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JTAG/Boundary Scan
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JTAG/Boundary Scan Controller PXI Bus Kompakt Version

SCANFLEX Controller für PXI Bus mit integriertem TAP Transceiver - Kompakt Version 2TAP(C2) or 4TAP(C4)

SCANFLEX Controller für PXI Bus mit integriertem TAP Transceiver
  • kompatibel zu PXI Standardspezifikation Revision 2.2
  • verfügt über Local Bus Interface und unterstützt den kompletten PXI Trigger Bus
  • kompatibel zu IEEE1149.1, IEEE1149.4, IEEE1149.6, IEEE1532, JESD71 (STAPL), SVF (Serial Vector Format)
  • Kompakt Controller mit integriertem TAP Transceiver (2TAP/4TAP)
  • hochflexibles Frontend durch On-Board TAP Interface Card (TIC), austauschbare Paddle Cards und integrierte analoge / digitale Zusatzressourcen
  • kombinierbar mit sämtlichen verfügbaren SCANFLEX I/O-Modulen
  • vollständige Softwareunterstützung durch das JTAG/Boundary Scan Betriebssystem SYSTEM CASCON™
  • zukunftssichere Lösung durch die hochflexibel In-Field reprogrammierbare Systemhardware und Hardwarefunktion
  • Cross-Kompatibilität von Testprogrammen und ISP Scripts zu allen anderen Boundary Scan Controllern von GÖPEL eletronic
  • Einsatzfähig für Standard Boundary Scan Test
  • Unterstützt Extended Boundary Scan Operationen in Kombination mit anderen Test und Programmierverfahren
  • einfache Integration in PXI Systeme auf Basis vorkonfektionierter Plug-Ins u.a. für LabView, LabWindows und TestStand
  • automatische Erkennung des Transceiver Typ, der TAP-Anzahl und Konfiguration durch AutoDetect-Mechanismus
  • universell einsetzbare Lösung zur Konfiguration von Stand alone Benchtop Systemen für Labor und Produktion
  • Handliche Kompakteinheit mit TAP und PIO Kabeln

SFX/PXI1149/Cx-A – JTAG/Boundary Scan Controller mit mittlerer Performance

Produkt-Features Target Applikationen auf Board- und Systemlevel
ADYCS™ (Active Delay Compensation) In-System-Konfiguration großer PLD/FPGA
HYSCAN™ (Hybrid Scan) In-System-Programmierung von Flash < 1Mbit
FASTSCALE™ (Fast Performance Scaling) On-Chip Flash Programmierung < 1Mbit
Scan Data Buffer (TDI/TDO Cache) Test von Einheiten bis mittlere Komplexität
Unterstützt 2/4 parallele, unabhängige TAP Steuerung komplexer Selbsttest (BIST)
TCK Frequenzbereich DC - 20 MHz statische Mixed Signal Test / Verifikationen
TCK Schrittweite 250Hz Gang Programmierung / Gang Test
Pro TAP programmierbare Parameter Spezielle Zusatzressourcen
Ausgangsspannung 1.8 – 4.5 V Dynamische 32 bit PIO mit progr. I/O Spannung
Eingangskomparator 0 – 3 V 2 analoge 10 bit I/O Kanäle
Ausgangs- und Eingangsimpedanz statische 3 bit PIO für Event-Handling
TDI Delay (ADYCS™ II) Triggerkanäle für externe Instrumente
Relais geschaltete Ausgangssignale SFX/LS Interface für weitere I/O Module
TCK Frequenzbereich DC - 80 MHz
Hot Plug Feature inkl. TAP Protection

SFX/PXI1149/Cx-B – JTAG/Boundary Scan Controller mit hoher Performance

Produkt-Features Target Applikationen auf Board- und Systemlevel
ADYCS™ (Active Delay Compensation) In-System-Konfiguration großer PLD/FPGA
HYSCAN™ (Hybrid Scan) High Speed ISP von Flash > 1Mbit
FASTSCALE™ (Fast Performance Scaling) On-Chip Flash Programmierung < 1Mbit
SPACE™ II Scanarchitektur Test von Einheiten mit höchster Komplexität
Unterstütz 2/4 parallele, unabhängige TAP Steuerung komplexer Selbsttest (BIST)
TCK Frequenzbereich DC - 50 MHz statische Mixed Signal Test / Verifikationen
TCK Schrittweite 250Hz / 1MHz Gang Programmierung / Gang Test
Pro TAP programmierbare Parameter Spezielle Zusatzressourcen
Ausgangsspannung 1.8 – 4.5 V Dynamische 32 bit PIO mit progr. I/O Spannung
Eingangskomparator 0 – 3 V 2 analoge 10 bit I/O Kanäle
Ausgangs- und Eingangsimpedanz statische 3 bit PIO für Event-Handling
TDI Delay (ADYCS™ II) Triggerkanäle für externe Instrumente
Relais geschaltete Ausgangssignale SFX/LS Interface für weitere I/O Module
TCK Frequenzbereich DC - 80 MHz
Hot Plug Feature inkl. TAP Protection

SFX/PXI1149/Cx-C – JTAG/Boundary Scan Controller mit ultra hoher Performance

Produkt-Features Target Applikationen auf Board- und Systemlevel
ADYCS™ (Active Delay Compensation) On-Chip Flash Programmierung < 1Mbit
HYSCAN™ (Hybrid Scan) System-In-Package (SIP) Test
FASTSCALE™ (Fast Performance Scaling) Steuerung komplexer Selbsttest (BIST)
SPACE™ II-S Scanarchitektur statische Mixed Signal Tests
Unterstützt 2/4 parallele, unabhängige TAP dynamische Funktionsverifikationen
TCK Frequenzbereich DC - 80 MHz Testung von Dies
TCK Schrittweite 250Hz / 1MHz Gang Programmierung / Gang Test
Pro TAP programmierbare Parameter Spezielle Zusatzressourcen
Ausgangsspannung 1.8 – 4.5 V Dynamische 32 bit PIO mit progr. I/O Spannung
Eingangskomparator 0 – 3 V 2 analoge 10 bit I/O Kanäle
Ausgangs- und Eingangsimpedanz statische 3 bit PIO für Event-Handling
TDI Delay (ADYCS™ II) Triggerkanäle für externe Instrumente
Relais geschaltete Ausgangssignale SFX/LS Interface für weitere I/O Module
TCK Frequenzbereich DC - 80 MHz
Hot Plug Feature inkl. TAP Protection

Controller

Die Controller existieren in drei Leistungsklassen und sind per Software konfigurierbar.

Eigenschaft A-Controller B-Controller C-Controller
TCK (max.) 20 MHz 50 MHz 80 MHz
Vector Processing Data Buffering SPACE II SPACE II-S
GÖPEL electronic GmbH, Göschwitzer Straße 58/60, 07745 Jena
Tel. +49-3641-6896-0, Fax +49-3641-6896-944, www.goepel.com