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JTAG/Boundary Scan
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In Circuit Test (ICT)

In-Circuit-Test (ICT) mit JTAG/Boundary Scan

In-Circuit-Test (ICT) mit JTAG/Boundary Scan
In-Circuit-Test (ICT) mit JTAG/Boundary Scan

Integration von JTAG/Boundary Scan in In-Circuit-Tester (ICT)

Der In-Circuit-Test ist das momentan noch am weitesten verbreitete Verfahren, da man damit im Prinzip alle elektrisch detektierbaren Fehler finden kann. Der In-Circuit-Test wird allerdings mehr und mehr durch Zugriffsschwierigkeiten limitiert, da die Bauteile immer komplexer und die Abstände immer kleiner werden. JTAG/Boundary Scan hingegen hat keine Zugriffsbeschränkungen. Eine Kombination des In-Circuit-Test mit JTAG/Boundary Scan ist dann vorteilhaft, wenn der mechanische Zugriff eingeschränkt oder auch nicht genügend JTAG/Boundary Scan-fähige Bauteile auf der Baugruppe zu finden sind.

Vorteile der Integration von JTAG/Boundary Scan in In-Circuit-Tester:
  • sehr schnelles Gesamtsystem bestehend aus JTAG/Boundary Scan und In-Circuit-Tester
  • sehr hohe Fehlerabdeckung durch die Integration von JTAG/Boundary Scan mit In-Circuit-Tester auch bei hochkompakten Flachbaugruppen
  • Reduzierung der Kosten für den Nadelbettadapter
  • einfache Testprogrammerstellung, da jedes Testverfahren (JTAG/Boundary San und In-Circuit-Test) für seine Kernkompetenzen genutzt wird

Integrieren Sie Boundary Scan in Ihr System:

JTAG/Boundary Scan Integration in die Aeroflex Serien

Aeroflex

Aeroflex Serie 42x0, 43x0, 53x0

Die SCANFLEX® JTAG/Boundary Scan Hardware unterstützt die Aeroflex 42x0, 43x0, 53x0 von Multikonfigurations bzw. Multifunktions-ATE Systemen.

Mit dieser Boundary Scan Integration steht den Anwendern eine Vielzahl zusätzlicher Testmöglichkeiten auf Board- und Systemebene über den gesamten Produktlebenszyklus ohne invasiven Nadelbettzugriff zur Verfügung. Neben der wesentlich höheren Testabdeckung sind weitere Vorteile eine signifikante Kostenreduzierung sowie Time-to-Market.

Die Testerplattform von Aeroflex unterstützt nun die unverfälschte Wiederverwendbarkeit aller JTAG/Boundary Scan Test- und Programmierprozeduren, die mit der CASCON GALAXY® Software von GÖPEL electronic generiert wurden.

Integrationsbeispiel für Aeroflex Tester 4250

Kombination des In-Circuit Aeroflex Testers 4250 mit SCANFLEX® -Hardware Controller PCI + SFX-TAP4/FXT + TIC02SR inkl. der Software CASCON GALAXY® 4.x für Aeroflex 4250 von GÖPEL electronic.

Integration in Aeroflex Tester 4250

JTAG/Boundary Scan Integration in die Agilent 3070 Serie

Agilent

Agilent 3070 - Utility Card Module UCM3070/x

Die UCM3070/x ist eine professionelle JTAG/Boundary-Scan-Option, welche speziell für die Utility Card von Agilent entwickelt wurde. Der auf der SCANBOOSTER™-Architektur basierende TAP-Controller hat zwei unabhängig voneinander programmierbare TAPs, zwei Bänke mit jeweils 4 PIPs und eine Selbsttestfunktionalität. Zwei PIP-Signale können als analoge Kanäle zum Treiben und Messen analoger Werte während der Testerstellung mit SYSTEM CASCON™ benutzt werden.

Die Stromversorgung des JTAG/Boundary-Scan-Moduls erfolgt über die Utility-Card-Schnittstelle von Agilent. Somit wird keine extra Stromversorgung benötigt.
Ein Erweiterungsstecker dient als Schnittstelle für zukünftige Entwicklungen von externen Modulen.

