IEEE 1149.1 Testability Devices / Testability Modules / Programming Pods

JTAG/Boundary Scan als innovative DfT-Methode benötigt für seine Durchsetzung entsprechend scanfähige Bauelemente auf der Unit Under Test (UUT). In der Praxis ist dies jedoch nicht immer gegeben, da z.B. Steckverbinder derartige Features gar nicht besitzen können. Ein weiteres Problemfeld ergibt sich aus der Tatsache, dass nicht sämtliche ICs mit JTAG/Boundary Scan verfügbar sind. Dadurch sind nicht-scanfähige Cluster oft unvermeidlich. Beide Probleme lassen sich mit Hilfe der folgenden Hardware lösen oder zumindest entschärfen.

[CION™]

[ADC/FXT 10]

[Programming POD]