Low cost Paket für JTAG/Boundary Scan Einsteiger

SCANBOOSTER/USB Designer Studio ermöglicht Anwendern aus den Bereichen Entwicklung, Fertigung und Service die Erstellung von JTAG/Boundary Scan Anwendungen innerhalb kürzester Zeit. Das System umfasst sowohl Hardware als auch Software und ist sofort einsatzfähig.

Mit Hilfe des SCANBOOSTER/USB Designer Studio lässt sich eine Vielfalt von Anwendungen realisieren:

• Infrastruktur- und Verbindungstest
• Interner IC Test(INTEST/BIST)
• Test von Steckverbindern
• Erstellung manueller Tests
• Hardware-Verifikation

Der interaktive PIN Toggler ermöglicht:

• Steuerung von Schaltungsknoten per JTAG/Boundary Scan
• Automatische Ansteuerung scanunfähiger ICs (z.B. Bustreiber, Logik, etc.)
• Firmware oder Software ist nicht notwendig
• Direkte Steuerung gewünschter Signale und Visualisierung der Resultate
• Automatisches Cross-Referencing zwischen Layout und Schematic
• Aufzeichnung, Editierung und Wiederholung von Testschritten zur schnellen Generierung manueller Tests

CASCON GALAXY® ist eine vollständig integrierte Lösung mit umfassenden IC Bibliotheken und Werkzeugen automatischer Testprogrammgenerierung (ATPG). Weiterhin bietet die Software:

• Mehr als 80 CAD-Reader
• Fehlerdiagnose auf Netz- und Pinlevel
• Grafische Werkzeuge zu Hardware-Debugging
• Logikanalyse und Registerüberwachung
• Single/Batch Ausführung
• Integration in ICT, MDA & Flying Prober

Zahlreiche Optionen und volle Softwarekompatibilität ermöglichen die Funktionserweiterung des SCANBOOSTER/USB Designer Studio entsprechend den Bedürfnissen des Anwenders. Alle erstellten Applikationen können über den gesamten Produktlebenszyklus des Prüflings eingesetzt werden. Einige der verfügbaren Optionen sind hier aufgelistet:

• Cluster-/Komponententest
• Speichertest (SRAM, DRAM, NAND, NOR, ...)
• Test von PLD/FPGA
• Interne FLASH-Programmierung
• Externe FLASH-Programmierung

Scan Vision III mit Optionen:

• Virtual Schematic Visualizer
• True Schematic Visualizer
• Layout Visualizer
• Interactive PIN Toggler

TAP (Test Access Port) Erweiterungsoption:

• Zweiter TAP für SCANBOOSTER/USB
• Umstieg auf SCANFLEX^® Plattform

• Software-konfigurierbare TAP Parameter
• Programmierbare TCK-Frequenz bis zu 16MHz
• 32 dynamisch programmierbare Ein-/Ausgänge
• 2 analoge (10bit) Ein-/Ausgänge
• 6 Mehrzweck Ein-/Augänge und Trigger-Signale
• Automatische Testprogrammgenerierung (ATPG)
• Pin-Fehler-Erkennung
• Test-Vektor-Analyse (Advanced Vector Browser)
• Multi Mode Debugger
• JTAG/Boundary Scan Programmiersprache