Boundary Scan Probe

Bei der Boundary Scan Probe handelt es sich um ein Werkzeug zum Debuggen von Boards und JTAG/Boundary Scan ICs, ein virtuelles JTAG/Boundary Scan Pin mit vielseitigen Eigenschaften, u.a. statische und dynamische Logikstift-Funktionen. Die Kontaktierung des Testobjektes erfolgt über einen zweiten 10poligen TAP Steckverbinder und/oder über eine gefederte Tastspitze. Eine LED sorgt für Beleuchtung des Kontaktbereiches.

Einsatzgebiete sind der Prototypentest, die Verifikation von BSDL Dateien, sowie die Reparatur von defekten Boards. Eine eingebaute Strombegrenzung schützt das Testobjekt vor Überlastung.
Die Visualisierung der Logikpegel sowie des Aktiv/Inaktiv Zustandes des angetasteten Schaltungspunktes erfolgt durch LEDs. Die Funktionen Messen (Low, Mid-Range, High), Drive static Low, Drive static High, Toggle Drive Low/High sind einstellbar, dabei werden die Drive und Measure Zustände jeweils separat angezeigt. Pull-up und Pull-Down Funktionen ergänzen die Treiberfunktionalität. Das Gerät kann sowohl von einem BScan Controller als auch über eine eingebaute Batterie gespeist werden.

Highlights

LVTTL Technologie Statische und dynamische Kontrolle digitaler Leitungen sowie einzelner Pins nach IEEE1149.1 Visualisierung von Logikpegel und Treiberzustand ermöglicht schnelle Fehlersuche in Netzen Interne oder externe Stromversorgung Handliches Stiftgehäuse mit gefederter, beleuchteter Prüfspitze Kurzschlusssicheres Arbeiten Frei verfügbares Testprogramm zum Verifizieren von BScan ICs (Register- und Pinebene) Unkompliziertes Einbinden in vorhandenen Prüfling zur Erweiterung von Diagnose und Debugger Separater Steckverbinder zum direkten Einschleifen der BScan Probe in den Testbus des Prüflings (UUT) oder zum Emulieren des Scanpfades (BSDL Check) Konzipiert für Labor und Service, speziell für Inbetriebnahme sowie Reparatur