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JTAG/Boundary Scan
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Infineon Technologies AG

Mit den Technologien von GÖPEL electronic Bauteile des Unternehmens Infineon testen und programmieren.

Infineon Technologies hat sich drei zentralen Herausforderungen gestellt: Energieeffizienz, Mobilität und Sicherheit. Unter diesen Aspekten entwickelt Infineon Halbleiter und Systemlösungen für die Automotive- und Industrieelektronik und Chipkarten.

GÖPEL electronic unterstützt dabei das DAP-Interface.

GÖPEL electronic unterstützt folgende Mikrocontroller

zum Boundary-Scan-Test (IEEE 1149.x), für den Processor Emulation Test (VarioTAP) und zum Core Assisted Programming (VarioTAP)
32-Bit Industrial Microcontroller based on ARM® Cortex®-M TriCore-Familie 16-bit C166 Microcontroller XC2000-Familie
XMC4000 ARM® Cortex®-M4 AURIX™ XE166 Family
AUDO Family XC2000 Family
TriCore™ XC166 Family
C166 Family
BauteilanfrageBitte kontaktieren Sie uns direkt über das Formular um detailierte Informationen zur Unterstützung Ihres spezifischen Bausteins zu erhalten.

GÖPEL electronic unterstützt folgende Automotive Embedded Power ICs (System-on-Chip)

zur universellen Prozessoremulation sowie zum Interconnection-Test
TLE987x Family

Boundary Scan Test mit ...

SCANFLEX HARDWARE

SCANFLEX, einer einheitlichen Hardware-Plattform zur breiten praktischen Umsetzung der heutigen und der zukünftigen IEEE-Standards. Applikationen zum Test und zur In-System Programmierung profitieren von SCANFLEX.

Die SCANFLEX-Controller und -Transceiver lassen sich optimal in Third Party Flying Prober, ICTs, MDAs oder Funktionstester integrieren und ermöglichen so eine hohe Testabdeckung.

Die Softwareansteuerung der SCANFLEX-Hardware erfolgt mit SYSTEM CASCON - die JTAG/Boundary Scan Software mit vollständiger Unterstützung aller Features.

» mehr Details

Boards testen und Programmieren mit ...

VarioTAP Emulationstechnologie

... der VarioTAP-Technologie, die den Ansatz verfolgt, parallel zu den traditionellen Boundary Scan Strukturen einen, per JTAG-Port, fernsteuerbaren, Testcontroller direkt im Schaltungs-Zentrum der Unit Under Test (UUT) zu etablieren, um verschiedenste Funktionstests durchzuführen.

Dieser virtuelle Testcontroller kann dynamische Funktionstestfolgen sowohl stand-alone als auch in echter Interaktion (Interlaced) zu den Boundary Scan Zellen als quasi virtuelle strukturelle Testpunkte (Nadeln) erzeugen.

Auf dieser Basis sind u.a. verschiedenen Prozeduren möglich:

  • strukturelle Tests
  • funktionale Tests (z.B. At-Speed-Test für nicht scanfähige Komponenten
  • diagnostische Tests
  • kundenspezifische Applikationen
  • Boundary Scan Testoperationen parallel zu Emulationstests (Interlaced JTAG/Boundary Scan)
  • On-Chip Flash Programmierung mit höchster Geschwindigkeit
  • Programmierung von extern an den µP angeschlossenen Flash mit höchster Geschwindigkeit
» mehr Details
Boundary Scan  Support - GÖPEL electronic GmbH

Support

in Jena

Tel.: 03641-6896-699

Fax: 03641-6896-945

 

GÖPEL electronic GmbH, Göschwitzer Straße 58/60, 07745 Jena
Tel. +49-3641-6896-0, Fax +49-3641-6896-944, www.goepel.com