Sprache wählen
JTAG/Boundary Scan
Home > JTAG/Boundary Scan > Technologien > Testfokussierte ESA-Technlogien

Testfokussierte ESA-Technlogien

Embedded System Access (ESA) - testfokusiert

Embedded-System-Access-Technologien mit seriellem Testbus zur Kommunikation.

JTAG-/Boundary-Scan-Test (BST)

Architektur eines Boundary-Scan-Schaltkreises
Architektur eines Boundary-Scan-Schaltkreises

Boundary Scan wurde 1990 als IEEE 1149.1 standardisiert. Die Technologie definiert sogenannte Boundary-Scan-Zellen als die primären Zugriffspunkte auf ein System. Die Gesamtheit der Zellen bildet das Boundary-Scan-Register, welches über einen Test Access Port (TAP) angesteuert wird.

Alle Vektoren werden seriell ein- und ausgeschoben. Der Testbus selbst besteht aus vier Signalen und einem optionalen Reset.

Boundary Scan ist ein strukturelles Verfahren und bietet insbesondere beim Verbindungstest von BGA-Pins eine exzellente Fehlerdiagnose. Da die Tests jedoch statischer Natur sind, können dynamische Fehler nicht erkannt werden. 

Ergänzend zu IEEE 1149.1 existieren mittlerweile eine Reihe weiterer IEEE-1149.x-Standards zur Erhöhung der Fehlerabdeckung.

GÖPEL electronics Lösungsansatz zum Boundary-Scan-Test heißt Software definierte Instrumentierung. Sowohl die Hardware, als auch die Software-Werkzeuge werden durch entsprechende IPs (Intellectual Properties) an die eigentliche Zielmission dynamisch adaptiert.
Hardware-Produkte aus der SCANFLEX-Familie
SCANFLEX Hardware-Plattform
SYSTEM CASCON Software-Plattform
Software-Plattform SYSTEM CASCON

Processor Emulation Test (PET)

Mikroprozessors als Testzentrum
JTAG-Steuerung des nativen Mikroprozessors als Testzentrum

Der Prozessor-Emulationstest nutzt das eigentlich zur Softwarevalidierung
implementierte Debug-Interface eines Mikroprozessors aus, um den Prozessorkern in einen nativen Testcontroller zu transformieren. Damit wird der Prozessor selbst zum Zugriffspunkt auf das System.

Ferngesteuert über JTAG oder andere Debug-Interfaces ist er dann in der Lage, sämtliche an seinen Systembus angeschlossenen internen oder externen Ressourcen anzusteuern und einzeln über entsprechende Testvektoren in Form von Schreib- und Lesezugriffen zu testen.

Ein Betriebssystem oder eine Flash-Firmware sind nicht notwendig. Die Technologie ermöglicht die Abdeckung sowohl statischer als auch dynamischer Fehler. Sie ist durch den funktionalen Ansatz jedoch in der Diagnosetiefe eingeschränkt. Die PET-Technologie ergänzt Boundary Scan hervorragend und  ermöglicht insbesondere den Test von dynamischen Komponenten wie  DDR-SDRAM, Gigabit-Interfaces und anderer nicht scanbarer Komponenten auf Chip-, Board- und Unit-Level.

GÖPEL electronics Lösungsansatz zum Prozessor-Emulationstest heißt Software definierte Instrumentierung. Sowohl die Hardware-, als auch die Software-Werkzeuge werden durch entsprechende IPs (Intellectual Properties) an die eigentliche Zielmission dynamisch adaptiert.
Hardware-Produkte aus der SCANFLEX-Familie
SCANFLEX
Prozessor-Emulationstechnologie VarioTAP
Emulationstechnologie VarioTAP

Chip-Embedded Instruments (IJTAG)

Chip-embedded Instruments
Funktionsprinzip der Chip-embedded Instruments

Chip-Embedded Instrumentierungen sind im Grunde genommen im Schaltkreis integrierte Test- und Mess-IPs (Intellectual Properties), welche über den Testbus angesteuert werden. Ihre Funktonalität ist völlig offen und reicht von simplen Sensoren, über komplexere Signal- und Datenerfassung bis hin zu kompletten Analyseinstrumenten oder Programmgebern.

Die IPs selbst sind entweder fest in einem Chip integriert, können aber auf Basis von Field Programmable Gate Arrays (FPGA) auch temporär im System aktiviert werden.

Chip-Embedded Instrumentierungen werden bereits seit vielen Jahren im Bereich des Chiptests z.B. in Form von Built In Self-Test-IPs eingesetzt.
Bisher waren diese IPs zugriffsseitig nicht genormt, aber der sich in Entwicklung befindende Standard IEEE 1687 (IJTAG) wird dies ändern.

Traditionelle Test- und Messgeräte weisen zunehmend Zugriffsprobleme auf. Mit dem IEEE-1687-Standard bekommt die Testerbranche vor allem im Bereich der GBit-Analysen eine Alternative geboten.

GÖPEL electronics Lösungsansatz zur Chip-Embedded Instrumentierung heißt Software definierte Instrumentierung. Sowohl die Hardware-, als auch die Software-Werkzeuge werden durch entsprechende IPs (Intellectual Properties) an die eigentliche Zielmission dynamisch adaptiert.
Hardware-Produkte aus der SCANFLEX-Familie
SCANFLEX
Software-Plattform SYSTEM CASCON*
Software-Plattform SYSTEM CASCON
  In-System Technologie ChipVORX
In-System Technologie ChipVORX

* abhängig vom Instrument und der Implementierung

GÖPEL electronic GmbH, Göschwitzer Straße 58/60, 07745 Jena
Tel. +49-3641-6896-0, Fax +49-3641-6896-944, www.goepel.com