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JTAG/Boundary Scan

Strukturtest - Verbindungen zwischen den Schaltungselementen testen

Zielapplikation: Strukturtest

Schwerpunktmäßiger Applikationsinhalt eines Strukturtests ist der Test der korrekten Verbindungen zwischen den Schaltungselementen wie zum Beispiel von BGA-Anschlüssen, Steckverbindern, etc.

In der folgenden Übersicht finden Sie weitere Beispiele für Testapplikationen zum Strukturtest. Was genau beim jeweiligen Test abgedeckt wird, welche Hardware bzw. welche Technologie von GÖPEL electronic sich dafür eignet erfahren Sie ebenfalls in den Tabellen:

Infrastrukturtest

Infrastrukturtest
realisierbar mit Boundary Scan

Testabdeckung

  • JTAG-Scanpfad-Verbindungen
  • TAP-Funktion
  • IEEE-1149.x-Register
  • BSDL-Verifikationen
Geschwindigkeit Controller benötigte I/O Module Software Tool
PicoTAP SCANBOOSTER SCANFLEX
statisch oder At-speed* einsetzbar einsetzbar einsetzbar ATPG Infrastucture
PFD Infrastructure
* Controller abhängig

Verbindungstest

Verbindungstest
realisierbar mit Boundary Scan

Testabdeckung

  • Verbindungen (1149.1)
  • AC-Verbindungen (1149.6)
  • LVDS-Verbindungen (1149.1/1149.6)
  • In-Line Buffer/Widerstände
  • (Terminierungen)
Geschwindigkeit Controller benötige I/O Module Software Tool
PicoTAP SCANBOOSTER SCANFLEX
statisch (1149.1)
At-speed (1149.6)
einsetzbar einsetzbar einsetzbar ATPG Intercon (1149.1)
ATPG Intercon (1149.6)
PFD Intercon

I/O-Verbindungstest

I/O Verbindungstest
realisierbar mit Boundary Scan

Testabdeckung

  • Verbindungen (1149.1)
  • AC-Verbindungen (1149.6)
  • LVDS-Verbindungen (1149.1/1149.6)
  • Steckverbinder, Kabel, Backplanes
Geschwindigkeit Controller benötige I/O Module Software Tool
PicoTAP SCANBOOSTER SCANFLEX
statisch (1149.1)
At-speed (1149.6)
einsetzbar einsetzbar einsetzbar CION Module
PXI Module
SCANFLEX
ICT-Kanal
FCT-Kanal
ATPG Intercon (1149.1)
ATPG Intercon (1149.6)
PFD Intercon

Boundary-Scan/Flying-Probe-Test

Boundary-Scan-/Flying-Probe-Test
realisierbar mit Boundary Scan

Testabdeckung

  • Boundary-Scan-Pins (1149.1)
  • Verbindungen (1149.1)
  • Cluster-Strukturen (Login/Logout)
  • Steckverbinder
Geschwindigkeit Controller benötige I/O Module Software Tool
PicoTAP SCANBOOSTER SCANFLEX
statisch einsetzbar (SCANFLEX)
Flying Prober
ATPG Flying Probe
PFD Flying Probe

RAM-Zugriff

RAM-Zugriff
realisierbar mit Boundary Scan

Testabdeckung

  • sRAM-Verbindungen
  • dRAM-Verbindungen
  • DDR(X) SDRAM-Verbindungen
    (Empfehlung: At-speed-Test per VarioTAP oder ChipVORX)
  • In-Line Buffer/Bus Switcher
Geschwindigkeit Controller benötige I/O Module Software Tool
PicoTAP SCANBOOSTER SCANFLEX
statisch einsetzbar einsetzbar einsetzbar ATPG Memory Access
PFD Memory Access

Logik-Cluster-Test

Logikclustertest
realisierbar mit Boundary Scan

Testabdeckung

  • Verbindungen zur Logik
  • Logische Funktion (AND, OR…)
  • Verbindungen zwischen Logik IC
  • In-Line Buffer
Geschwindigkeit Controller benötige I/O Module Software Tool
PicoTAP SCANBOOSTER SCANFLEX
statisch einsetzbar einsetzbar einsetzbar ATPG Logic Components
PFD Logic Components

