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JTAG/Boundary Scan
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Embedded System Access Technologien - ESA

Embedded System Access - Testzugriff in neuen Dimensionen

Embedded System Access (ESA)

Der Wandel zum mehrdimensionalen Zugriff begann schon Ende der 90er Jahre. Die derzeitige Ära des Embedded System Access (ESA) wird weiter die "alten" Testverfahren, In-Circuit Test (ICT) und Flying Probe (FPT) übernehmen aber auf längere Zeit gesehen zunehmend ablösen. Bei modernen System-Baugruppen mit Ball Grid Array (BGA) und Chip Size Packaging (CSP) ist die Strategie der Nadelkontaktierung kaum mehr anwendbar.

Embedded System Access ist mehr als nur JTAG, es vereint verschiedene Technologien mit verschiedenen Zugriffsmechanismen.

Flash ist Pflicht!

Mit dem Boundary-Scan-Standard IEEE 1149.1 wurde schon 1990 der Grundstein für den eingebetteten Zugriff auf das System (Embedded System Access-ESA) gelegt. Boundary Scan (BST) ersetzt den mechanischen Zugriff durch einen elektrischen Zugriff, der direkt in der Schaltung testet.

Embedded System Access-Technologien und ihre Features


Feature
Testart strukturell funktional offen* funktional
Testgeschwindigkeit statisch dynamisch offen* Echtzeit
Zugriff über Boundary-Scan-Schaltkreis Prozessor iJTAG-Schaltkreis Prozessor
Fehlerabdeckung statisch dynamisch offen* dynamisch
Diagnoselevel Pin Netz/Pin offen* Schaltkreis/Netz
Zugehöriger IEEE Standard 1149.x 1149.7
ISTO 5001
P1687 -

* abhängig von der Implementierung

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