Plug-on Modul für Agilent ICT
  • JTAG/Boundary-Scan-Lösung für die Utility Card von Agilent in den Medalist ICT
  • Offizell von Agilent und GÖPEL electronic validierte Systemintegration
  • Einfache und voll dokumentierte SYSTEM CASCON™-Schnellinstallation
  • Erweiterte Selbsttestfunktionen für einfachen Systemcheck
  • SCANBOOSTER™-Architektur auf Basis von USB 2.0 Highspeed
  • Zwei TAPs, 8 parallele PIPs und zwei optionale analoge Kanäle
  • On-Board-Powermanagement - Stromversorgung von Agilent

JTAG/Boundary Scan Integration in Digitaltest MTS

Digitaltest

Digitaltest MTS 30/180/300/888

Die SCANFLEX JTAG/Boundary Scan Hardware unterstützt die Digitaltest MTSxx Serie von In-Circuit-Testern.

Die integrierte Boundary Scan Hardware besteht aus einem PCI-Controller, einem TAP Transceiver, TAP Interface Cards (TIC). Die Architektur des Controllers unterstützt Datenraten bis 80 MHz an bis zu acht unabhängigen TAP. Neben der wesentlich höheren Testabdeckung sind weitere Vorteile eine signifikante Kostenreduzierung sowie Time-to-Market.

Ein Highlight dieser Integration ist die softwareseitige Ansteuerung der Testkanäle des Digitaltest In-Circuit-Tester. Dadurch ist es möglich Boundary Scan Tests auf dem Adapter der Digitaltest-Maschine mit Interaktion zwischen Boundary Scan IC und In-Circuit Tester auszuführen.

Die Testerplattform der MTSxx-Serie von Digitaltest unterstützt nun die unverfälschte Wiederverwendbarkeit aller JTAG/Boundary Scan Test- und Programmierprozeduren, die mit der CASCON GALAXY Software von GÖPEL electronic generiert wurden.

Integrationsbeispiel für Digitaltest Tester MTS888

Kombination des Digitaltest Testers MTS888 mit SCANFLEX Hardware Controller PCI + SFX-TAP4/FXT + TIC02SR inkl. der Software CASCON GALAXY 4.x für Digitaltest MTS888 von GÖPEL electronic.

JTAG/Boundary Scan Integration in Rohde & Schwarz Tester

Rohde und Schwarz

Rohde & Schwarz TSVP

Die SCANFLEX® JTAG/Boundary Scan Hardware unterstützt die Rohde & Schwarz Serie TSVP von Multikonfigurations bzw. Multifunktions-ATE Systemen.

Flash ist Pflicht!

Die integrierte Boundary Scan Hardware für die TSVP-Systeme besteht aus einem PXI Compact-Controller mit Paddle Card und der TAP Interface Card, TIC02SR. Die Architektur des Controllers unterstützt Datenraten bis 80 MHz an bis zu acht unabhängigen TAP mit Zusatzresourcen. Neben der wesentlich höheren Testabdeckung sind weitere Vorteile eine signifikante Kostenreduzierung sowie Reduced Time-to-Market.

Die Testerplattform der TSVP-Serie unterstützt nun die unverfälschte Wiederverwendbarkeit aller JTAG/Boundary Scan Test- und Programmierprozeduren, die mit der CASCON GALAXY® Software von GÖPEL electronic generiert wurden.

Integrationsbeispiel für TSVP Tester von Rohde & Schwarz

Kombination des PXI-Multifunktionstesters der Serie TSVP von Rohde & Schwarz mit SCANFLEX Hardware Controller PXI Compact Version 4TAP und der TAP Interface Card TIC02SR inkl. der Software CASCON GALAXY® 4.5x von GÖPEL electronic.

JTAG/Boundary Scan Integration in TSVP Tester

Rohde & Schwarz TSx

Die SCANFLEX® JTAG/Boundary Scan Hardware unterstützt die Rohde & Schwarz Serie TSx von Multikonfigurations bzw. Multifunktions-ATE Systemen.

Die integrierte Boundary Scan Hardware für die TSx-Systeme sowie die konventionellen ICT-Serien TSI/TSA besteht aus einem PCI-Controller, einem Fixture Transceiver und TAP Interface Cards, TIC02SR. Die Architektur des Controllers unterstützt Datenraten bis 80 MHz an bis zu acht unabhängigen TAP mit Zusatzresourcen. Neben der wesentlich höheren Testabdeckung sind weitere Vorteile eine signifikante Kostenreduzierung sowie Time-to-Market.

