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JTAG/Boundary Scan
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Integration

Erfolg durch interaktive Teamarbeit

Sie sind überzeugt von Ihrem In-Circuit-Tester (ICT) oder Flying Prober (FP) und testen damit jegliche Boards!

Aber Sie kommen an Ihre Grenzen - brauchen z.B. immer mehr Nadeln zum kontaktieren, aber wissen gar nicht wohin mit diesen?!

JTAG/Boundary Scan Integration

Dann ist es Zeit, Ihr System mit modernen Testverfahren und Technologien zu kombinieren. Die Methoden des In-Circuit-Tests, Flying Probers oder der Funktionstester sollen nicht verworfen werden - wir wollen darauf aufbauen und ergänzen!

Dabei sind in der Praxis neben den elektrischen Verfahren insbesondere die mit optischem Zugriff arbeitenden Methoden relevant. Da jedoch kein Verfahren alle denkbaren Anforderungen vereint, sind kombinierte Teststrategien auf Basis von Integrationen notwendig.

Dazu hat GÖPEL electronic bereits seit Anfang der Neunziger Jahre eine Reihe von Prinzipien und Technologien zur Integration eingeführt; zu nennen ist hier vor allem die Kombination von JTAG/Boundary Scan (BST; Boundary-Scan-Test) mit Teststrategien wie:

Eine Mischung aus verschiedenen Teststrategien ist die Konsequenz

Verbesserung BST+ICT BST+MDA BST+FPT BST+FCT BST+AOI
Fehlerabdeckung typisch hervorragend typisch typisch hervorragend
Fehlerdiagnose typisch typisch typisch hervorragend typisch
Testdurchsatz hervorragend typisch
Prozessschritte hervorragend typisch typisch typisch hervorragend
Systemfunktion hervorragend hervorragend hervorragend

Hervorragend Hervorragend Typisch Typisch

GÖPEL electronic GmbH, Göschwitzer Straße 58/60, 07745 Jena
Tel. +49-3641-6896-0, Fax +49-3641-6896-944, www.goepel.com