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    JTAG/Boundary Scan Hardware Tools

    Der Boundary Scan Controller bildet das Hardwareinterface zum Prüfling. GÖPEL electronic bietet die breiteste Produktpalette für Test- und ISP-Applikationen während des gesamten Produktlebenszyklus. Welcher Controller am besten geeignet ist, hängt von den individuellen Applikationsbedingungen ab. Die Testprogramme sind jedoch Controller-übergreifend kompatibel.

    Mit SCANFLEX® steht Ihnen eine Hardwarearchitektur zur Verfügung, die in punkto Modularität, Flexibilität und Leistungsumfang einzigartig und konkurrenzlos auf der Welt ist. [Hier] erfahren Sie alles zu SCANFLEX®.

    Die Scan Booster™ Controllerfamilie ist im unteren Preissegment angesiedelt und verfügt über ausreichende Performance für die meisten Test- und Programmieranforderungen. Die Ansteuerung mehrerer TAPs ist dabei genauso selbverständlich wie die Verwendung von PIP Signalen. Einzelheiten zu den Scan Booster™ Controllern finden Sie [hier].

    Überblick über verfügbare Controller:

    SCANFLEX® Boundary Scan Controller von GÖPEL electronic sind in drei Klassen (A, B und C) erhältlich, die sich wesentlich in ihren Leistungsparametern unterscheiden. Der Hauptunterschied betrifft die verfügbare BScan-Speicherarchitektur. Die B- und C-Controller sind mit der erweiterten und patentierten SPACE™ Architektur ausgestattet. Zusätzlich verfügen alle SCANFLEX® Controller über das HYSCAN™ Feature, ein Verfahren zur synchronen Ansteuerung der seriellen JTAG/Boundary Scan Vektoren und parallelen I/O Vektoren. Alle Boundary Scan Controller von GÖPEL electronic werden durch die Softwarepakete [CASCON GALAXY®] und [CASCON POLARIS™] umfassend unterstützt. Die Hardwaretreiber sind direkt in der Systemsoftware integriert und werden bei Auswahl des entsprechenden Controllers automatisch aktiviert.

    Die folgende Tabelle gibt Empfehlungen für geeignete Controller bei spezifischen Applikationen:

    Matrix zur Auswahl
    der geeigneten Hardware

    Applikation

     Chip Level Applikationen

    Test Applikation 

    ISP Applikation 

     System Applikation

     Controller
    Typ

    BUS
    Plattform

    Scan Booster/xxx
    (16MHz, Scan Data Buffer)

    PCI,
    USB2.0

    (√)

    (√)

    (√)

    (√)

    (√)

    -

    -

    -

    SFX/xxx1149.1-A
    (20MHz, Scan Data Buffer)

    PCI, PXI, VXI, USB2.0, LAN10/100, FireWire

    (√)

    (√)

    (√)

    (√)

    -

    -

    -

    SFX/xxx1149.1-B
    (50MHz, SPACE II)

    (√)

    -

    SFX/xxx1149.1-C
    (80MHz,
    SPACE II-S)

    -

     

    sehr gut geeignet

    (√)

    bedingt geeignet

    -

    nicht empfohlen

    Hinweis: Die SCANFLEX® Controller vom Typ -C sind nur bedingt für Board-Level Applikationen geeignet. Die vom Controller zur Verfügung gestellte Performance kann in der Regel durch das Board Design und die Begrenzungen der JTAG/Boundary Scan ICs nicht in vollem Umfang genutzt werden.

    Klicken Sie [hier] für Hinweise zur Auswahl des geeigneten Controllers.


    Die SPACE™ Architektur:

    JTAG/Boundary Scan ist ein datenintensives Verfahren. Bestimmte Prozeduren erfordern das Handling mehrerer Gigabit. Die patentierte SPACE™ Architektur von GÖPEL electronic ermöglicht kontinuierliche Bursts variabler Länge. Im Gegensatz zu traditionellen Lösungen, die mit linearen Buffern oder fester Datenkompression arbeiten, ist SPACE™ mit einem seriellen Mikrosequenzer vergleichbar. Daher ist es möglich, komplette Vektor-Sets ohne jeglichen Hostzugriff für mehrere unabhängige TAPs simultan zu generieren.

    Das HYSCAN™ Feature:

    Beim erweiterten JTAG/Boundary Scan Test über Steckverbinder hinweg ergibt sich das Problem, dass die externen Testkanäle, die aus Boundary Scan Pins bestehen, in den Scanpfad des Prüflings aufgenommen werden müssen. Dadurch ändert sich zwangsläufig die Anzahl der Bauelemente und Signale, die in den JTAG/Boundary Scan Test einbezogen werden.HYSCAN™ umgeht dieses Problem, indem ein virtuelles JTAG/Boundary Scan Device in die Testerstellung eingebunden wird. Die verbundene Hardware kann aus verschiedenen Komponenten bestehen, z.B. SCANFLEX® oder PXI I/O Modulen oder auch den Nadeln eines In-Circuit Testers. Damit ergibt sich sowohl eine Unabhängigkeit der verwendeten Hardware bei der Programmerstellung und -abarbeitung, die Unabhängigkeit vom Standort, als auch genauere Ergebnisse bei der Testabdeckungsanalyse und -report.

    HYSCAN Feature
     

    Klicken Sie [hier] für eine Liste entscheidender Kriterien zur Auswahl Ihrer JTAG/Boundary Scan Hardware.

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