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JTAG/Boundary Scan

Teil 5

IEEE Std 1149.1 (Boundary Scan) Tutorial - Teil 5

IEEE 1149.1 Architektur - die Instruktionen

Der Standard IEEE 1149.1 definiert die folgenden Standardinstruktionen:

BYPASS
Die BYPASS-Instruktion schaltet das Bypass Register in den TDI/TDO-Pfad. Der Schaltkreis befindet sich im Betriebsmodus. Der Halte-Bereich des Instruktionsregisters enthält die BYPASS Instruktion, sofern nicht das optionale Identifikationsregister implementiert ist. In diesem Fall enthält der Halte-Bereich die IDCODE Instruktion.

EXTEST
Die EXTEST-Instruktion erlaubt die Ausführung von Verbindungstests, bei denen die Verbindungen zwischen dem Output eines Schaltkreises und dem Input eines anderen überprüft werden. Das Boundary Scan Register wird in den TDI/TDO-Pfad geschaltet.

SAMPLE/ PRELOAD
Diese Funktion dient dem Sampling des externen Signalverhaltens an den Inputpins. Obwohl das Boundary Scan Register in den TDI/TDO-Pfad geschaltet wird, bleibt der Schaltkreis im Betriebsmodus. Die Funktion erlaubt eine Momentaufnahme des Datenflusses von den Pins zur internen Logik an den Inputzellen. Die Daten werden in das Boundary Scan Register geladen (Sample) und bekannte Datenpattern werden in die Outputzellen für folgende Operationen geladen (Preload).

Darüber hinaus werden verschiedene optionale Instruktionen definiert. Darunter befinden sich zum Beispiel:

CLAMP
Die CLAMP-Instruktion schaltet das Bypass Register in den TDI/TDO-Pfad. Gleichzeitig werden vorher mit EXTEST definierte Werte auf den Ausgängen des Schaltkreises getrieben. Die Funktion wird u.a. verwendet, um Sicherheitspegel zur Vermeidung von Buskonflikten zu setzen.

HIGHZ
Die HIGHZ-Instruktion schaltet das Bypass Register in den TDI/TDO-Pfad. Sie hat prinzipiell die gleiche Funktion wie CLAMP, hält jedoch die Ausgangspins des Schaltkreises in hochohmigem Zustand.

IDCODE
Die IDCODE-Instruktion schaltet das optionale Identifikationsregister in den TDI/TDO-Pfad. Der ID-Code wird geladen und über TDO herausgeschoben. Der Schaltkreis befindet sich im Betriebsmodus.

INTEST
In Vorbereitung des Tests der internen Logik wird das Boundary Scan Register in den TDI/TDO-Pfad geschaltet. Die Scanzellen werden von den Input- und Outputpins getrennt.

RUNBIST
Die RUNBIST-Instruktion ruft ein schaltkreisinternes Testprogramm auf (Built-In Self-Test).

Zusätzlich zu diesen Instruktionen können herstellerspezifische Instruktionen definiert werden (z.B. CELLTST oder TRIBYP für die Scope Produktfamilie von Texas Instruments).

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