SCANFLEX^® Controller für PCI Express Bus

Allgemeine Produktinformationen

• Kompatibel zu PCI Express Standardspezifikation Revision 1.0a
• Integriertes x1 Interface mit 264MB/s Datendurchsatz im zero wait state burst Mode
• Kompatibel zu IEEE1149.1, IEEE1149.4, IEEE1149.6, IEEE1532, JESD71 (STAPL), SVF (Serial Vector Format)
• Kombinierbar mit sämtlichen verfügbaren SCANFLEX^® – Komponenten (SCANFLEX^® TAP-Transceiver, SCANFLEX^® I/O-Module)
• Vollständige Softwareunterstützung durch das JTAG/Boundary Scan Betriebssystem SYSTEM CASCON™
• Zukunftssichere Lösung durch die hochflexibel In-Field reprogrammierbare Systemhardware
• Modernste Systemarchitektur, basierend auf speziell entwickelten Technologien (SPACE™, ADYCS™, HYSCAN™, FASTSCALE™)
• Cross-Kompatibilität von Testprogrammen und ISP Scripts zu allen anderen Boundary Scan Controllern von GÖPEL eletronic
• Einsatzfähig für Standard Boundary Scan Test, In-System-Programmierung (ISP) und In-System-Configurierung (ISC)
• Unterstützt Extended Boundary Scan Operationen in Kombination mit anderen Test und Programmierverfahren
• Einfache Integration in Third Party ATE (Flying Prober, ICT, MDA, Funktionstester…) als Boundary Scan Option
• Universell einsetzbare Lösung für Labor und Produktion

 SFX/PCIe1149-A – JTAG/Boundary Scan Controller mit mittlerer performance

Produktfeature

• ADYCS™ II (Active Delay Compensation)
• HYSCAN™ (Hybrid Scan)
• FASTSCALE™ (Fast Performance Scaling)
• Scan Data Buffer (TDI/TDO Cache)
• Unterstützt 8 parallele, unabhängige TAP
• TCK Frequenzbereich DC - 20 MHz
• TCK Schrittweite 250Hz

Target Applikationen auf Board- und Systemlevel

• In-System-Configuration grosser PLD/FPGA
• In-System-Programmierung von Flash < 1Mbit
• On Chip Flash Programmierung < 1Mbit
• Test von Einheiten bis mittlere Komplexität
• Steuerung komplexer Selbsttest (BIST)
• statische Mixed Signal Test / Verifikationen
• Gang Programmierung / Gang Test

 SFX/PCIe1149-B – JTAG/Boundary Scan Controller mit hoher performance

Produktfeatures

• ADYCS™ II (Active Delay Compensation)
• HYSCAN™ (Hybrid Scan)
• FASTSCALE™ (Fast Performance Scaling)
• SPACE™ II Scanarchitektur
• Unterstütz 8 parallele, unabhängige TAP
• TCK Frequenzbereich DC - 50 MHz
• TCK Schrittweite 250Hz / 1MHz

Target Applikationen auf Board- und Systemlevel

• In-System-Configuration grosser PLD/FPGA
• High Speed ISP von Flash > 1Mbit
• On Chip Flash Programmierung > 1Mbit
• Test von Einheiten mit höchster Komplexität
• Steuerung komplexer Selbsttests (BIST)
• statische Mixed Signal Tests / Verifikationen
• Gang Programmierung / Gang Test

 SFX/PCIe1149-C – JTAG/Boundary Scan Controller mit ultra hoher performance

Produktfeatures

• ADYCS™ II (Active Delay Compensation)
• HYSCAN™ (Hybrid Scan)
• FASTSCALE™ (Fast Performance Scaling)
• SPACE™ II-S Scanarchitektur
• Unterstützt 8 parallele, unabhängige TAP
• TCK Frequenzbereich DC - 80 MHz
• TCK Schrittweite 250Hz / 1MHz

Target Applikationen auf Board- und Systemlevel

• On Chip Flash Programmierung > 1Mbit
• System-In-Package (SIP) Test
• Steuerung komplexester Selbsttests (BIST)
• statische Mixed Signal Tests
• dynamische Funktionsverifikationen
• Testung von Dies
• Gang Programmierung / Gang Test