Sprache wählen
JTAG/Boundary Scan
Home > JTAG/Boundary Scan > Applikation > Applikationsarten > Funktion / Emulation

Funktionstest, Emulationstest

Zielapplikation: Funktionstest/Emulationstest

Schwerpunktmäßiger Applikationsinhalt des Funktionstests ist der Test der korrekten Funktion von ICs, Clustern, Boards, Interfaces und Units.

Beim Emulationstest wird der Test durch einen Mikroprozessor per Emulation ausgeführt. Der Emulationstest stellt eine Spezialform des Funktionstests dar.

In der folgenden Übersicht finden Sie weitere Beispiele für Testapplikationen zum Emulationstest. Was Sie genau erreichen können mit diesen Tests, welche Hardware bzw. welche Technologie von GÖPEL electronic sich dafür eignet, erfahren Sie ebenfalls in den Tabellen.

Interner Chiptest

Interner Chiptest
realisierbar mit Boundary Scan

Testabdeckung

  • Verbindungen zur Kernlogik
  • Kern-Funktionen
Geschwindigkeit Controller benötige I/O Module Software Tool
PicoTAP SCANBOOSTER SCANFLEX
statisch einsetzbar einsetzbar einsetzbar SVF Compiler

Clustertest

Clustertest
realisierbar mit Boundary Scan

Testabdeckung

  • Verbindungen zum Cluster
  • Clusterfunktionen
  • Verbindungen innerhalb des Clusters
Geschwindigkeit Controller benötige I/O Module Software Tool
PicoTAP SCANBOOSTER SCANFLEX
statisch einsetzbar einsetzbar einsetzbar ATPG Cluster-Waveform
ATPG/PFD Cluster Truth Table (TT)

Board-I/O-Test

Board-I/O-Test
realisierbar mit Boundary Scan

Testabdeckung

  • Steckverbinder
  • periphere I/Os
  • Boardfunktionen
  • Verbindungen innerhalb des Boards
  • simulierte Funktionen per DTIF (Digital Test Interchange Format, IEEE 1445)
Geschwindigkeit Controller benötige I/O Module Software Tool
PicoTAP SCANBOOSTER SCANFLEX
statisch,
At-speed mit PXI- oder SCANFLEX-I/O-Modul
einsetzbar einsetzbar einsetzbar CION Module
PXI Module
SCANFLEX
ATPG/PFD DTIF
ATPG/PFD Cluster Truth Table (TT)
ATPG Cluster Waveform

Core-assisted RAM-Access-Test

Core-assisted RAM-Access-Test
realisierbar mit Processor Emulation Test

Testabdeckung

  • SRAM-Verbindungen
  • DRAM-Verbindungen
  • DDR/SDRAM-Verbindungen
  • Inline-Buffer
Geschwindigkeit Controller benötige I/O Module Software Tool
PicoTAP SCANBOOSTER SCANFLEX
At-speed einsetzbar AVTG Memory Access
PFD Memory Access
VarioTAP IP für μP

Core-assisted Systembus-Test

Core-assisted Systembus-Test
realisierbar mit Processor Emulation Test

Testabdeckung

  • Busverbindungen
  • Schreib- und Lesefunktionen
  • Bus-Device-Funktionen
  • Board- und System-Funktionen
  • Schalter, LEDs, Displays
Geschwindigkeit Controller benötige I/O Module Software Tool
PicoTAP SCANBOOSTER SCANFLEX
At-speed einsetzbar AVTG Bus Devices
PFD Cluster Truth Table
VarioTAP IP für μP

Core-assisted I/O-Test

Core-assisted I/O-Test
realisierbar mit Processor Emulation Test

Testabdeckung

  • analoge und digitale I/Os
  • Kommunikationsbus-Interface
  • Aktoren, Sensoren
  • Systembus-Interface
Geschwindigkeit Controller benötige I/O Module Software Tool
PicoTAP SCANBOOSTER SCANFLEX
At-speed oder Real-Time einsetzbar CION Module
PXI Module
SCANFLEX
BAC-Module
ICT/FPT/FCT
AVTG Bus Device
Basic VarioTAP Test Generator
VarioTAP IP für μP

AVTG: Automated VarioTAP Test Generator
ATPG: Automated Test Program Generator
ICT: In-Circuit-Tester
FPT: Flying-Probe-Tester
FCT: Funktionstester (Functional Tester)
Geschwindigkeiten: Echtzeit > at-speed > statisch

GÖPEL electronic GmbH, Göschwitzer Straße 58/60, 07745 Jena
Tel. +49-3641-6896-0, Fax +49-3641-6896-944, www.goepel.com