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JTAG/Boundary Scan

IEEE 1149.1 Tutorial Teil 9

IEEE Std 1149.1 (Boundary Scan) Tutorial - Teil 9

Die Vielzahl der Anwendungsmöglichkeiten

An dieser Stelle wollen wir noch eine Übersicht der verschiedenen Anwendungsmöglichkeiten geben.

Die klassische Variante des Boundary Scan ist der Board- Test. Hierbei müssen zwei grundsätzliche Strukturen unterschieden werden. Das angestrebte Ziel sollte ein Board sein, das nur scanfähige Bauelemente besitzt. Doch auch die zweite Art ist sehr nützlich. Schon wenn ein Schaltkreis des Boards scanfähig ist, macht das Sinn. Erhebliche Kostenersparnisse in der Kombination mit dem In-Circuit-Test können bei der Adaptierung erzielt werden. Auch die Ver-bindung mit dem Funktionstest ist zu empfehlen, da eine bedeutend höhere Fehlerabdeckung erreicht werden kann.
Boundary Scan beschränkt sich nicht auf das Board. Kein anderes Testverfahren bietet bessere Möglichkeiten für den hierarchischen Test. So kann Boundary Scan sowohl auf Bauelemente als auch auf Board- und Systemebene angewendet werden. Sogar der Einsatz und die Nutzung von Ferndiagnose sind möglich.

Anwendungsbeispiele für JTAG/Boundary Scan basierte Tests
Anwendungsbeispiele für JTAG/Boundary Scan basierte Tests

Doch nicht nur das Testen wird durch Boundary Scan erleichtert oder erst möglich. Selbst Aufgaben, die nichts mit dem Testen zu tun haben, können durch ihn vereinfacht werden. So ist z.B. die Programmierung von Flash Speicher, welche auf dem Board eingelötet sind, kaum besser beherrschbar als durch Boundary Scan. Außerdem können damit Interface-Schaltungen aufgebaut werden, welche den Testbus als Kommunikationsebene nutzen und Funktionen wie z.B. D/A-Wandler bedienen. Das Interface besteht dann nur aus einem scanfähigen Schaltkreis.

Heutige Systeme gehen sogar noch einen Schritt weiter und ermöglichen die Anwendung funktionaler Ressourcen, z.B. von Microcontrollern. Damit lassen sich unter anderem On-Chip Speicher und extern angeschlossene Speicher at-speed prüfen und programmieren und man bekommt Zugriff auf Schnittstellen, die mit dem klassischen Boundary Scan nicht testbar sind, z.B. USB, Ethernet. FPGAs lassen sich heutzutage mit Testinstrumenten laden, die weitere Testaufgaben übernehmen können, wie zum Beispiel Frequenzmessungen oder auch Bit-Error-Rate Tests.

Eine ausführliche Einführung in die Boundary Scan Technologie und deren praktische Anwendung erhalten sie z.B. in unseren Boundary Scan Seminaren.

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