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JTAG/Boundary Scan
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In Circuit Test (ICT)

In-Circuit-Test (ICT) mit JTAG/Boundary Scan

In-Circuit-Test (ICT) mit JTAG/Boundary Scan
In-Circuit-Test (ICT) mit JTAG/Boundary Scan

Integration von JTAG/Boundary Scan in In-Circuit-Tester (ICT)

Der In-Circuit-Test ist das momentan noch am weitesten verbreitete Verfahren, da man damit im Prinzip alle elektrisch detektierbaren Fehler finden kann. Der In-Circuit-Test wird allerdings mehr und mehr durch Zugriffsschwierigkeiten limitiert, da die Bauteile immer komplexer und die Abstände immer kleiner werden. JTAG/Boundary Scan hingegen hat keine Zugriffsbeschränkungen. Eine Kombination des In-Circuit-Test mit JTAG/Boundary Scan ist dann vorteilhaft, wenn der mechanische Zugriff eingeschränkt oder auch nicht genügend JTAG/Boundary Scan-fähige Bauteile auf der Baugruppe zu finden sind.

Vorteile der Integration von JTAG/Boundary Scan in In-Circuit-Tester:
  • sehr schnelles Gesamtsystem bestehend aus JTAG/Boundary Scan und In-Circuit-Tester
  • sehr hohe Fehlerabdeckung durch die Integration von JTAG/Boundary Scan mit In-Circuit-Tester auch bei hochkompakten Flachbaugruppen
  • Reduzierung der Kosten für den Nadelbettadapter
  • einfache Testprogrammerstellung, da jedes Testverfahren (JTAG/Boundary San und In-Circuit-Test) für seine Kernkompetenzen genutzt wird

Integrieren Sie Boundary Scan in Ihr System:

JTAG/Boundary Scan Integration in die Aeroflex Serien

Aeroflex

Aeroflex Serie 42x0, 43x0, 53x0

Die JTAG/Boundary Scan Hardwareplattform SCANFLEX unterstützt die Serie 42x0, 43x0, 53x0 von In-Circuit-Testern der Firma Aeroflex.

Mit dieser Boundary Scan Integration steht den Anwendern eine Vielzahl zusätzlicher Testmöglichkeiten auf Board- und Systemebene über den gesamten Produktlebenszyklus ohne zusätzliche Kontaktierung zur Verfügung. Neben der wesentlich höheren Testabdeckung sind weitere Vorteile eine signifikante Kostenreduzierung sowie Time-to-Market.

Die Testerplattform von Aeroflex unterstützt nun die unverfälschte Wiederverwendbarkeit aller JTAG/Boundary Scan Test- und Programmierprozeduren, die mit der CASCON GALAXY® Software von GÖPEL electronic generiert wurden.

Integrationsbeispiel für Aeroflex Tester 4200

Boundary Scan Integration in Aeroflex Tester 4200

Kombination aus Aeroflex Tester 4200 mit SCANFLEX-Hardware:

  • Controller SFX/PCI1149
  • TAP Transceiver SFX-TAP4/FXT
  • TAP Interface Card TIC02/SR

und Software:

  • CASCON GALAXY 4.x für Aeroflex

JTAG/Boundary Scan Integration in die Agilent 3070 Serie

Agilent

Die JTAG/Boundary Scan Hardwareplattform SCANFLEX unterstützt die Serie 3070 von In-Circuit-Testern der Firma Agilent.

Die integrierte Boundary-Scan-Hardware besteht aus einem PCI-Controller und einem TAP Transceiver. Die Architektur des Controllers unterstützt Datenraten bis 80 MHz an bis zu vier unabhängigen TAPs. Neben der wesentlich höheren Testabdeckung sind weitere Vorteile eine signifikante Kostenreduzierung sowie Time-to-Market

Die Testerplattform der 3070-Serie von Agilent unterstützt nun die unverfälschte Wiederverwendbarkeit aller JTAG/Boundary Scan Test- und Programmierprozeduren, die mit der CASCON GALAXY Software von GÖPEL electronic generiert wurden.

Integrationsbeispiel für die 3070 Serie von Agilent

Boundary Scan Integration in Agilent 3070 Tester

Kombination aus Agilent Tester 3070/i5000 mit SCANFLEX Hardware:

  • Controller SFX/PCI1149
  • SFX-TAP4/3070-PIC für den Pin Slot

und Software:

  • CASCON GALAXY 4.x für Agilent 3070 von GÖPEL electronic

Agilent 3070 - Utility Card Module UCM3070/x

Die UCM3070/x ist eine professionelle JTAG/Boundary-Scan-Option, welche speziell für die Utility Card von Agilent entwickelt wurde. Der auf der SCANBOOSTER™-Architektur basierende TAP-Controller hat zwei unabhängig voneinander programmierbare TAPs, zwei Bänke mit jeweils 4 PIPs und eine Selbsttestfunktionalität. Zwei PIP-Signale können als analoge Kanäle zum Treiben und Messen analoger Werte während der Testerstellung mit SYSTEM CASCON™ benutzt werden.

