO Cache)
    • Unterstützt 2/4 parallele, unabhängige TAP
    • TCK Frequenzbereich DC - 20 MHz
    • TCK Schrittweite 250Hz

    Pro TAP programmierbare Parameter

    • Output voltage 1.8 – 4.5 V
    • Input voltage 0 – 3 V
    • Input und Output Impedance
    • TDI Delay (ADYCS™ II)
    • Relais geschaltete Output line
    • TCK Frequenzbereich DC - 80 MHz
    • Hot Plug Feature incl. TAP Protection

    Target Applikationen auf Board- und Systemlevel

    • In-System-Configuration grosser PLD/FPGA
    • In-System-Programmierung von Flash < 1Mbit
    • On Chip Flash Programmierung < 1Mbit
    • Test von Einheiten bis mittlere Komplexität
    • Steuerung komplexer Selbsttest (BIST)
    • statische Mixed Signal Test / Verifikationen
    • Gang Programmierung / Gang Test

    Spezielle Zusatzressourcen

    • Dynamische 32 bit PIO mit progr. I/O voltage
    • 2 analoge 10 bit I/O Kanäle
    • statische 3 bit PIO für Event-Handling
    • Triggerkanäle für externe Instrumente
    • SFX/LS Interface für weitere I/O Module

     SFX/PXI1149/Cx-B – JTAG/Boundary Scan Controller mit hoher performance

    Produktfeatures

    • ADYCS™ II (Active Delay Compensation)
    • HYSCAN™ (Hybrid Scan)
    • FASTSCALE™ (Fast Performance Scaling)
    • SPACE™ II Scanarchitektur
    • Unterstütz 2/4 parallele, unabhängige TAP
    • TCK Frequenzbereich DC - 50 MHz
    • TCK Schrittweite 250Hz / 1MHz

    Pro TAP programmierbare Parameter

    • Output voltage 1.8 – 4.5 V
    • Input voltage 0 – 3 V
    • Input und Output Impedance
    • TDI Delay (ADYCS™ II)
    • Relais geschaltete Output line
    • TCK Frequenzbereich DC - 80 MHz
    • Hot Plug Feature incl. TAP Protection

    Target Applikationen auf Board- und Systemlevel

    • In-System-Configuration grosser PLD/FPGA
    • High Speed ISP von Flash > 1Mbit
    • On Chip Flash Programmierung > 1Mbit
    • Test von Einheiten mit höchster Komplexität
    • Steuerung komplexer Selbsttests (BIST)
    • statische Mixed Signal Tests / Verifikationen
    • Gang Programmierung / Gang Test

    Spezielle Zusatzressourcen

    • Dynamische 32 bit PIO mit progr. I/O voltage
    • 2 analoge 10 bit I/O Kanäle
    • statische 3 bit PIO für Event-Handling
    • Triggerkanäle für externe Instrumente
    • SFX/LS Interface für weitere I/O Module

     SFX/PXI1149/Cx-C – JTAG/Boundary Scan Controller mit ultra hoher performance

    Produktfeatures

    • ADYCS™ II (Active Delay Compensation)
    • HYSCAN™ (Hybrid Scan)
    • FASTSCALE™ (Fast Performance Scaling)
    • SPACE™ II-S Scanarchitektur
    • Unterstützt 2/4 parallele, unabhängige TAP
    • TCK Frequenzbereich DC - 80 MHz
    • TCK Schrittweite 250Hz / 1MHz

    Pro TAP programmierbare Parameter

    • Output voltage 1.8 – 4.5 V
    • Input voltage 0 – 3 V
    • Input und Output Impedance
    • TDI Delay (ADYCS™ II)
    • Relais geschaltete Output line
    • TCK Frequenzbereich DC - 80 MHz
    • Hot Plug Feature incl. TAP Protection

    Target Applikationen auf Board- und Systemlevel

    • On Chip Flash Programmierung > 1Mbit
    • System-In-Package (SIP) Test
    • Steuerung komplexester Selbsttests (BIST)
    • statische Mixed Signal Tests
    • dynamische Funktionsverifikationen
    • Testung von Dies
    • Gang Programmierung / Gang Test

    Spezielle Zusatzressourcen

    • Dynamische 32 bit PIO mit progr. I/O voltage
    • 2 analoge 10 bit I/O Kanäle
    • statische 3 bit PIO für Event-Handling
    • Triggerkanäle für externe Instrumente
    • SFX/LS Interface für weitere I/O Module

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