SCANFLEX^® Controller für PXI Bus mit integriertem TAP Transceiver für Fixture Applikationen - Kompakt Version 4TAP(C4-FXT)

Allgemeine Produktinformationen

• kompatibel zu PXI Standardspezifikation Revision 2.2
• verfügt über Local Bus Interface und unterstützt den kompletten PXI Trigger Bus
• kompatibel zu IEEE1149.1, IEEE1149.4, IEEE1149.6, IEEE1532, JESD71 (STAPL), SVF (Serial Vector Format)
• Kompakt Controller mit integriertem FXT-TAP Transceiver (4TAP)
• hochflexibles Frontend durch extern differentiell gekoppelte TAP Interface Cards (TIC), Paddle Cards und integrierte analoge / digitale Zusatzressourcen
• kombinierbar mit sämtlichen verfügbaren SCANFLEX^® I/O-Modulen
• vollständige Softwareunterstützung durch das JTAG/Boundary Scan Betriebssystem SYSTEM CASCON™
• zukunftssichere Lösung durch die hochflexibel In-Field reprogrammierbare Systemhardware und Hardwarefunktion
• modernste System- und Hardwarearchitektur, basierend auf speziell entwickelten Technologien (SPACE™, ADYCS™, HYSCAN™, SPACE™, FASTSCALE™, AutoDetect)
• Cross-Kompatibilität von Testprogrammen und ISP Scripts zu allen anderen Boundary Scan Controllern von GÖPEL eletronic
• Einsatzfähig für Standard Boundary Scan Test, In-System-Programmierung (ISP) und In-System-Configurierung (ISC)
• Unterstützt Extended Boundary Scan Operationen in Kombination mit anderen Test und Programmierverfahren
• einfache Integration in PXI Systeme auf Basis vorkonfektionierter Plug-Ins u.a. für LabView, LabWindows und TestStand
• automatische Erkennung des Transceiver Typ, der TAP-Anzahl und Konfiguration durch AutoDetect-Mechanismus
• universell einsetzbare Lösung zur Konfiguration von Stand alone Benchtop Systemen für Labor und Produktion
• Handliche Kompakteinheit mit TAP und PIO Kabeln
  

SFX/PXI1149/C4-FXT-A – JTAG/Boundary Scan Controller mit mittlerer performance

Produktfeature

• ADYCS™ II (Active Delay Compensation)
• HYSCAN™ (Hybrid Scan)
• FASTSCALE™ (Fast Performance Scaling)
• Scan Data Buffer (TDI/TDO Cache)
• Unterstützt 4 parallele, unabhängige TAP
• TCK Frequenzbereich DC - 20 MHz
• TCK Schrittweite 250Hz

Target Applikationen auf Board- und Systemlevel

• In-System-Configuration grosser PLD/FPGA
• In-System-Programmierung von Flash < 1Mbit
• On Chip Flash Programmierung < 1Mbit
• Test von Einheiten bis mittlere Komplexität
• Steuerung komplexer Selbsttest (BIST)
• statische Mixed Signal Test / Verifikationen
• Gang Programmierung / Gang Test

Pro TAP programmierbare Parameter

• Output voltage 1.2 – 3.6 V (intern / extern)
• Input voltage 0 – 3 V (intern / extern)
• TDI delay (ADYCS II™)
• Austauschbares Lin Driver Modul (LDM)
• Relais geschaltete Output line
• Breaker Relais für TAP (TIC02/SR)
• TCK Frequenzbereich DC - 80 MHz
• Hot Plug Feature incl. TAP Protection

Spezielle Zusatzressourcen

• Dynamische 32 bit PIO mit progr. I/O voltage
• 2 analoge 10 bit I/O Kanäle
• statische 3 bit PIO für Event-Handling
• Triggerkanäle für externe Instrumente
• SFX/LS Interface für SCANFLEX^® I/O Module
• 4 differentielle Interfaces bei TI

SFX/PXI1149/C4-FXT-B – JTAG/Boundary Scan Controller mit hoher performance

Produktfeatures

• ADYCS™ II (Active Delay Compensation)
• HYSCAN™ (Hybrid Scan)
• FASTSCALE™ (Fast Performance Scaling)
• SPACE™ II Scanarchitektur
• Unterstütz 4 parallele, unabhängige TAP
• TCK Frequenzbereich DC - 50 MHz
• TCK Schrittweite 250Hz / 1MHz

Target Applikationen auf Board- und Systemlevel

• In-System-Configuration grosser PLD/FPGA
• High Speed ISP von Flash > 1Mbit
• On Chip Flash Programmierung > 1Mbit
• Test von Einheiten mit höchster Komplexität
• Steuerung komplexer Selbsttests (BIST)
• statische Mixed Signal Tests / Verifikationen
• Gang Programmierung / Gang Test

Pro TAP programmierbare Parameter

• Output voltage 1.2 – 3.6 V (intern / extern)
• Input voltage 0 – 3 V (intern / extern)
• TDI delay (ADYCS II™)
• Austauschbares Lin Driver Modul (LDM)
• Relais geschaltete Output line
• Breaker Relais für TAP (TIC02/SR)
• TCK Frequenzbereich DC - 80 MHz
• Hot Plug Feature incl. TAP Protection

Spezielle Zusatzressourcen

• Dynamische 32 bit PIO mit progr. I/O voltage
• 2 analoge 10 bit I/O Kanäle
• statische 3 bit PIO für Event-Handling
• Triggerkanäle für externe Instrumente
• SFX/LS Interface für SCANFLEX^® I/O Module
• 4 differentielle Interfaces bei TIC

SFX/PXI1149/C4-FXT-C – JTAG/Boundary Scan Controller mit ultra hoher performance

Produktfeatures

• ADYCS™ II (Active Delay Compensation)
• HYSCAN™ (Hybrid Scan)
• FASTSCALE™ (Fast Performance Scaling)
• SPACE™ II-S Scanarchitektur
• Unterstützt 4 parallele, unabhängige TAP
• TCK Frequenzbereich DC - 80 MHz
• TCK Schrittweite 250Hz / 1MHz

Target Applikationen auf Board- und Systemlevel

• On Chip Flash Programmierung > 1Mbit
• System-In-Package (SIP) Test
• Steuerung komplexester Selbsttests (BIST)
• statische Mixed Signal Tests
• dynamische Funktionsverifikationen
• Testung von Dies
• Gang Programmierung / Gang Test

Pro TAP programmierbare Parameter

• Output voltage 1.2 – 3.6 V (intern / extern)
• Input voltage 0 – 3 V (intern / extern)
• TDI delay (ADYCS II™)
• Austauschbares Lin Driver Modul (LDM)
• Relais geschaltete Output line
• Breaker Relais für TAP (TIC02/SR)
• TCK Frequenzbereich DC - 80 MHz
• Hot Plug Feature incl. TAP Protection

Spezielle Zusatzressourcen

• Dynamische 32 bit PIO mit progr. I/O voltage
• 2 analoge 10 bit I/O Kanäle
• statische 3 bit PIO für Event-Handling
• Triggerkanäle für externe Instrumente
• SFX/LS Interface für SCANFLEX^® I/O Module
• 4 differentielle Interfaces bei TIC