Die Stromversorgung des JTAG/Boundary-Scan-Moduls erfolgt über die Utility-Card-Schnittstelle von Agilent. Somit wird keine extra Stromversorgung benötigt.
Ein Erweiterungsstecker dient als Schnittstelle für zukünftige Entwicklungen von externen Modulen.

Plug-on Modul für Agilent ICT
  • JTAG/Boundary-Scan-Lösung für die Utility Card von Agilent in den Medalist ICT
  • Offizell von Agilent und GÖPEL electronic validierte Systemintegration
  • Einfache und voll dokumentierte SYSTEM CASCON™-Schnellinstallation
  • Erweiterte Selbsttestfunktionen für einfachen Systemcheck
  • SCANBOOSTER™-Architektur auf Basis von USB 2.0 Highspeed
  • Zwei TAPs, 8 parallele PIPs und zwei optionale analoge Kanäle
  • On-Board-Powermanagement - Stromversorgung von Agilent

JTAG/Boundary Scan Integration in Digitaltest MTS

Digitaltest

Digitaltest MTS 30/180/300/888

Die JTAG/Boundary Scan Hardwareplattform SCANFLEX unterstützt die MTS-Serie von In-Circuit-Testern der Firma Digitaltest.

Die integrierte Boundary Scan Hardware besteht aus einem PCI-Controller, einem Fixture TAP Transceiver und der TAP Interface Card (TIC). Die Architektur des Controllers unterstützt Datenraten bis 80 MHz an bis zu vier unabhängigen TAPs. Neben der wesentlich höheren Testabdeckung sind weitere Vorteile eine signifikante Kostenreduzierung sowie Time-to-Market.

Ein Highlight dieser Integration ist die softwareseitige Ansteuerung der Testkanäle des Digitaltest In-Circuit-Tester. Dadurch ist es möglich Boundary Scan Tests auf dem Adapter der Digitaltest-Maschine mit Interaktion zwischen Boundary Scan IC und In-Circuit Tester auszuführen.

Die Testerplattform der MTS-Serie von Digitaltest unterstützt nun die unverfälschte Wiederverwendbarkeit aller JTAG/Boundary Scan Test- und Programmierprozeduren, die mit der CASCON GALAXY Software von GÖPEL electronic generiert wurden.

Integrationsbeispiel für Digitaltest Tester MTS888

Boundary Scan Integration in Digitaltest MTS

Kombination aus Digitaltest Tester MTS888 mit SCANFLEX Hardware:

  • Controller SFX/PCI1149
  • TAP Transceiver SFX-TAP4/FXT
  • TAP Interface Card TIC02/SR

und Software:

  • CASCON GALAXY 4.x für Digitaltest MTS888

JTAG/Boundary Scan Integration in die Rohde & Schwarz Serie TSVP

Rohde und Schwarz

Die JTAG/Boundary Scan Hardwareplattform SCANFLEX unterstützt die Rohde & Schwarz Serie TSVP von Multikonfigurations bzw. Multifunktions-ATE Systemen.

Flash ist Pflicht!

Die integrierte Boundary Scan Hardware für die TSVP-Systeme besteht aus einem PXI Compact-Controller mit Paddle Card und der TAP Interface Card, TIC02SR. Die Architektur des Controllers unterstützt Datenraten bis 80 MHz an bis zu vier unabhängigen TAPs mit Zusatzresourcen. Neben der wesentlich höheren Testabdeckung sind weitere Vorteile eine signifikante Kostenreduzierung sowie Reduced Time-to-Market.

Die Testerplattform der TSVP-Serie unterstützt nun die unverfälschte Wiederverwendbarkeit aller JTAG/Boundary Scan Test- und Programmierprozeduren, die mit der CASCON GALAXY Software von GÖPEL electronic generiert wurden.

Integrationsbeispiel für TSVP Tester von Rohde & Schwarz

JTAG/Boundary Scan Integration in TSVP Tester

Kombination des PXI-Multifunktionstesters der Serie TSVP von Rohde & Schwarz mit SCANFLEX Hardware

  • Controller SFX/PXI1149/C4-FXT
  • TAP Interface Card TIC02/SR

und Software:

  • CASCON GALAXY 4.x für Rohde & Schwarz TSVP

JTAG/Boundary Scan Integration in die SPEA Serie 3030

Spea

Die JTAG-/Boundary-Scan-Hardwareplattform SCANFLEX unterstützt die 3030-Serie von In-Circuit-Tester Serie der Firma SPEA.

