IEEE 1149.1 Analyzer
Boundary Scan Probe
Bei der Boundary Scan Probe handelt es sich um ein Werkzeug zum Debuggen von Boards und JTAG/Boundary Scan ICs, ein virtuelles JTAG/Boundary Scan Pin mit vielseitigen Eigenschaften, u.a. statische und dynamische Logikstift-Funktionen. Die Kontaktierung des Testobjektes erfolgt über einen zweiten 10poligen TAP Steckverbinder und/oder über eine gefederte Tastspitze. Eine LED sorgt für Beleuchtung des Kontaktbereiches.
Einsatzgebiete sind der Prototypentest, die Verifikation von BSDL Dateien, sowie die Reparatur von defekten Boards. Eine eingebaute Strombegrenzung schützt das Testobjekt vor Überlastung.
Die Visualisierung der Logikpegel sowie des Aktiv/Inaktiv Zustandes des angetasteten Schaltungspunktes erfolgt durch LEDs. Die Funktionen Messen (Low, Mid-Range, High), Drive static Low, Drive static High, Toggle Drive Low/High sind einstellbar, dabei werden die Drive und Measure Zustände jeweils separat angezeigt. Pull-up und Pull-Down Funktionen ergänzen die Treiberfunktionalität. Das Gerät kann sowohl von einem BScan Controller als auch über eine eingebaute Batterie gespeist werden.
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