Das CION Module™/PCIe-x4 ermöglicht den strukturellen Test von x4 PCI Express Slots per IEEE1149.1./6. Kernelemente des Moduls sind ein CION™ ASIC gepaart mit differentiellen Testkanälen. Das low-cost Modul wird direkt in den zu testenden PCI Express Slot eingsteckt und über einen TAP (Test Access Port) angesteuert. Durch die On-Board IEEE1149.1 und IEEE1149.6 Testkanäle sind sämtliche High Speed Signalpins, Low Speed Signalpins und Spannungsversorgungspins von PCI Express 1.x und 2.0 kompatiblen Steckverbindern testbar.

CION Module™/PCIe-x4
	Highlights: Test von scanunfähigen x4 PCIe Slots  auf Backplanes und Motherboards Testkanäle nach IEEE1149.6 und IEEE1149.1 Standard Testet alle PCI Express Anschlüsse Basierend auf proprietärem CION™ ASIC Mehrere Module sind kaskadierbar (Daisy Chain Prinzip)