Die integrierte Boundary-Scan-Hardware besteht aus einem PCI-Controller, einem TAP Transceiver mit TAP Interface Card (TIC). Die Architektur des Controllers unterstützt Datenraten bis 80 MHz an bis zu vier unabhängigen TAPs. Neben der wesentlich höheren Testabdeckung sind weitere Vorteile eine signifikante Kostenreduzierung sowie Time-to-Market.

Ein Highlight dieser Integration ist die softwareseitige Ansteuerung der Testkanäle des SPEA In-Circuit-Tester. Dadurch ist es möglich Boundary Scan Tests auf dem Adapter der SPEA-Maschine mit Interaktion zwischen Boundary Scan IC und In-Circuit Tester auszuführen.

Die Testerplattform der 3030-Serie von SPEA unterstützt nun die unverfälschte Wiederverwendbarkeit aller JTAG/Boundary Scan Test- und Programmierprozeduren, die mit der CASCON GALAXY Software von GÖPEL electronic generiert wurden.

Integrationsbeispiel für SPEA 3030

JTAG/Boundary Scan Integration in SPEA 3030

Kombination aus SPEA Tester 3030 mit SCANFLEX-Hardware:

  • Controller SFX/PCI1149
  • TAP Transceiver SFX-TAP4/FXT
  • TAP Interface Card TIC02/SR

und Software:

  • CASCON GALAXY 4.x für SPEA 3030 von GÖPEL electronic

JTAG/Boundary Scan Integration in TERADYNE Serie TestStation/Spectrum

TERADYNE

Teradyne Serie TSSE/Spectrum 88xx

Die JTAG/Boundary Scan Hardwareplattform SCANFLEX unterstützt die Spectrum-Serie von In-Circuit Testern der Firma Teradyne.

Die integrierte Boundary-Scan-Hardware besteht aus einem PCI-Controller und einem TAP Transceiver mit TAP Interface Cards (TIC). Die Architektur des Controllers unterstützt Datenraten bis 80 MHz an bis zu acht unabhängigen TAP. Neben der wesentlich höheren Testabdeckung sind weitere Vorteile eine signifikante Kostenreduzierung sowie Time-to-Market.

Ein Highlight dieser Integration ist die softwareseitige Ansteuerung der Testkanäle des TERADYNE In-Circuit-Tester. Dadurch ist es möglich Boundary Scan Tests auf dem Adapter der TERADYNE-Maschine mit Interaktion zwischen Boundary Scan IC und In-Circuit Tester auszuführen.

Die Testerplattform der 88xx-Serie von TERADYNE unterstützt nun die unverfälschte Wiederverwendbarkeit aller JTAG/Boundary Scan Test- und Programmierprozeduren, die mit der CASCON GALAXY Software von GÖPEL electronic generiert wurden.

Integrationsbeispiel für Teradyne Testers 88xx/Spectrum/TSSE

Boundary Scan Integration in Teradyne Tester 88xx

Kombination aus Teradyne Testers 88xx/Spectrum/TSSE mit SCANFLEX Hardware

  • Controller SFX/PCI1149
  • TAP Transceiver SFX-TAP8/88x-PIC
  • TAP Interface Card TIC02/SR

und Software:

  • CASCON GALAXY 4.x Teradyne 88xx

TERADYNE Tester TestStation TS12x LH/LX und ehemaliger Genrad-Tester Serie 228x

Die JTAG-/Boundary-Scan-Hardwareplattform SCANFLEX unterstützt die Serie TestStation von In-Circuit Testern der Firma Teradyne.

Die Testerplattform der TS12x-Serie von TERADYNE unterstützt nun die unverfälschte Wiederverwendbarkeit aller JTAG/Boundary Scan Test- und Programmierprozeduren, die mit der CASCON GALAXY Software von GÖPEL electronic generiert wurden.

 

Integrationsbeispiel für Teradyne Testers GR228x/TSLH/TS12x/TS8x

Integrationsbeispiel für Teradyne Tester TestStation

Kombination aus Teradyne Testers GR228x/TSLH/TS12x/TS8x mit SCANFLEX Hardware

  • Controller SFX/PCI1149
  • TAP Transceiver SFX-TAP8/228x-PIC
  • TAP Interface Card TIC02/SR

und Software:

  • CASCON GALAXY 4.x Teradyne 228xx
GÖPEL electronic GmbH, Göschwitzer Straße 58/60, 07745 Jena
Tel. +49-3641-6896-0, Fax +49-3641-6896-944, www.goepel.com