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JTAG/Boundary Scan

Teil 4

IEEE Std 1149.1 (Boundary Scan) Tutorial - Teil 4

IEEE 1149.1 Architektur - die Register

1. Datenregister

Der Standard IEEE 1149.1 definiert zwei notwendige und mehrere optionale Datenregister.

Durch Verkettung der Boundary Scan Zellen entsteht ein Schieberegister, das Boundary Scan Register. Die Reihenfolge der Scanzellen im Register wird durch den physikalischen Zugang und/oder das Layout bestimmt. Dieses Register dient dem Testen der Verbindungen zwischen den Schaltkreisen und für den Test der internen Logik. Testvektoren werden seriell durch die Boundary Scan Zellen geschoben. Das Register wird mit der EXTEST, SAMPLE/PRELOAD oder INTEST Instruktion in den TDI/TDO-Pfad geschaltet.

Das Bypass Register ist das zweite vorgeschriebne Datenregister. Es dient der Optimierung des Schiebeprozesses, indem die Verbindung zwischen TDI und TDO auf ein Bit reduziert wird, wenn kein anderes Datenregister des Schaltkreises genutzt wird. Das Register wird mit der BYPASS Instruktion in den TDI/TDO-Pfad geschaltet.

Das Identifikationsregister ist ein optionales Datenregister. Es ist 32 Bit breit und dient der Identifikation des Schaltkreises. Das Register hat folgende Struktur:

  • Bit 0 (LSB) ist immer 1
  • Bits 1 bis 11 identifizieren den Hersteller gemäß JEDEC Identifikationscode
  • Bits 12 bis 27 enthalten eine 16 Bit Bauelementenummer
  • Bits 28 bis 31 dienen der Identifikation des Bauelementetyps

Das Identifikationsregister wird mit der Instruktion IDCODE in den TDI/TDO-Pfad geschaltet.

2. Instruktionsregister

Mit dem Instruktionsregister lädt der Anwender eine Instruktion in einen Boundary-Scan-IC, der daraufhin ein ganz bestimmtes Datenregister, je nach Testaufgabe, in den Scanpfad schaltet.

Das Register ist mindestens 2 Bit lang und wird weiterhin auch für Debugzwecke verwendet. Typische Instruktionen finden Sie auf der nächsten Seite.

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