Die Testerplattform der TSx-Serie unterstützt nun die unverfälschte Wiederverwendbarkeit aller JTAG/Boundary Scan Test- und Programmierprozeduren, die mit der CASCON GALAXY® Software von GÖPEL electronic generiert wurden.

JTAG/Boundary Scan Integration in SPEA

Spea

Spea ICT Serie 3030

Die SCANFLEX JTAG-/Boundary-Scan-Hardware unterstützt die SPEA In-Circuit-Tester Serie 3030 von der Firma SPEA.

Die integrierte Boundary-Scan-Hardware besteht aus einem PCI-Controller, einem Fixture Transceiver und vier TAP Interface Cards (TIC). Die Architektur des Controllers unterstützt Datenraten bis 80 MHz an bis zu acht unabhängigen TAP. Neben der wesentlich höheren Testabdeckung sind weitere Vorteile eine signifikante Kostenreduzierung sowie Time-to-Market.

Ein Highlight dieser Integration ist die softwareseitige Ansteuerung der Testkanäle des SPEA In-Circuit-Tester. Dadurch ist es möglich Boundary Scan Tests auf dem Adapter der SPEA-Maschine mit Interaktion zwischen Boundary Scan IC und In-Circuit Tester auszuführen.

Die Testerplattform der 3030-Serie von SPEA unterstützt nun die unverfälschte Wiederverwendbarkeit aller JTAG/Boundary Scan Test- und Programmierprozeduren, die mit der CASCON GALAXY Software von GÖPEL electronic generiert wurden.

Integrationsbeispiel für SPEA 3030

Kombination des In-Circuit-Testers SPEA 3030 mit SCANFLEX-Hardware Controller PCI + SFX-TAP4/FXT + TIC02SR inkl. der Software CASCON GALAXY 4.5x von GÖPEL electronic.

JTAG/Boundary Scan Integration in SPEA 3030

JTAG/Boundary Scan Integration in TERADYNE Tester

TERADYNE

Teradyne Serie TSSE/Spectrum 88xx 

Die JTAG/Boundary Scan Hardwareplattform SCANFLEX unterstützt TERADYNE’s Spectrum Baugruppentester vom Typ In-Circuit Test.

Ein Highlight dieser Integration ist die softwareseitige Ansteuerung der Testkanäle des TERADYNE In-Circuit-Tester. Dadurch ist es möglich Boundary Scan Tests auf dem Adapter der TERADYNE-Maschine mit Interaktion zwischen Boundary Scan IC und In-Circuit Tester auszuführen.

Die Testerplattform der 88xx-Serie von TERADYNE unterstützt nun die unverfälschte Wiederverwendbarkeit aller JTAG/Boundary Scan Test- und Programmierprozeduren, die mit der CASCON GALAXY Software von GÖPEL electronic generiert wurden.

Integrationsbeispiel für Teradyne Testers 88xx/Spectrum/TSSE

Kombination des Teradyne Testers 88xx/Spectrum/TSSE mit SCANFLEX Hardware Controller PCI + SFX Transceiver für den Pin Slot inkl. der Software CASCON GALAXY 4.5x für Teradyne 88xx von GÖPEL electronic.

TERADYNE Tester TestStation TS12x LH/LX und ehemaliger Genrad-Tester Serie 228x

Die JTAG-/Boundary-Scan-Hardwareplattform SCANFLEX unterstützt TERADYNE’s TestStation Baugruppentester vom Typ In-Circuit Test.

Die Testerplattform der TS12x-Serie von TERADYNE unterstützt nun die unverfälschte Wiederverwendbarkeit aller JTAG/Boundary Scan Test- und Programmierprozeduren, die mit der CASCON GALAXY Software von GÖPEL electronic generiert wurden.

Integrationsbeispiel für Teradyne Testers GR228x/TSLH/TS12x/TS8x

Kombination des Teradyne Testers GR228x/TSLH/TS12x/TS8x mit SCANFLEX Hardware Controller PCI + SFX Transceiver für den Pin Slot inkl. der Software CASCON GALAXY 4.5x für Teradyne 228xx von GÖPEL electronic.

Integrationsbeispiel für Teradyne Tester
GÖPEL electronic GmbH, Göschwitzer Straße 58/60, 07745 Jena
Tel. +49-3641-6896-0, Fax +49-3641-6896-944, www.goepel.com