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JTAG/Boundary Scan
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IEEE 1149.1 Tutorial

IEEE 1149.1 Standard - ein Tutorial zum Boundary Scan Testverfahren

Heutige Baugruppe

Obwohl bereits 1990 als Standard verabschiedet, ist diese Technologie für viele Ingenieure noch neu. Dieses Tutorial gibt eine Einführung in die Architektur, beschrieben im Standard IEEE 1149.1, ihre Funktionsweise sowie Einsatzmöglichkeiten.

Inhaltsverzeichnis

Opens internal link in current windowTeil 1: Test bestückter Leiterplatten

Opens internal link in current windowTeil 2: Die Entwicklung eines Testverfahrens

Opens internal link in current windowTeil 3: IEEE 1149.1 Architektur - die Scanzellen

Opens internal link in current windowTeil 4: IEEE 1149.1 Architektur - die Register

Opens internal link in current windowTeil 5: IEEE 1149.1 Architektur - die Instruktionen

Opens internal link in current windowTeil 6: IEEE 1149.1 Architektur - der Test Access Port

Opens internal link in current windowTeil 7: Testbusverbindung auf Boardebene

Opens internal link in current windowTeil 8: Die Werkzeuge

Opens internal link in current windowTeil 9: Die Vielzahl der Anwendungsmöglichkeiten

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