Embedded System Access - Testzugriff in neuen Dimensionen
Der Wandel zum mehrdimensionalen Zugriff begann schon Ende der 90er Jahre. Die derzeitige Ära des Embedded System Access (ESA) wird weiter die "alten" Testverfahren, In-Circuit Test (ICT) und Flying Probe (FPT) übernehmen aber auf längere Zeit gesehen zunehmend ablösen. Bei modernen System-Baugruppen mit Ball Grid Array (BGA) und Chip Size Packaging (CSP) ist die Strategie der Nadelkontaktierung kaum mehr anwendbar.
Embedded System Access ist mehr als nur JTAG, es vereint verschiedene Technologien mit verschiedenen Zugriffsmechanismen.
Mit dem Boundary-Scan-Standard IEEE 1149.1 wurde schon 1990 der Grundstein für den eingebetteten Zugriff auf das System (Embedded System Access-ESA) gelegt. Boundary Scan (BST) ersetzt den mechanischen Zugriff durch einen elektrischen Zugriff, der direkt in der Schaltung testet.
Embedded System Access-Technologien und ihre Features
| Feature | ||||
| Testart | strukturell | funktional | offen* | funktional |
| Testgeschwindigkeit | statisch | dynamisch | offen* | Echtzeit |
| Zugriff über | Boundary-Scan-Schaltkreis | Prozessor | iJTAG-Schaltkreis | Prozessor |
| Fehlerabdeckung | statisch | dynamisch | offen* | dynamisch |
| Diagnoselevel | Pin | Netz/Pin | offen* | Schaltkreis/Netz |
| Zugehöriger IEEE Standard | 1149.x | 1149.7 ISTO 5001 |
P1687 | - |
* abhängig von der Implementierung