Das CION Module™/DIMM240 wurde speziell zur Erhöhung der Testbarkeit oder Programmierung von Non-Boundary-Scan-Bauelementen bereitgestellt. Das digitale low-cost Modul wird über die TAP (Test Access Ports) von speziellen CION™-ASICs seriell angesteuert und ermöglicht den Test sämtlicher Signal- und Spannungsversorgungspins von DIMM240 Sockeln für DDR2-SDRAM, kompatibel zum JEDEC-Standard JESD21-C.

Herzstück des Moduls sind mehrere der speziellen CION™ ASIC.

Der strukturelle Boundary Scan Test sämtlicher DIMM240 Signal- und Spannungsversorgungs-Pins erfolgt durch die On-Board CION™ ASIC Chips, wobei alle Kanäle unabhängig als Input/Output/Tristate schaltbar sind.

Alle Testkanäle bieten erhöhten Treiberstrom und ein sogenanntes "unstress" Feature zur Vermeidung von Interface Beschädigungen durch zu hohe Fehlerströme. Außerdem ist das CION Module™/DIMM240 hot swap fähig.

CION Module™/DIMM240
	Highlights: Test von DIMM240 Sockeln (DDR2) mit sechs CION Baugruppen gemäß JEDEC Standard (JESD 79-2C) Einstellung des notwendigen Spannungslevels gemäß JEDEC Standard (JESD 21-C) Testet alle DIMM Anschlüsse einschließlich Power and Ground Pins Basierend auf proprietärem CION™ ASIC Pro Pin individuell programmierbare Kanäle (Richtung) Spezielle Schutzfunktion "unstress" Programmierbare TAP Spannung Mehrere Module sind hot swap fähig