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JTAG/Boundary Scan
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JTAG/Boundary Scan Controller PXI Express Bus Kompakt Version (Kopie 1)

SCANFLEX Controller für PXI Express Bus mit integriertem TAP Transceiver - Kompakt Version 2TAP(C2) or 4TAP(C4)

Controller für PXI Express Bus mit integriertem TAP Transceiver
  • Kompatibel zu PXI Express Hardware Spezifikation Revision 1.0, incl. PXI Express Trigger Bus und Local Bus Unterstützung
  • Integriertes PCI Express x1 Interface mit bis zu 264MB/s Datendurchsatz im zero wait state burst Mode
  • Kompatibel zu IEEE1149.1, IEEE1149.4, IEEE1149.6, IEEE1532, JESD71 (STAPL), SVF (Serial Vector Format)
  • Kompakt-Controller mit integriertem TAP Transceiver (2TAP/4TAP)
  • Hochflexibles Frontend durch On-Board TAP Interface Card (TIC), austauschbare Paddle Cards und integrierte analoge / digitale Zusatzressourcen
  • Kombinierbar mit sämtlichen verfügbaren SCANFLEX I/O-Modulen
  • Vollständige Softwareunterstützung durch die JTAG/Boundary Scan Software SYSTEM CASCON™
  • Zukunftssichere Lösung durch die hochflexibel In-Field reprogrammierbare Systemhardware
  • Cross-Kompatibilität von Testprogrammen und ISP Scripts zu allen anderen Boundary Scan Controllern von GÖPEL electronic
  • Einsatzfähig für Standard Boundary Scan Test
  • Unterstützt Extended Boundary Scan Operationen in Kombination mit anderen Test und Programmierverfahren
  • einfache Integration in PXI-Systeme auf Basis vorkonfektionierter Plug-Ins u.a. für LabView, LabWindows und TestStand
  • automatische Erkennung des Transceiver Typ, der TAP-Anzahl und Konfiguration durch AutoDetect-Mechanismus
  • Universell einsetzbare Lösung zur Konfiguration von Stand-alone Benchtop Systemen für Labor und Produktion
  • Handliche Kompakteinheit mit TAP und PIO Kabeln

 SFX/PXIe1149/Cx-A – JTAG/Boundary Scan Controller mit mittlerer performance

Produktfeature

  • ADYCS™ II (Active Delay Compensation)
  • HYSCAN™ (Hybrid Scan)
  • FASTSCALE™ (Fast Performance Scaling)
  • Scan Data Buffer (TDI/TDO Cache)
  • Unterstützt 2/4 parallele, unabhängige TAP
  • TCK Frequenzbereich 500 Hz - 20 MHz
  • UUT Hot Plug Feature inkl. TAP Protection

Target Applikationen auf Board- und Systemlevel

  • In-System-Configuration großer PLD/FPGA
  • In-System-Programmierung von Flash < 1Mbit
  • On Chip Flash Programmierung < 1Mbit
  • Test von Einheiten bis mittlere Komplexität
  • Steuerung komplexer Selbsttest (BIST)
  • Statische Mixed Signal Test / Verifikationen
  • Gang Programmierung / Gang Test

Pro TAP programmierbare Parameter

  • Output voltage 1.8 – 4.5 V
  • Input voltage 0 – 3 V
  • Input und Output Impedance
  • TDI Delay (ADYCS™ II)
  • Relais geschaltete Output line

Spezielle Zusatzressourcen

  • Dynamische 32 bit PIO mit programmierbarer I/O Spannung
  • 2 analoge 10 bit I/O Kanälestatische
  • statische 3 bit PIO für Event-Handling
  • Triggerkanäle für externe Instrumente
  • SFX/LS Interface für weitere I/O Module

 SFX/PXIe1149/Cx-B – JTAG/Boundary Scan Controller mit hoher performance

Produktfeatures

  • ADYCS™ II (Active Delay Compensation)
  • HYSCAN™ (Hybrid Scan)
  • FASTSCALE™ (Fast Performance Scaling)
  • SPACE™ II Scanarchitektur
  • Unterstütz 2/4 parallele, unabhängige TAP
  • TCK Frequenzbereich 500 Hz - 50 MHz
  • UUT Hot Plug Feature inkl. TAP Protection

Target Applikationen auf Board- und Systemlevel

  • In-System-Configuration großer PLD/FPGA
  • High Speed ISP von Flash > 1Mbit
  • On-Chip Flash Programmierung > 1Mbit
  • Test von Einheiten mit höchster Komplexität
  • Steuerung komplexer Selbsttests (BIST)
  • Statische Mixed Signal Tests / Verifikationen
  • Gang Programmierung / Gang Test

Pro TAP programmierbare Parameter

  • Output voltage 1.8 – 4.5 V
  • Input voltage 0 – 3 V
  • Input und Output Impedance
  • TDI Delay (ADYCS™ II)
  • Relais geschaltete Output line

Spezielle Zusatzressourcen

  • Dynamische 32 bit PIO mit programmierbarer I/O Spannung
  • 2 analoge 10 bit I/O Kanäle
  • Statische 3 bit PIO für Event-Handling
  • Triggerkanäle für externe Instrumente
  • SFX/LS Interface für weitere I/O Module

 SFX/PXIe1149/Cx-C – JTAG/Boundary Scan Controller mit ultra hoher performance

Produktfeatures

  • ADYCS™ II (Active Delay Compensation)
  • HYSCAN™ (Hybrid Scan)
  • FASTSCALE™ (Fast Performance Scaling)
  • SPACE™ II-S Scanarchitektur
  • Unterstützt 2/4 parallele, unabhängige TAP
  • TCK Frequenzbereich 500 Hz - 80 MHz
  • UUT Hot Plug Feature inkl. TAP Protection

Target Applikationen auf Board- und Systemlevel

  • On-Chip Flash Programmierung > 1Mbit
  • System-In-Package (SIP) Test
  • Steuerung komplexester Selbsttests (BIST)
  • Statische Mixed Signal Tests
  • dynamische Funktionsverifikationen
  • Testung von Dies
  • Gang Programmierung / Gang Test

Pro TAP programmierbare Parameter

  • Output voltage 1.8 – 4.5 V
  • Input voltage 0 – 3 V
  • Input und Output Impedance
  • TDI Delay (ADYCS™ II)
  • Relais geschaltete Output line

Spezielle Zusatzressourcen

  • Dynamische 32 bit PIO mit programmierbarer I/O Spannung
  • 2 analoge 10 bit I/O Kanäle
  • Statische 3 bit PIO für Event-Handling
  • Triggerkanäle für externe Instrumente
  • SFX/LS Interface für weitere I/O Module

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