Bauelement I/O Test

Bauelemente-I/O-Test
realisierbar mit Boundary Scan

Testabdeckung

  • Verbindungen zur Baugruppe
  • Aktoren, Sensoren
  • Schalter, LED, Displays
  • Aktive Bauelemente
Geschwindigkeit Controller benötige I/O Module Software Tool
PicoTAP SCANBOOSTER SCANFLEX
statisch einsetzbar einsetzbar einsetzbar ATPG Device Model
Universal Pin Failure Detection (UPFD)

Analog-I/O-Test

Analog-I/O-Test
realisierbar mit Boundary Scan

Testabdeckung

  • Verbindungen zum Businterface
  • Analog-Verbindungen
  • ADC, DAC, Mixed Signal
  • Steckverbinder, Kabel, Backplanes
Geschwindigkeit Controller benötige I/O Module Software Tool
PicoTAP SCANBOOSTER SCANFLEX
statisch einsetzbar einsetzbar einsetzbar CION Module
SCANFLEX
ICT/FPT/FCT
ATPG Device Model
Script Editor/Generator
Universal PFD

Stromloser Open/Short-Test

Stromloser Open/Short-Test
realisierbar mit Boundary Scan

Testabdeckung

  • Digitale/analoge Verbindungen
  • AC-Verbindungen
  • Steckverbinder
  • In-Line Widerstände
Geschwindigkeit Controller benötige I/O Module Software Tool
PicoTAP SCANBOOSTER SCANFLEX
statisch
Power: nein
einsetzbar
(TIC02/Powerless Measurement Unit - PMU)
ATPG unpowered Opens/Shorts Test

Eingebauter Selbsttest (Built-in-self-test)

Eingebauter Selbsttest (Built-in-self-test)
realisierbar mit Chip-embedded Instruments

Testabdeckung

  • On-chip Memory
  • On-chip Logik
  • On-chip PLL
  • On-board Strukturen per FPGA IP
  • IEEEP1687 BIST/BIT Instruments (BIT: Built-In Test/BIST: Built-In Self Test)
Geschwindigkeit Controller benötige I/O Module Software Tool
PicoTAP SCANBOOSTER SCANFLEX
At-speed bedingt einsetzbar bedingt einsetzbar einsetzbar Script Editor/Generator
ChipVORX IP für FPGA
bedingt einsetzbar bedingt einsetzbar

einsetzbar einsetzbar

FPGA-assisted RAM-Access-Test

FPGA-assisted RAM-Access-Test
realisierbar mit Chip-embedded Instruments

Testabdeckung

  • SRAM-Verbindungen
  • DRAM-Verbindungen
  • DDR(X) SDRAM-Verbindungen
  • In-Line Buffer
Geschwindigkeit Controller benötige I/O Module Software Tool
PicoTAP SCANBOOSTER SCANFLEX
At-speed einsetzbar ATPG Memory Access
PFD Memory Access
ChipVORX IP für FPGA

FPGA-assisted Bitfehlerratentest

FPGA-assisted Bitfehlerratentest
realisierbar mit Chip-embedded Instruments

Testabdeckung

  • High-Speed LVDS-Verbindungen
  • GBit-Verbindungen
  • AC-Verbindungen
  • Steckverbinder (Loop back)
  • Terminierungen
Geschwindigkeit Controller benötige I/O Module Software Tool
PicoTAP SCANBOOSTER SCANFLEX
High-speed einsetzbar Script Editor/Generator
ChipVORX IP für FPGA

Universelle Frequenzmessung

Universelle Frequenzmessung
realisierbar mit Chip-embedded Instruments

Testabdeckung

  • Takt-Leitungen
  • Takt-Generatoren
  • Wechselstromverbindungen
  • Terminierungen
  • Frequenzen / Impulse
Geschwindigkeit Controller benötige I/O Module Software Tool
PicoTAP SCANBOOSTER SCANFLEX
bis 200 Mhz einsetzbar Script Editor/Generator
ChipVORX IP für FPGA

ATPG: Automated Test Program Generator
PFD: Pin Failure Diagnostics
Geschwindigkeiten: Highspeed > at-speed > statisch

GÖPEL electronic GmbH, Göschwitzer Straße 58/60, 07745 Jena
Tel. +49-3641-6896-0, Fax +49-3641-6896-944, www.goepel.com