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JTAG/Boundary Scan
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JTAG/Boundary Scan Controller PCI Express Bus

SCANFLEX Controller für PCI Express Bus

SCANFLEX Controller für PCI Express Bus
  • Kompatibel zu PCI Express Standardspezifikation Revision 1.0a
  • Integriertes x1 Interface mit 264MB/s Datendurchsatz im zero wait state burst Mode
  • Kompatibel zu IEEE1149.1, IEEE1149.4, IEEE1149.6, IEEE1532, JESD71 (STAPL), SVF (Serial Vector Format)
  • Kombinierbar mit sämtlichen verfügbaren SCANFLEX® – Komponenten (SCANFLEX® TAP-Transceiver, SCANFLEX® I/O-Module)
  • Vollständige Softwareunterstützung durch das JTAG/Boundary Scan Betriebssystem SYSTEM CASCON™
  • Zukunftssichere Lösung durch die hochflexibel In-Field reprogrammierbare Systemhardware
  • Modernste Systemarchitektur, basierend auf speziell entwickelten Technologien (SPACE™, ADYCS™, HYSCAN™, FASTSCALE™)
  • Cross-Kompatibilität von Testprogrammen und ISP Scripts zu allen anderen Boundary Scan Controllern von GÖPEL eletronic
  • Einsatzfähig für Standard Boundary Scan Test, In-System-Programmierung (ISP) und In-System-Configurierung (ISC)
  • Unterstützt Extended Boundary Scan Operationen in Kombination mit anderen Test und Programmierverfahren
  • Einfache Integration in Third Party ATE (Flying Prober, ICT, MDA, Funktionstester…) als Boundary Scan Option
  • Universell einsetzbare Lösung für Labor und Produktion

SFX/PCeI1149-A – JTAG/Boundary Scan Controller mit mittlerer performance

Produkt-Features
Target Applikationen auf Board- und Systemlevel
ADYCS™ II (Active Delay Compensation)
In-System-Configuration großer PLD/FPGA
HYSCAN™ (Hybrid Scan) In-System-Programmierung von Flash < 1Mbit
FASTSCALE™ (Fast Performance Scaling) On-Chip Flash Programmierung < 1Mbit
Scan Data Buffer (TDI/TDO Cache) Test von Einheiten bis mittlere Komplexität
Unterstützt 8 parallele, unabhängige TAP
Steuerung komplexer Selbsttest (BIST)
TCK Frequenzbereich DC - 20 MHz
statische Mixed Signal Test / Verifikationen
TCK Schrittweite 250 Hz Gang Programmierung / Gang Test

SFX/PCIe1149-B – JTAG/Boundary Scan Controller mit hoher performance

Produkt-Features
Target Applikationen auf Board- und Systemlevel
ADYCS™ II (Active Delay Compensation)
In-System-Configuration großer PLD/FPGA
HYSCAN™ (Hybrid Scan) High Speed ISP von Flash > 1Mbit
FASTSCALE™ (Fast Performance Scaling) On-Chip Flash Programmierung < 1Mbit
SPACE™ II Scanarchitektur Test von Einheiten bis höchster Komplexität
Unterstützt 8 parallele, unabhängige TAP
Steuerung komplexer Selbsttest (BIST)
TCK Frequenzbereich DC - 50 MHz
statische Mixed Signal Test / Verifikationen
TCK Schrittweite 250 Hz / 1MHz Gang Programmierung / Gang Test

SFX/PCIe1149-C – JTAG/Boundary Scan Controller mit ultra hoher performance

Produkt-Features
Target Applikationen auf Board- und Systemlevel
ADYCS™ II (Active Delay Compensation)
On-Chip Flash Programmierung < 1Mbit
HYSCAN™ (Hybrid Scan) System-In-Package-Test (SIP)
FASTSCALE™ (Fast Performance Scaling) Steuerung komplexer Selbsttest (BIST)
SPACE™ II-S Scanarchitektur statische Mixed Signal Test / Verifikationen
Unterstützt 8 parallele, unabhängige TAP
dynamische Funktionsverifikationen
TCK Frequenzbereich DC - 80 MHz
Testung von Dies
TCK Schrittweite 250 Hz / 1MHz Gang Programmierung / Gang Test

Controller

Die Controller existieren in drei Leistungsklassen und sind per Software konfigurierbar.

Eigenschaft A-Controller B-Controller C-Controller
TCK (max.) 20 MHz 50 MHz 80 MHz
Vector Processing Data Buffering SPACE II SPACE II-S
GÖPEL electronic GmbH, Göschwitzer Straße 58/60, 07745 Jena
Tel. +49-3641-6896-0, Fax +49-3641-6896-944, www.goepel.com