JTAG/Boundary Scan ist das wohl genialste Testverfahren, das ähnlich dem In-Circuit-Test in der Schaltung testet, den Fehlerort aufspürt, Tausende von Testpunkten – auch unter BGAs – setzt und dazu lediglich vier Leitungen braucht.
Boundary Scan bedeutet soviel wie „Testen in der Peripherie (at boundaries) eines Schaltkreises“.
Neben der Kernlogik und den Kontaktpunkten des ICs beinhaltet ein Schaltkreis zusätzliche Logik. Diese Testpunkte werden zwischen Kernlogik und den physikalischen Pins des Schaltkreises integriert.
Diese typische IC-Architektur und die Testbusverbindung der Chips untereinander sind Voraussetzung für den Einsatz von Boundary Scan.
Sind diese erfüllt, ist es möglich

• einzelne Bausteine zu testen
• die Verbindungen der ICs auf dem Board untereinander zu prüfen
• die Funktion des kompletten Boards unter Einsatzbedingungen zu überprüfen.

Um die Boundary Scan Philosophie anwenden zu können, müssen jedoch nicht alle Bauteile auf dem Board scanfähig sein. Sobald auch nur ein Bauelement diese Voraussetzung erfüllt, steht dem Einsatz von Boundary nichts mehr im Wege. Sehr gern erstellen wir Ihnen eine Testability Analyse, da es mittlerweile auch Tausende von Boundary Scan-fähigen Bausteinen gibt.

Im Gegensatz zu anderen Verfahren kann man Boundary Scan vom Beginn bis zum Ende der Produktion von Flachbaugruppen für folgende Applikationen einsetzen:

• zum Testen
• zur Design Verifikation
• zur In-System Programmierung