SCANFLEX® - Hardwarearchitektur für JTAG-/Boundary-Scan-Systeme der nächsten Generation
Mit der Standardisierung von IEEE1149.1 (JTAG/Boundary Scan) im Jahre 1990 wurde der Grundstein für eines der heute erfolgreichsten Testverfahren gelegt. Darüber hinaus nutzen mittlerweile eine Reihe neuer Standards wie IEEE1532, IEEE1149.4 oder IEEE1149.6 die Offenheit und Flexibilität dieser Basisarchitektur für weiterführende Innovationen im Bereich Test und Programmierung. Weitere Standardisierungen sind bereits in Vorbereitung.
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 | Um unsere Rolle als führender JTAG/Boundary Scan Innovator weiterhin zu bewahren, haben wir vor kurzem die neue VarioCore® Technologie für SCANFLEX® I/O Module vorgestellt. I/O Module mit VarioCore® Technologie stellen zur Laufzeit rekonfigurierbare I/O-Funktionen zur Verfügung und nehmen damit eine außerordentliche Stellung für Automatisches Testequipment (ATE) auf Board- und Systemtestebene ein. |
Mit SCANFLEX® steht nunmehr eine revolutionäre neue Hardware-Plattform zur breiten praktischen Umsetzung der aus den heutigen und zukünftigen Standards erwachsenden technischen Möglichkeiten zur Verfügung. Dabei steht SCANFLEX® insbesondere für
 | Totale Modularität | |
 | Modulare Plattform bestehend aus SCANFLEX® Controller, SCANFLEX® TAP-Transceiver und SCANFLEX® I/O Modulen ermöglicht völlig individuell (re)konfigurierbare Systemlösungen | |
 | Modular erweiterbare Anzahl von bis zu 8 parallelen, unabhängigen TAP und bis zu 31 unabhängigen I/O Modulen sichert eine offene Skalierbarkeit der benötigten Ressourcen | |
 | Modular austauschbare TAP Interface Cards (TIC) bieten eine variable Unterstützung unterschiedlichster Interface-Typen und Integrationsumgebungen | |
 | Extreme Flexibilität | |
| Flexible elektrische Signalanpassung an die UUT durch bis zu 8 pro TAP programmierbare Interfaceparameter | |
| Flexible räumliche Anpassung an verteilte Zugriffspunkte sowohl für die jeweiligen TAP, als auch für die I/O Module bis zu 10m Entfernung vom Controller ohne Leistungseinschränkungen | |
| Flexible analoge und digitale Ressourcen sind in jedem TAP-Transceiver bereits standardmäßig integriert und können durch die optionalen I/O Module systematisch erweitert werden | |
 | Herausragende Leistungsfähigkeit | |
 | Leistungsfähiger Controller Chipsatz SPACETM II unterstützt HYSCANTM zum simultanen Handling von parallelen I/O Vektoren und seriellen Scan Vektoren bis zu 80MHz an 8 unabhängigen TAP | |
| Leistungsfähige Synchronisation von analogen, digitalen und mixed-signal Ressourcen mit dynamischen TAP-Operationen und externen Trigger-Events | |
| Leistungsfähiges Konfigurations- und Upgrademanagement "on the fly" durch SCANFLEX® AutoDetect Feature und FASTSCALETM Technologie | |
Das Funktionsprinzip von SCANFLEX® im Überblick (Beispielkonfiguration)
Test und ISP Applikationen profitieren von SCANFLEX
 | Einheitliche Hardware-Plattform für vielfältige Test- und Programmierprozeduren |
 | Modulkonzept sichert geringen Overhead bei Investitionen durch schrittweise Skalierung |
 | Optimale Integrierbarkeit in Third Party Flying Prober, ICT, MDA oder Funktionstester |
| Modernste Systemarchitektur mit Daten-Splitting für serielle und parallele Ressourcen |
 | Ermöglicht erweiterte Boundary Scan Tests mit höchster Fehlerabdeckung |
 | Neueste Link-Technologien sichern höchsten Datendurchsatz an allen Zugriffspunkten |
| Offenheit sichert die effiziente Unterstützung heutiger und zukünftiger Standards |
 | Kontinuierliche Weiterentwicklung des Systems und weltweiter Applikationssupport |
 | Kundenspezifische Frontend Lösungen nach Maß durch SCANFLEX® Engineering |
| Vollständige Software-Unterstützung aller Features durch SYSTEM CASCON |
