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JTAG/Boundary Scan
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JTAG/Boundary Scan Desktop Kompakt-Controller

Desktop Kompakt-Controller für USB2.0 & Gigabit Ethernet

SCANFLEX Multifunktionscontroller

Allgemeine Produktinformationen

  • kompatibel zu USB2.0 und Gigabit Ethernet
  • kompatibel zu IEEE1149.1, IEEE1149.4, IEEE1149.6, IEEE1149.7, IEEE1532, IEEEP1687,  JESD71 (STAPL), SVF (Serial Vector Format)
  • Kompakt Controller mit integrierten TAP Transceiver (TAP 4) und drei I/O Modulen
  • hochflexibles Frontend durch TAP Interface Card (TIC) und integrierte analoge / digitale Zusatzressourcen
  • vollständige Softwareunterstützung durch das JTAG/Boundary Scan Betriebssystem SYSTEM CASCON™
  • zukunftssichere Lösung durch die hochflexibel In-Field reprogrammierbare Systemhardware und Hardwarefunktion
  • modernste System- und Hardwarearchitektur, basierend auf speziell entwickelten Technologien (SPACE™, ADYCSII™, HYSCAN™, SPACE™, FASTSCALE™)
  • Cross-Kompatibilität von Testprogrammen und ISP Scripts zu allen anderen Boundary Scan Controllern von GÖPEL electronic
  • Einsatzfähig für Standard Boundary Scan Test, In-System-Programmierung (ISP) und In-System-Konfigurierung
  • Unterstützt Extended Boundary Scan Operationen in Kombination mit anderen Test und Programmierverfahren
  • automatische Erkennung des Transceiver Typ, der TAP-Anzahl und Konfiguration durch AutoDetect-Mechanismus
  • universell einsetzbare Lösung zur Konfiguration von Stand alone Benchtop Systemen für Labor und Produktion
  • Handliche Kompakteinheit mit TAP und PIO Kabeln

SFX/COMBO1149-A – JTAG/Boundary Scan Controller mit mittlerer Performance

Produkt-Features Target Applikationen auf Board- und Systemlevel
ADYCS™ (Active Delay Compensation) In-System-Konfiguration großer PLD/FPGA
HYSCAN™ (Hybrid Scan) In-System-Programmierung von Flash < 1Mbit
FASTSCALE™ (Fast Performance Scaling) On-Chip Flash Programmierung < 1Mbit
Scan Data Buffer (TDI/TDO Cache) Test von Einheiten bis mittlere Komplexität
Unterstützt 4 unabhängige TAP Steuerung komplexer Selbsttest (BIST)
TCK Frequenzbereich DC - 20 MHz statische Mixed Signal Test / Verifikationen
TCK Schrittweite 250Hz Gang Programmierung / Gang Test
Pro TAP programmierbare Parameter Spezielle Zusatzressourcen
Ausgangsspannung 1.8 – 4.5 V Dynamische 32 bit PIO mit progr. I/O Spannung
Eingangskomparator 0 – 3 V 2 analoge 10 bit I/O Kanäle
Ausgangs- und Eingangsimpedanz statische 3 bit PIO für Event-Handling
TDI Delay (ADYCS™ II) Triggerkanäle für externe Instrumente
Relais geschaltete Ausgangssignale 3 Slots für SCANFLEX® I/O Module
Hot Plug Feature incl. TAP Protection SFX/LS Interface für weitere I/O Module
4 TIC Slots (default: TIC01)

SFX/COMBO1149-B – JTAG/Boundary Scan Controller mit hoher Performance

Produkt-Features Target Applikationen auf Board- und Systemlevel
ADYCS™ (Active Delay Compensation) In-System-Konfiguration großer PLD/FPGA
HYSCAN™ (Hybrid Scan) High Speed ISP von Flash > 1Mbit
FASTSCALE™ (Fast Performance Scaling) On-Chip Flash Programmierung < 1Mbit
SPACE™ II Scanarchitektur Test von Einheiten mit höchster Komplexität
Unterstützt 4 unabhängige TAP Steuerung komplexer Selbsttest (BIST)
TCK Frequenzbereich DC - 50 MHz statische Mixed Signal Test / Verifikationen
TCK Schrittweite 250Hz / 1MHz Gang Programmierung / Gang Test
Pro TAP programmierbare Parameter Spezielle Zusatzressourcen
Ausgangsspannung 1.8 – 4.5 V Dynamische 32 bit PIO mit progr. I/O Spannung
Eingangskomparator 0 – 3 V 2 analoge 10 bit I/O Kanäle
Ausgangs- und Eingangsimpedanz statische 3 bit PIO für Event-Handling
TDI Delay (ADYCS™ II) Triggerkanäle für externe Instrumente
Relais geschaltete Ausgangssignale 3 Slots für SCANFLEX® I/O Module
Hot Plug Feature incl. TAP Protection SFX/LS Interface für weitere I/O Module
4 TIC Slots (default: TIC01)

SFX/COMBO1149-C – JTAG/Boundary Scan Controller mit ultra hoher Performance

Produkt-Features Target Applikationen auf Board- und Systemlevel
ADYCS™ (Active Delay Compensation) On-Chip Flash Programmierung < 1Mbit
HYSCAN™ (Hybrid Scan) System-In-Package (SIP) Test
FASTSCALE™ (Fast Performance Scaling) Steuerung komplexer Selbsttest (BIST)
SPACE™ II-S Scanarchitektur statische Mixed Signal Tests
Unterstützt 4 unabhängige TAP dynamische Funktionsverifikationen
TCK Frequenzbereich DC - 80 MHz Testung von Dies
TCK Schrittweite 250Hz / 1MHz Gang Programmierung / Gang Test
Pro TAP programmierbare Parameter Spezielle Zusatzressourcen
Ausgangsspannung 1.8 – 4.5 V Dynamische 32 bit PIO mit progr. I/O Spannung
Eingangskomparator 0 – 3 V 2 analoge 10 bit I/O Kanäle
Ausgangs- und Eingangsimpedanz statische 3 bit PIO für Event-Handling
TDI Delay (ADYCS™ II) Triggerkanäle für externe Instrumente
Relais geschaltete Ausgangssignale 3 Slots für SCANFLEX® I/O Module
Hot Plug Feature incl. TAP Protection SFX/LS Interface für weitere I/O Module
4 TIC Slots (default: TIC01)

Die Unterschiede auf einen Blick

Die Controller existieren in drei Leistungsklassen und sind per Software konfigurierbar.
Eigenschaft A-Controller B-Controller C-Controller
TCK (max.) 20 MHz 50 MHz 80 MHz
Vector Processing Data Buffering SPACE II SPACE II-S
GÖPEL electronic GmbH, Göschwitzer Straße 58/60, 07745 Jena
Tel. +49-3641-6896-0, Fax +49-3641-6896-944, www.goepel.com